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[发明专利]一种基于结构光的聚焦三维重建方法及三维重建系统-CN202310764285.5在审
发明人：蒋斌峰;寇冠中;潘威;曹玲;卢盛林 -专利权人：广东奥普特科技股份有限公司
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-10-27 - 主分类号： G06T17/00 文献下载
摘要：本发明涉及计算机视觉技术领域，公开了一种基于结构光的聚焦三维重建方法及三维重建系统。本发明采用的是正面采集图像的方式，可以更全面的还原被测物体的三维结构，而且表面越光滑，漫反射越强，成像效果越好，另外，基于四步相移法的清晰度测量可减少检测点的周边特征的依赖，局限性大大降低，能够提高三维重建的精准度。
一种基于结构聚焦三维重建方法系统

[发明专利]一种基于升降台标定的双目结构光成像方法及系统-CN202310485299.3在审
发明人：陈顺;寇冠中;潘威;曹玲;卢盛林 -专利权人：广东奥普特科技股份有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G06T7/80 文献下载
摘要：本发明涉及机器视觉技术领域，公开了一种基于升降台标定的双目结构光成像方法及系统，通过提供一种计算3D坐标的新模型并采用迭代法求解模型，能够取得精度高、稳定性好的成像效果；同时，根据单目成像结果和标定模型反向计算匹配点，提高了搜索匹配点准确性，无需每次搜索整行，降低了搜索耗时。
一种基于升降台标定双目结构成像方法系统

[发明专利]点云噪声快速清理方法、装置和计算机可读存储介质-CN202310485389.2在审
发明人：陈顺;潘威;寇冠中;曹玲;卢盛林 -专利权人：广东奥普特科技股份有限公司
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-08-01 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本发明公开了点云噪声快速清理方法、装置和计算机可读存储介质，其通过先计算邻域核Nm内的第i个噪点Pi与第m个像素图像Im的距离Li，再判断邻域核Nm内的第i个噪点Pi与第m个像素图像Im的距离Li，与预设的邻域半径R的大小，来对邻域核Nm内的第i个噪点Pi进行噪点计数，从而获得关于邻域核Nm的噪点计数图ImC，然后分别判断噪点计数图ImC内的每一个点与第m个像素图像Im的距离L，与预设阈值T的大小，来对噪点计数图ImC内的每一个点进行是否为待清理点的标记，最后对邻域核Nm内标记为待清理点的点进行清理。本发明通过引入邻域核来统计和标记每个像素的噪点，简化了噪点清除流程和降低清除难度，提升了噪点清除的准确性，适合部署到成像设备终端，以提高成像获取的点云和深度图质量。
噪声快速清理方法装置计算机可读存储介质

[发明专利]光谱共焦测量装置及测量方法-CN202010529237.4有效
发明人：王锦峰;罗媛;何京;寇冠中 -专利权人：东莞市神州视觉科技有限公司
申请日： 2020-06-11 - 公布日： 2022-09-02 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：一种光谱共焦测量装置，包括：光源部，用于以第一预定路径射出具有一定波长范围的宽光谱光束；光学采样部，用于将来自所述光源射出的所述光束聚于待测物体的不同的测量表面，并以不同于与所述第一预定路径相反的第二预定路径输出反射光；以及测量部，用于接收并处理来自所述光学采样部的所述反射光，以获得测量结果。该装置可提高测量精度、降低生产成本。另外，还公开一种光谱共焦测量方法。
光谱测量装置测量方法

[发明专利]用于聚焦序列图像的匹配补偿方法、装置和存储介质-CN202210509730.9在审
发明人：朱树锴;寇冠中 -专利权人：广东奥普特科技股份有限公司
申请日： 2022-05-11 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了用于聚焦序列图像的匹配补偿方法、装置和存储介质，该方法包括：选取所述原始聚焦序列图像中清晰度符合预设要求的原始图像作为模板图像；在所述模板图像中建立一个包含目标物体的ROI区域，记录所述ROI区域的图像坐标(xr，yr)；以所述模板图像作为搜索模板对原始图像进行模板匹配，将原始图像中与所述ROI区域的最相似区域标记为对应的搜索区域，记录所述搜索区域的图像坐标(xi，yi)；计算搜索区域与所述ROI区域的坐标差值(xi‑xr，yi‑yr)；依据坐标差值(xi‑xr，yi‑yr)对原始图像进行补偿，得到补偿后聚焦序列图像；本发明通过匹配补偿方式解决聚焦平台相机安装不垂直和位移不垂直导致的误匹配问题，有效提升聚焦恢复深度技术的精度。
用于聚焦序列图像匹配补偿方法装置存储介质

[发明专利]一种AOI光源-CN201510505372.4有效
发明人：王锦峰;寇冠中 -专利权人：东莞市神州视觉科技有限公司
申请日： 2015-08-17 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种AOI光源，包括非同轴光源和同轴光源，同轴光源设置于非同轴光源与相机之间，同轴光源沿相机拍摄方向设有第一通孔，非同轴光源沿相机拍摄方向设有第二通孔，第一通孔与第二通孔同心设置。本发明可以真实地拍摄出锡膏、元器件等漫反射物体；同轴光源发出同轴光，由于同轴光源是漫反射光源，发出的光没有指向性且亮度较低，可以使得相机清楚拍摄出铜箔等镜面反射物体以及高亮度物体的图片。在检测时，待检测物体放置于拍摄有效区域内，通过非同轴光源和同轴光源的配合使用，相机透过第一通孔和第二通孔可以真实地拍摄出具有漫反射、镜面反射或高亮度特点的待检测物体，使检测结果更加可靠，提高出厂产品的良率。
一种 aoi 光源

[发明专利]一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法和系统-CN201510217305.2有效
发明人：王锦峰;寇冠中 -专利权人：东莞市神州视觉科技有限公司
申请日： 2015-04-30 - 公布日： 2017-11-21 - 主分类号： G01B21/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法和系统。该方法包括放置待测的棱台；对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切面，获取所述n个横切面的参数；建立平面直角坐标系；将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，用最小二乘法确定所述数学模型，并根据所述确定的数学模型得到所述棱台的参数。本发明用待测的棱台的实测参数确定预知的数学模型，并在极限状态下得到该棱台的参数，提高了棱台参数测量的准确度。
一种用于检测精度检验参数测量方法系统

[实用新型]一种AOI光源-CN201520620358.4有效
发明人：王锦峰;寇冠中 -专利权人：东莞市神州视觉科技有限公司
申请日： 2015-08-17 - 公布日： 2015-12-30 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种AOI光源，包括非同轴光源和同轴光源，同轴光源设置于非同轴光源与相机之间，同轴光源沿相机拍摄方向设有第一通孔，非同轴光源沿相机拍摄方向设有第二通孔，第一通孔与第二通孔同心设置。本实用新型可以真实地拍摄出锡膏、元器件等漫反射物体；同轴光源发出同轴光，由于同轴光源是漫反射光源，发出的光没有指向性且亮度较低，可以使得相机清楚拍摄出铜箔等镜面反射物体以及高亮度物体的图片。在检测时，待检测物体放置于拍摄有效区域内，通过非同轴光源和同轴光源的配合使用，相机透过第一通孔和第二通孔可以真实地拍摄出具有漫反射、镜面反射或高亮度特点的待检测物体，使检测结果更加可靠，提高出厂产品的良率。
一种 aoi 光源

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