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[发明专利]磁光材料及其制造方法-CN202280009126.8在审
发明人： 岩本敏;太田泰友;池田贤司;小林伸圣 -专利权人：公益财团法人电磁材料研究所
申请日： 2022-01-12 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： C23C14/08 文献下载
摘要：本发明提供一种能够实现增大法拉第旋转角等磁光特性的调节幅度的磁光材料及其制造方法。将基板(20)的温度控制成包含于300～800[℃]的范围内的第一温度，并且将该基板(20)的氛围压力控制成1.0×10‑4[Pa]以下(第一工序)。使用在红外波长区域示出ENZ特性的TCO材料与磁性金属的复合靶材、或者独立的多个靶材，将基板(20)的温度控制成包含于300～800[℃]的范围内的第二温度，并且在将该基板(20)的氛围压力控制成0.1～10[Pa]的范围的同时在该基板(20)上成膜磁光材料(10)(第二工序)。磁光材料(10)具有纳米颗粒结构，该纳米颗粒结构由基质(11)和分散于基质(11)的磁性金属颗粒(12)构成，基质(11)由透明导电性氧化物构成。
材料及其制造方法

[发明专利]测试装置及测试方法-CN201080006522.2无效
发明人： 岩本敏;泷泽茂树;谷塚浩一;松浦俊雄 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2010-02-02 - 公布日： 2012-01-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：在测试器件的测试装置上安装：图案产生部，其产生用于测试被测试器件的测试图案；信号提供部，其将与测试图案相对应的测试信号提供给被测试器件；触发产生部，其将触发信号提供给连接于被测试器件的外部的机器；同步控制部，其根据图案产生部产生的测试图案中的至少一部分，将指示产生触发信号的同步信号输出给触发产生部；所述测试装置上产生与测试图案同步的触发信号。
测试装置方法

[发明专利]测试装置、诊断程序以及诊断方法-CN200680008945.1无效
发明人： 岩本敏 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2006-04-19 - 公布日： 2008-03-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试装置，使定出可在各测试模组的诊断中使用的诊断用性能板的设定信息，在少于以前的作业负担下变更。本发明的测试装置于诊断对象的每种测试模组中，记忆对该种类诊断对象测试模组的诊断进行控制的对象诊断程序，且将为了利用各对象诊断程序对诊断对象测试模组进行诊断而应搭载于上述测试头上的诊断用性能板的识别信息组，存储于每种诊断对象测试模组中。将诊断用性能板搭载于测试头上时，获取该诊断用性能板的识别信息，并以该识别信息与附上对应于所指定的诊断对象测试模组种类而记忆的识别信息相一致为条件，执行对应于该种类的对象诊断程序。
测试装置诊断程序以及方法

[发明专利]诊断程序、切换程序、测试装置以及诊断方法-CN200680009165.9无效
发明人： 岩本敏 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2006-03-22 - 公布日： 2008-03-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种诊断程序，其借由测试装置的控制装置来诊断多个测试模组。此诊断程序具备：对象诊断软件模组，其用来对诊断对象测试模组进行诊断；诊断用信号输出入软件模组，其对上述诊断对象测试模组应输出诊断用信号时所用的非诊断对象测试模组进行控制；种类特定软件模组，其接收一种由对象诊断软件模组而来的叫出，于是对该非诊断对象测试模组的种类所对应的诊断用信号输出入软件模组进行特别限定；以及叫出目标切换软件模组，其叫出已被特定的诊断用信号输出入软件模组，且由该非诊断对象测试模组而对该诊断对象测试模组输出该诊断用信号。
诊断程序切换测试装置以及方法

[发明专利]附加温度补偿的驱动电路-CN97190002.7无效
发明人：冈安俊幸;岩本敏 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 1997-01-20 - 公布日： 2003-01-08 - 主分类号： H03K17/14 文献下载
摘要：本发明经过对输出段的消耗功率进行检测，对检出的功率进行补偿控制，实现了附加较为稳定的波形振幅和输出时间温度补偿的驱动电路。为达到此目的，设有温度检测装置，用来检测输出元件的温度变化；设有输出时间温度补偿装置，用来接收来自温度检测装置的温度检测信号，并对与输入信号相对应的输出信号进行温度补偿；设有输出振幅及输出阻抗温度补偿装置，用来接收来自温度检测装置的温度检测信号，并对输出信号的输出振幅及输出阻抗进行温度补偿。
附加温度补偿驱动电路