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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]检测接触臂的接触部异常的异常检测装置-CN200780100960.3无效
发明人： 市川雅理;池田浩树 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2007-10-31 - 公布日： 2010-08-18 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：异常检测装置(200)包括摄像部件(210)、不良检测部(241)和判断部件(260)，所述摄像部件(210)获取TIM(167)的图像数据，所述不良检测部(241)从由摄像部件(210)获取的TIM(167)的图像数据检测TIM(167)的不良外观(167a)，所述判断部件(260)根据不良检测部(241)的检测结果判断TIM(167)上是否发生异常。
检测接触异常装置

[发明专利]TCP处理装置及该装置中连接端子的位置对准方法-CN200680056314.7无效
发明人： 市川雅理;小野泽正贵 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2006-11-09 - 公布日： 2009-11-18 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：用第二相机6b拍摄被测试TCP的测试焊点，获取该测试焊点的坐标数据，同时获取与探针卡板8的探针81的接触面的位置信息相关联地设于探针卡板8的特征部84的坐标数据，根据该特征部84的坐标数据推断出探针81的接触面的位置信息，并根据所获取的测试焊点的坐标数据和所推断的探针81的接触面的位置信息，求出测试焊点和探针81的接触面之间的位置偏移量，基于该位置偏移量通过探针卡板台7使探针卡板8移动，自动地进行探针81对于被测试TCP的测试焊点的位置对准。因此，能够极精确地进行TCP的测试焊点和探针卡板8的探针81之间的位置对准。
tcp 处理装置连接端子位置对准方法

[发明专利]TCP处理装置以及TCP处理装置中的连接端子的对位方法-CN200580052439.8无效
发明人：小野泽正贵;市川雅理 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2005-12-27 - 公布日： 2009-01-14 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明提供一种TCP处理装置以及TCP处理装置中的连接端子的对位方法。利用第2照相机(6b)对被测试TCP的测试焊盘(P)进行拍照以取得该测试焊盘(P的坐标数据，同时对探针卡(8)的探针(81)进行拍照以取得该探针(81)的坐标数据，根据测试焊盘(P)的坐标数据和探针(81)的坐标数据求出测试焊盘(P)与探针(81)的位置偏移量，根据该位置偏移量，通过探针卡台(7)使探针卡(8)移动，并自动地进行探针(81)相对于被测试TCP的测试焊盘(P)的对位。由此，可准确且容易地进行TCP的测试焊盘(P)与探针卡(8)的探针(81)的对位。
tcp 处理装置以及中的连接端子对位方法

[发明专利]电子部件试验装置-CN200580051164.6无效
发明人：池田克彦;市川雅理 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2005-08-11 - 公布日： 2008-07-23 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种为了试验被试验电子部件的电气特性，把被试验电子部件向接触部的插座(301a)传送，使上述被试验电子部件电气性连接该插座的电子部件试验装置，具备：拍摄插座的摄像单元(314)；存储单元(319)，存储由摄像单元拍摄取得的、没有安装被试验电子部件状态下的插座的基准图像数据；残留判定单元(318)，由摄像单元取得插座的检查图像数据的同时，从存储单元读出基准图像数据，把这些检查图像数据与基准图像数据进行比较，判定在插座中是否残留着被试验电子部件。
电子部件试验装置

[发明专利]电子器件的处理设备-CN200580049878.3无效
发明人： 市川雅理 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2005-04-11 - 公布日： 2008-05-14 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种用于通过将电子器件传输到接触部部分的插座并使它们与所述插座电连接来进行电子器件的电特性测试的电子器件处理设备，其中，预先存储作为插座图像数据的标准图像数据，利用摄像装置拍摄图像而获取作为检查对象的插座的图像数据作为检查图像数据，标准图像数据从存储装置中读出，通过比较标准图像数据与检查图像数据而检测作为检查对象的插座的缺陷。
电子器件处理设备

[发明专利]电子器件处理装置和不良端子确定方法-CN200580041108.4无效
发明人： 市川雅理 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2005-11-25 - 公布日： 2007-11-07 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息被预先存储起来，由图像拍摄装置拍摄由传送装置保持的待测试电子器件的端子的图像，从被拍照的待测试电子器件的端子的图像数据中获取各个端子的位置信息，并且通过比较作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息和所获取的待测试电子器件的端子的位置信息，确定待测试电子器件的端子的缺失和/或排列位置缺陷。
电子器件处理装置不良端子确定方法

[发明专利]位置侦测装置、位置侦测方法、测试装置以及摄影模块制造装置-CN200480021437.8无效
发明人： 市川雅理;山口隆弘 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2004-07-23 - 公布日： 2006-09-06 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种位置侦测装置，其侦测按照所接受的光的强度而输出一输出信号的摄影装置的位置，此位置侦测装置包括：光源、照射透镜、位置侦测部及移动部。其中，光源是产生光。照射透镜是将光源所产生的光，照射于摄影装置上。位置侦测部，是依据于摄影装置按照经由照射透镜所受光的光而输出的输出信号，侦测对于照射透镜的摄影装置的相对位置。移动部，是依据位置侦测部所侦测的相对位置，藉由移动摄影装置及照明透镜的至少一方，使摄影装置的相对位置变化到预定位置。
位置侦测装置方法测试以及摄影模块制造

[发明专利]位置侦测装置、位置侦测方法以及电子零件搬运装置-CN200380102965.1无效
发明人： 市川雅理;菊池有朋 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2003-11-25 - 公布日： 2005-12-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种位置侦测装置，适用于侦测一具有端子的电子零件的位置，包括：一影像取得部，取得端子的一影像、一端子区域侦测部，由影像取得部所取得的影像侦测端子的区域，以及一电子零件位置侦测部，根据端子区域侦测部所侦测的端子区域，及预设的电子零件的端子资讯，侦测电子零件的位置。
位置侦测装置方法以及电子零件搬运

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