专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种用于挑选芯片的装置-CN202222437245.3有效
  • 平登宏;刘奇;孙肖亭;李星晨 - 威科赛乐微电子股份有限公司
  • 2022-09-14 - 2023-04-07 - H01L21/683
  • 本实用新型公开了一种用于挑选芯片的装置,涉及半导体器件技术领域。包括通过管道依次连接的吸笔、过滤器和真空发生机构,所述过滤器包括壳体、位于壳体内的过滤芯以及可拆卸安装在壳体上的盖体,所述盖体上开设有安装槽,所述安装槽的侧壁上开设有进气口和出气口,所述进气口和吸笔相连通,出气口和真空发生机构相连通,所述安装槽内设置有插接管,所述进气口与插接管之间连通有进气通道,所述过滤芯的进口密封插接在插接管内,且所述过滤芯的侧壁上开设有若干通气孔。本实用新型公开了一种用于挑选芯片的装置,通过吸笔、过滤器和真空发生机构的协同作用能够更好的挑起芯片,效率更高,且能有效降低对芯片的损伤。
  • 一种用于挑选芯片装置
  • [发明专利]一种校正VCSEL测试设备的方法-CN202211122423.1在审
  • 刘奇;平登宏;谢翔;孙肖亭 - 威科赛乐微电子股份有限公司
  • 2022-09-15 - 2023-04-04 - G01R35/00
  • 本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种校正VCSEL测试设备的方法,包括以下步骤,S1、制作校准样品,将相同产品芯片固晶到PCB板上;S2、待校准设备测试,将校准样品放到待校准的测试设备载台上,对校准样品进行LIV测试,并记录测量结果A;S3、标准测量设备安装;S4、标准测量设备测试,用功率计和探头在与S2步骤中相同的测试条件下,测量校准样品,并记录测量结果S;S5、计算校准系数;S6、用校准系数乘以待校准设备的补偿系数,得到待校准设备校准后的补偿系数。其目的是:用来解决在研发创新多种不同类型芯片时,对测试设备进行补偿校正的问题,节约了生产成本,且能够高效的对测试设备进行补偿校正。
  • 一种校正vcsel测试设备方法
  • [实用新型]一种便携式湿法腐蚀装置-CN202221242183.4有效
  • 张健;李洋;吴红迪;范毓;孙肖亭 - 威科赛乐微电子股份有限公司
  • 2022-05-23 - 2022-11-08 - H01L21/67
  • 本实用新型涉及晶圆清洗设备领域,公开了一种便携式湿法腐蚀装置,包括用于固定晶圆的载台、用于驱动载台规则运动的升降旋转机构以及用于将升降旋转机构安装在玻璃缸上的安装架,升降旋转机构包括安装壳体、转动套筒、往复丝杆、螺纹套和驱动组件,安装架固定在安装壳体上,转动套筒转动安装在安装壳体内,驱动组件用于驱动转动套筒转动,往复丝杆的上端滑动安装在转动套筒内,往复丝杆的下端贯穿至安装壳体外并与载台固定,螺纹套固定在壳体内,往复丝杆穿过螺纹套并与螺纹套螺纹连接。本实用新型既使得晶圆能够充分与溶液接触,提高湿法腐蚀加工质量,同时也使得载台实现规则运动,降低溶液碰撞溅射的风险,以及降低晶圆破片的风险。
  • 一种便携式湿法腐蚀装置

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