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[发明专利]存储设备和用于该存储设备的缺陷扫描的方法-CN201610791131.5有效
发明人： 川井康正 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2016-08-31 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：执行一种缺陷扫描方法以检测存储设备的存储介质中的缺陷部分，存储介质包括多个存储区，多个存储区包括第一存储区和第二存储区。该缺陷扫描方法包括：在存储设备连接到主机前，扫描存储介质的一部分存储区以检测其中的缺陷部分，所扫描的存储区包括第一存储区，未扫描的存储区包括第二存储区；将逻辑地址映射到第一存储区的非缺陷部分的物理地址；在存储设备连接到主机后，扫描第二存储区以检测其中的缺陷部分，并将逻辑地址映射到第二存储区的非缺陷部分的物理地址。
存储设备用于缺陷扫描方法

[发明专利]磁盘装置及数据刷新的处理方法-CN201410443155.2在审
发明人： 川井康正 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2014-09-02 - 公布日： 2015-11-25 - 主分类号： G11B5/02 文献下载
摘要：本发明涉及磁盘装置及数据刷新的处理方法。实施方式涉及的磁盘装置具备磁盘、头和处理部，其中，所述磁盘具有在多个磁道记录数据的记录面；所述头用于在记录面写入所述数据；所述处理部对对应于通过头进行的写入数的写计数数进行计数，并在写计数数超过阈值的情况下实行数据刷新。处理部在对写计数数进行计数时，在头在磁道上写时以第1计数增加数进行计数，并在脱离磁道写产生时以比第1计数增加数大的第2计数增加数进行计数。
磁盘装置数据刷新处理方法