专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置-CN202022670300.4有效
  • 孙聊新;张健;陆卫 - 中国科学院上海技术物理研究所
  • 2020-11-18 - 2021-08-06 - G01B11/26
  • 本专利公开一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置,包括:科勒照明模块,角分辨光谱测试模块,显微物镜,三维平移台,角度位移台,微型反射镜。通过三维位移台可以精确调整微反射镜的位置,在进行角度测量时,通过精密的三维位移台可以将微型反射镜位置复位,减小位移移动所带来的实验误差。其中微反射镜是角度精确测量的核心部件,其微型化设计方便对短工作距离、大数值孔径物镜傅里叶面的角度进行测量。本专利提供了一种简易的、基于科勒照明的显微角分辨光谱系统角度测量装置及测量方法,所述装置可以作为独立模块对目前常规商用角分辨谱仪或实验室自行搭建开放式角分辨系统进行精确的角度测量。
  • 一种用于显微分辨光谱系统角度测量装置
  • [实用新型]基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统-CN201420462978.5有效
  • 王玘;袁小文;孙聊新;张波;陆卫 - 中国科学院上海技术物理研究所
  • 2014-08-15 - 2015-01-07 - G01N21/25
  • 本专利公开了一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统,它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现:根据激光双调制工作原理,将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光,低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光,然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面,单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处,通过电机控制对样品面进行二维扫描,获得相关光学信号。本专利实现了纳米量级区域的光谱探测,有效地消除了背景反射光的干扰,可以应用于微纳光学领域的光学特征光谱的测量。
  • 基于显微镜激光调制反射光谱检测系统
  • [发明专利]一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统-CN201410403293.8有效
  • 王玘;袁小文;孙聊新;张波;陆卫 - 中国科学院上海技术物理研究所
  • 2014-08-15 - 2014-12-03 - G01N21/25
  • 本发明公开了一种基于显微镜的激光双调制光谱系统,它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现:根据激光双调制工作原理,将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光,低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光,然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面,单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处,通过电机控制对样品面进行二维扫描,获得相关光学信号。本发明实现了纳米量级区域的光谱探测,有效地消除了背景反射光的干扰,可以应用于微纳光学领域的光学特征光谱的测量。
  • 一种基于显微镜激光调制反射光谱检测系统
  • [实用新型]光学微腔的光子等频图和能带结构一次成像装置-CN201420310529.9有效
  • 袁小文;孙聊新;张波;陆卫 - 中国科学院上海技术物理研究所
  • 2014-06-12 - 2014-11-26 - G01N21/27
  • 本专利公开了一种光学微腔的光子等频图和能带结构一次成像装置,至少包括一个无限筒长的显微物镜、一套配有二维CCD的光栅光谱仪、一套显微镜照明系统、一根光纤、一个单色仪、一个宽带光源和一套成像系统;光子等频图和能带结构测量由以下部件实现:根据阿贝正弦关系将无限筒长显微物镜作为一种将波矢空间直接转换到实空间的变换器件,形成切向波矢和后焦平面上垂轴方向坐标位置的线性对应关系,探测光路上光谱仪配备的二维CCD通过成像系统和物镜后焦平面共轭,通过单色仪和的光谱仪配合使用获得所测样品的光子等频图和能带结构。本专利实现了光子等频图和能带结构的方便、一次成像测量,可以应用于微纳光学领域的光学性质测量。
  • 光学光子能带结构一次成像装置
  • [发明专利]一种光学微腔的光子等频图和能带结构一次成像装置-CN201410258822.X有效
  • 袁小文;孙聊新;张波;陆卫 - 中国科学院上海技术物理研究所
  • 2014-06-12 - 2014-09-10 - G01N21/27
  • 本发明公开了一种光学微腔的光子等频图和能带结构一次成像装置,至少包括一个无限筒长的显微物镜、一套配有二维CCD的光栅光谱仪、一套显微镜照明系统、一根光纤、一个单色仪、一个宽带光源和一套成像系统;光子等频图和能带结构测量由以下部件实现:根据阿贝正弦关系将无限筒长显微物镜作为一种将波矢空间直接转换到实空间的变换器件,形成切向波矢和后焦平面上垂轴方向坐标位置的线性对应关系,探测光路上光谱仪配备的二维CCD通过成像系统和物镜后焦平面共轭,通过单色仪和的光谱仪配合使用获得所测样品的光子等频图和能带结构。本发明实现了光子等频图和能带结构的方便、一次成像测量,可以应用于微纳光学领域的光学性质测量。
  • 一种光学光子能带结构一次成像装置

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