专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]检测夹具-CN201410610447.0有效
  • 太田宪宏;时政光伸;广部幸祐;津村耕平 - 日本电产理德股份有限公司
  • 2014-11-03 - 2019-02-22 - G01R1/04
  • 本发明提供能提高与基板相接触的接触端子的位置决定精密度的检测夹具。检测夹具包括:框架;电极体,具有电极;导电性接触端子,具有导线形状;支撑块,具有对向配置被检测基板的对向面,将接触端子的一端引导至在对向面上载置的被检测基板的检测点,另一端引导至电极,且沿与对向面交叉的移动方向,对于框架能相对移动;加压部,使支撑块远离电极体,且沿朝向被检测基板的方向进行加压;限制板片,从支撑块沿朝向框架的延伸设置方向延伸,架设在支撑块与框架之间,具有伸缩性,与对向面平行且与延伸设置方向交叉的第一方向的变形受限制。
  • 检测夹具
  • [发明专利]检查用探针-CN200910206470.2无效
  • 戎田理夫;加藤穰;广部幸祐 - 日本电产理德株式会社
  • 2009-11-13 - 2010-06-16 - G01R1/067
  • 本发明的课题在于制造各种各样的形状的检查用探针,提高量产性,降低价格,并且容易地达成检查用探针的直线度。在导电性的板状部件的表面上形成第一抗蚀剂层,所述第一抗蚀剂层覆盖与多个检查用探针、连结多个检查用探针的框架、以及形成在框架上并连接框架和各检查用探针的连接部对应的图案,以第一抗蚀剂层作为掩膜对板状部件进行蚀刻处理,除去该第一抗蚀剂层,并从连接部切断从而将多个检查用探针从框架分开。
  • 检查探针

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