专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果14个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种组合扫描式XRD/XRF综合成像装置及方法-CN202311155915.5在审
  • 何泽;许元军;黄宁;王鹏;安竹 - 四川大学
  • 2023-09-08 - 2023-10-13 - G01N23/223
  • 本发明公开了一种组合扫描式XRD/XRF综合成像装置及方法,将X射线源固定在第一升降台上,X射线探测器固定在位于第二升降台上的一维电动滑台上,在X射线射出端和探测器入射端均配备准直器准直,一维电动滑台用于移动X射线探测器从扫描起始位置到扫描终止位置,样品架固定在二维电动滑台上,各部件通过计算机控制系统进行电性连接控制,数据处理系统用于测量分析,实现XRD/XRF共用同一套装置,分析点位一致性好,分析准确性高,采用探测器结合样品的组合扫描方式,实现高能量分辨、低Z元素的探测,探测器扫描行程长、覆盖衍射角范围宽,并且装置成本低,结构简单,便携性好,通过一次分析即可得到样品的晶体和元素分布图。
  • 一种组合扫描xrdxrf综合成像装置方法
  • [发明专利]一种高效的氚分析方法、装置、设备和存储介质-CN202111188910.3有效
  • 黄红;安竹;朱敬军 - 四川大学
  • 2021-10-12 - 2023-03-03 - G01N23/2273
  • 本发明公开了一种高效的氚分析方法、装置、设备和存储介质,所述氚分析方法包括:获取待测含氚样品表面的总的X射线能谱;将所述X射线能谱转化为X射线能谱矩阵F;将所述X射线能谱矩阵F输入到氚分析计算模型;通过氚分析计算模型获取未知样品的单位氚矩阵f和深度分布矩阵A,得到待测样品的深度和氚分布信息。本发明的提出,能够对未知氚含量和厚度的含氚样品进行测量和分析,解决了现有的基于蒙特卡洛方法的BIXS分析方法必须提前知道含氚样品的氚含量范围和厚度的问题,同时节约了现有BIXS分析每次都必须进行蒙特卡洛程序仿真的大量仿真时间,大大的提高了BIXS分析方法的测量范围和氚分析效率。
  • 一种高效分析方法装置设备存储介质
  • [发明专利]实现全场X射线荧光成像分析的衍射分析装置及方法-CN202210639893.9有效
  • 许元军;何泽;王鹏;黄宁;安竹;王跃;陈子晗 - 四川大学
  • 2022-06-08 - 2022-08-26 - G01N23/2206
  • 本发明公开了实现全场X射线荧光成像分析的衍射分析装置及方法,所述装置包括源‑探布局切换组件、多用途准直组件、X射线源、X射线探测器、激光指示器以及计算机控制系统,源‑探布局切换组件结合多用途准直组件通过改变X射线源与X射线探测器的位置布局达到仅通过一台装置实现原本只能通过两台不同类型装置才能实现的功能效果。本发明提供的技术方案,能够在一台X射线衍射分析装置中实现全场X射线荧光成像分析,无需通过扫描即可通过同一台装置快速获得样品结晶相成分和元素分布成像信息,不仅极大提高了装置中各部件的利用率,降低了装置的器件成本,使得装置结构更加紧凑,而且极大提高了分析效率和检测精度。
  • 实现全场射线荧光成像分析衍射装置方法
  • [发明专利]一种大面积多特征射线表面分析装置-CN202111354956.8在审
  • 许元军;何泽;王鹏;黄宁;安竹;王跃;陈子晗 - 四川大学
  • 2021-11-16 - 2021-12-14 - G01N23/223
  • 本发明公开了一种大面积多特征射线表面分析装置,包括多特征测量结构、三维移动平台、激光光源、光谱仪以及控制系统,所述多特征测量结构安装于三维移动平台上,激光光源和光谱仪安装于三维移动平台底部,控制系统连接并控制多特征测量结构、三维移动平台、激光光源以及光谱仪。本发明可针对同一样品点进行点分析,同时获得元素成分、结晶相、分子结构以及形貌特征信息,又能针对指定区域进行分布扫描分析,同时获得该区域元素分布、结晶相分布、分子结构分布成像以及形貌特征信息,具有高效快速,结构紧凑,功能强大,可分析样品范围广,无需采样或将样品带到实验室即可在现场实现原位无损分析等特点。
  • 一种大面积特征射线表面分析装置
  • [实用新型]一种组合式过滤装置-CN202023253219.2有效
  • 郝聿铭;安竹 - 天津市润杰环境工程有限公司
  • 2020-12-30 - 2021-12-03 - B01D29/00
  • 本实用新型公开了一种组合式过滤装置,包括Ⅰ号过滤器、Ⅱ号过滤器,所述Ⅰ号过滤器、Ⅱ号过滤器均设置有进液管,所述进液管均与连接头连通,所述Ⅰ号过滤器的底部设置有Ⅰ号出液管,Ⅱ号过滤器的底部设置有Ⅱ号出液管,所述Ⅰ号出液管与Ⅱ号过滤器的进液管之间还设置有旁通管路。本实用新型中在Ⅰ号过滤器的Ⅰ号出液管上设置侧连接管,侧连接管通过与Ⅱ号三通头接通,从而实现能够接入到Ⅱ号过滤器,通过在侧连接管上设置控制阀实现对侧连接管的开闭控制,通过Ⅰ号分液管、Ⅱ号分液管、Ⅰ号三通头实现连接头中进入液体的选择性回路打开,本实用新型方便使用,能够对不同的进液进行过滤处理。
  • 一种组合式过滤装置
  • [实用新型]L形结构的单源X射线透射与康普顿散射安检装置-CN201220612448.5有效
  • 周永;黄宁;丁厚本;安竹;吴庆新;陈旭;吴章文;邓伟成;张珍;王鹏;范轶翔;李彩袖 - 四川大学
  • 2012-11-19 - 2013-06-12 - G01N23/04
  • L形结构的单源X射线透射与康普顿散射安检装置。透射测量与康普顿散射测量共用一台X射线源。测量控制共用一台工控机。在康普顿散射探测器与L形透射探测器之间设置较厚的辐射屏蔽层。由X射线源与L形结构透射探测器阵列构成透射测量及成像的几何学结构;由扇形透射光子束在经过被测物而射出的经后准直器的背散射平行光子束与康普顿背散射探测器阵列构成背散射测量及成像的几何学结构;由扇形透射光子束在经过被测物而射出的经后准直器的前散射平行光子束与康普顿前散射探测器阵列构成前散射测量及成像的几何学结构。本装置价格更便宜、检测速度更快、灵敏度更高,能同时检测出金属武器、炸药、毒品等不同类型的违禁品,适用于重要的大型安检场所。
  • 结构射线透射康普顿散射安检装置
  • [实用新型]U形结构的单源X射线透射与康普顿散射安检装置-CN201220612446.6有效
  • 周永;黄宁;丁厚本;安竹;吴庆新;陈旭;吴章文;邓伟成;张珍;王鹏;范轶翔;李彩袖 - 四川大学
  • 2012-11-19 - 2013-04-10 - G01N23/04
  • U形结构单源X射线透射与康普顿散射安检装置采用一组U形透射探测器阵列及其前准直器,上下平行的一组康普顿背散射探测器阵列及其后准直器与一组康普顿前散射探测器阵列及其后准直器。透射与康普顿背散射、前散射共用单源X射线和一台工控机。X射线源与U形结构透射探测器阵列构成透射测量及成像的几何学结构;扇形透射光子束在经过被测物而射出的经后准直器的背散射平行光子束与康普顿背散射探测器阵列构成背散射测量及成像的几何学结构;扇形透射光子束在经过被测物而射出的经后准直器的前散射平行光子束与康普顿前散射探测器阵列构成前散射测量及成像的几何学结构。本实用新型结构简单、价格便宜、检测速度更快、灵敏度更高,能检测出多种违禁品。
  • 结构射线透射康普顿散射安检装置
  • [发明专利]L形结构的单源X射线透射与康普顿散射安检装置-CN201210467904.6有效
  • 周永;黄宁;丁厚本;安竹;吴庆星;陈旭;吴章文;邓伟成;张珍;王鹏;范轶翔;李彩袖 - 四川大学
  • 2012-11-19 - 2013-02-06 - G01N23/04
  • L形结构的单源X射线透射与康普顿散射安检装置。透射测量与康普顿散射测量共用一台X射线源。测量控制共用一台工控机。在康普顿散射探测器与L形透射探测器之间设置较厚的辐射屏蔽层。由X射线源与L形结构透射探测器阵列构成透射测量及成像的几何学结构;由扇形透射光子束在经过被测物而射出的经后准直器的背散射平行光子束与康普顿背散射探测器阵列构成背散射测量及成像的几何学结构;由扇形透射光子束在经过被测物而射出的经后准直器的前散射平行光子束与康普顿前散射探测器阵列构成前散射测量及成像的几何学结构。本装置价格更便宜、检测速度更快、灵敏度更高,能同时检测出金属武器、炸药、毒品等不同类型的违禁品,适用于重要的大型安检场所。
  • 结构射线透射康普顿散射安检装置

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top