专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]信息处理装置和KVM开关-CN201010236627.9有效
  • 长尾尚幸 - 富士通电子零件有限公司
  • 2008-08-29 - 2010-11-24 - G06F3/023
  • 本发明涉及一种信息处理装置和KVM开关。所述信息处理装置包含:存储部分,该存储部分存储窗口的框架上的这样的坐标,即当通过操作第二操作构件使该信息处理装置的光标移动到该窗口外部时该信息处理装置的光标穿过所述坐标,并且在所述坐标上,服务器的光标的位置与该信息处理装置的光标的位置相互一致;以及控制部分,当该信息处理装置的光标从该窗口外部到达该窗口时,该控制部分计算指示该窗口的框架上的到达点的坐标与存储的坐标之间的差值,并将该差值输出给该服务器。
  • 信息处理装置kvm开关
  • [发明专利]按键开关单元-CN201010181594.2有效
  • 丸山淳一;小池保;西野武志 - 富士通电子零件有限公司
  • 2010-05-20 - 2010-11-24 - H01H13/14
  • 一种按键开关单元包括纵向上呈细长状的键罩、开关机构、支撑开关机构的支撑板以及在键罩下侧接合键罩以便加固的按键加固机构。按键加固机构包括:具有沿纵向基本覆盖键罩的整个尺寸的梁部的第一线构件;具有沿纵向延伸于接触开关机构的区域和键罩的第一纵向端之间的梁部的第二线构件;以及具有沿纵向延伸于该区域和键罩的第二纵向端之间的梁部的第三线构件。这些梁部在键罩下侧接合键罩。第一、第二和第三线构件具有以可转动的方式支撑于支撑板上的各自端部。
  • 按键开关单元
  • [发明专利]信息处理装置和KVM开关-CN201010236628.3有效
  • 长尾尚幸 - 富士通电子零件有限公司
  • 2008-08-29 - 2010-11-17 - G06F3/038
  • 本发明涉及一种信息处理装置和KVM开关。当在操作从第一操作构件改变到第二操作构件之后操作第二操作构件时,信息处理装置的控制部分基于被存储的信息处理装置的光标的位置和获取的累积值计算服务器的光标的当前位置,计算该服务器的光标的当前位置与该信息处理装置的光标的当前位置之间的差值,并将计算出的差值与该第二操作构件的操作导致的该信息处理装置的光标的移动量的组合值输出给服务器。
  • 信息处理装置kvm开关
  • [发明专利]接插件-CN200910151896.2有效
  • 中村昭夫;柚场誉嗣 - 富士通电子零件有限公司
  • 2009-07-03 - 2010-02-03 - H01R24/00
  • 本发明涉及接插件。一种用于提供接收的电力的凹接插件,包括:凹部;包括用于提供电力的电源端子在内的多个端子;锁定机构,其响应于凸接插件被插入所述凹部中而在配合状态下将被插入所述凹部中的所述凸接插件锁定;以及开关机构,其在接通状态下将所接收到的电力提供给所述电源端子,而在断开状态下将所述电源端子与所接收到的电力绝缘开。仅当所述锁定机构正在将所述凸接插件锁定在配合状态时,才允许所述开关机构转变到接通状态。
  • 插件
  • [发明专利]坐标检测装置及方法-CN200910140878.4有效
  • 清水信吉;近藤幸一;广田四郎;远藤孝夫 - 富士通电子零件有限公司
  • 2009-05-14 - 2009-11-25 - G06F3/045
  • 一种坐标检测装置,包括:设置于四边形衬底上的电阻膜;用于向电阻膜施加电压的电源;四个电极,被连接到电源并且被置于电阻膜的四个角上;四个开关,其每个都被置于电源与电极中的一个之间;四个安培计,其每个都被配置为测量流经相应的电极的电流;以及接地的导电膜,其被配置为当导电膜与电阻膜接触时检测电阻膜上的接触点的坐标。通过使开关开路和闭合,电压被顺序地施加于电极。当使导电膜与电阻膜接触时,安培计顺序地测量流经相应的电极的电流。根据电极的位置以及使用安培计测量的电流所得到的电阻,检测出接触点的坐标。
  • 坐标检测装置方法
  • [发明专利]坐标位置检测设备的制造方法-CN200910140576.7有效
  • 近藤幸一 - 富士通电子零件有限公司
  • 2009-05-08 - 2009-11-25 - G06F3/045
  • 本发明提供一种坐标位置检测设备的制造方法,该制造方法包括以下步骤:在具有矩形结构的基板的四个边的电阻膜上形成共用电极;利用与所述电阻膜的表面接触的多个探头,测量所述电阻膜的电位,其中所述电位从所述共用电极被提供给所述电阻膜;由计算部分根据所测量的电位的值来计算电阻膜除去区域,从而使所述电阻膜的电位分布均匀;以及通过激光除去由所述计算部分计算的电阻膜除去区域中的电阻膜。
  • 坐标位置检测设备制造方法

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