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[发明专利]机器人操作装置及机器人系统-CN201480062089.2有效
发明人：当真博太;川瀬大介;小川章;由井大介;金田基希;大桥由信;菅野淳子;井手慧 -专利权人：电装波动株式会社
申请日： 2014-09-19 - 公布日： 2017-09-22 - 主分类号： B25J13/06 文献下载
摘要：机器人操作装置(4)具备触摸面板(17)、触摸操作检测部(15)、动作指令生成部(16)和选择操作检测部(18)。动作指令生成部(16)能够进行操作判断处理和动作指令生成处理。操作判断处理是如下的处理，即根据由选择操作检测部(18)检测出的选择操作，确定作为操作对象的机器人(2、22)的驱动轴或者动作形态，并在由触摸操作检测部(15)检测出的触摸操作是拖拽操作的情况下判断该拖拽操作的移动量。动作指令生成处理是如下的处理，即根据由操作判断处理判断出的拖拽操作的移动量，确定机器人(2、22)的移动量，并生成用于使机器人(2、22)以操作对象的驱动轴或者动作形态移动该移动量的动作指令。
机器人操作装置系统程序

[发明专利]半导体器件的制造系统与制造方法-CN201010263401.8无效
发明人：牛久幸广;柿沼英则;秋山龙雄;首藤俊次;安部正泰;小松茂;小川章 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2004-09-07 - 公布日： 2011-01-05 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种半导体器件的制造系统和方法。通过恰当地管理加工处理装置的维修间隔，缩短半导体器件的制造工序期间。本发明的半导体器件制造系统具有：实行采用半导体基板(17)的加工处理的处理装置(14)；从处理装置(14)接收装置信息进行处理装置(14)自管理的自诊断系统(11a)；检查加工处理结果的检查装置(19)；基于检查结果判定处理装置(14)能否自动修复，并在判定结果为有效判定时维持自诊断系统(11a)的参数，为无效判定时变更这种参数的计算机(11)。
半导体器件制造系统方法

[发明专利]腿式机器人-CN201010159902.1无效
发明人： 小川章 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2007-01-11 - 公布日： 2010-08-11 - 主分类号： B62D57/032 文献下载
摘要：本发明涉及一种腿式机器人，该腿式机器人在确保躯干的高度低的情况下以大步幅行走。该腿式机器人具有躯干、一对腿以及一对滑动关节。各滑动关节分别将各腿的一端连接到躯干，使得各腿都能够相对于躯干在前后方向上滑动。对于每一个行走步，一条腿向前滑动而另一条腿向后滑动。可在一条腿的端部与另一条腿的端部之间保持预定的距离。该腿式机器人可使步幅增大相当于与腿长无关的该预定距离的量。
机器人

[发明专利]腿式机器人-CN200780028727.9有效
发明人：菅敬介;小川章 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2007-07-27 - 公布日： 2009-07-29 - 主分类号： B25J5/00 文献下载
摘要：提供行走时躯干链难以在前后方向上摆动的腿式机器人。腿式机器人(10)包括具有躯干链(12)和一双腿(20R、20L)。腿(20R、20L)分别具有可使所连接的链彼此在与向体侧方向延伸的直线交叉的面内旋转的俯仰关节(24L、24R)。并且俯仰关节的旋转中心(24LP、24RP)与躯干链的重心位置(G)相比位于上方。腿式机器人的腿主要在绕着所述旋转中心在前后方向摆动的情况下行走。从而躯干链(12)也主要在绕着所述旋转中心在前后方向摆动的情况下行走。由于躯干链的重心位置(G)位于所述旋转中心的下方，因此作用在躯干链(12)上的重力朝着抑制行走时躯干链(12)的摆动的方向起作用。由此，行走时躯干链难以在前后方向上摆动。
机器人

[发明专利]腿式机器人-CN200780002355.2无效
发明人： 小川章 -专利权人：丰田自动车株式会社
申请日： 2007-01-11 - 公布日： 2009-02-18 - 主分类号： B25J5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种腿式机器人，该腿式机器人在确保躯干的高度低的情况下以大步幅行走。该腿式机器人具有躯干、一对腿以及一对滑动关节。各滑动关节分别将各腿的一端连接到躯干，使得各腿都能够相对于躯干在前后方向上滑动。对于每一个行走步，一条腿向前滑动而另一条腿向后滑动。可在一条腿的端部与另一条腿的端部之间保持预定的距离。该腿式机器人可使步幅增大相当于与腿长无关的该预定距离的量。
机器人

[发明专利]质量管理系统、质量管理方法及批次单位的晶片处理方法-CN200610066598.X无效
发明人： 小川章;牛久幸广;井野知巳 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 2006-04-03 - 公布日： 2006-10-18 - 主分类号： G05B19/04 文献下载
摘要：一种质量管理系统，具备：存储过去批次的QC实测值的QC值存储部；获取对象批次的处理装置的装置内部信息的数据获取装置；存储装置内部信息的装置内部信息存储部；存储根据晶片内的取样密度分布分类的多个处方的处方存储部；QC值预测单元，根据装置内部信息和过去批次的QC实测值，预测对象批次的QC预测值；晶片确定单元，根据QC预测值确定构成对象批次的多个晶片中成为测定对象的样品晶片；处方选择单元，根据QC预测值，从多个处方中选择适用于样品晶片的适用处方；以及测定装置，使用适用处方对样品晶片进行QC测定，把测定结果存储在QC值存储部中。
质量管理系统方法批次单位晶片处理