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[发明专利]一种关于磷灰石裂变径迹定年分析方法-CN202310581277.7在审
发明人：杨静;施炜;王森;张拴宏;娄玉行;马立成 -专利权人：中国地质科学院地质力学研究所
申请日： 2023-05-23 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明涉及地球科学技术领域。本发明涉及一种关于磷灰石裂变径迹定年分析方法。其包括以下步骤：定范围采集矿石样品，对矿石样品表面进行分析，并对矿石样品中的裂变径迹区域进行评估；对该矿石样品中裂变径迹区域的评估，对其进行清洗预处理，并根据裂变径迹区域在范围内寻找其他相似的矿石样品；本发明通过三维成像对矿石样品进行了高精度的量化分析和计算，操作更加简单、准确，大幅降低了样品交叉污染和人工刻度误差等因素，同时提高了检测效率和生产率，通过进行自动化识别分析矿石年龄，精度高、速度快，并避免人工识别而导致的误差，再通过将同区域的矿石进行采集比对，为矿石样品年龄确定提供可靠的数据基础。
一种关于磷灰石裂变径迹年分方法

[发明专利]一种基于锆石裂变径迹法定年的标样分析方法-CN202310595284.2在审
发明人：杨静;施炜;王森;张拴宏;娄玉行;陈虹;马立成 -专利权人：中国地质科学院地质力学研究所
申请日： 2023-05-25 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明涉及锆石分析技术领域。本发明涉及一种基于锆石裂变径迹法定年的标样分析方法。其包括以下步骤：收集锆石标准同位素样品，并通过锆石标准同位素样品从中挑选制备标准样品；使用激光成像设备对锆石标准同位素样品和标准样品进行拍摄，从而获取标准同位素样品和标准样品的标准图像数据，将两种图像信息进行结合分析，从而获取锆石表面数据。本发明通过结合锆石表面质量因素干扰从而判断锆石的年限测量，可以减小这些因素对检测数据的干扰，从而缩小误差范围，排除数据偏差的锆石，提高数据的精度，同时通过同位素比值测量来测量标准同位素样品，增加方法的测量精度，同时总结之前多次检测数值分析，避免错误数值录入存档。
一种基于裂变径迹法定标样分析方法

[实用新型]一种用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台-CN202221346067.7有效
发明人：张聪;刘晓瑜;娄玉行;崔莹;张忠炜;秦雪晴;赵晓轩 -专利权人：中国地质科学院地质研究所
申请日： 2022-05-31 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本实用新型公开一种用于地质样品拉曼光谱测试及实时校正的样品台，包括：台体；第一托架，为设置在台体上的凹槽，中部设有第一通光孔，用于放置环氧树脂靶；第二托架，为设置在台体上且与第一托架间隔设置的凹槽，中部设有第二通光孔，用于放置岩石薄片；第三托架，为设置在台体上的凹槽，设有多个且环绕第一托架，设有固定部，通过固定在固定部的固定件固定标样靶。本实用新型方案中，方便对岩石薄片及矿物环氧树脂靶放置、在半定量、定量拉曼测试过程中对标样及待测样同时测试、及在测试过程中对微米级样品的数字化定位。
一种用于地质样品光谱测试实时校正

[发明专利]一种基于GIS的地质数据呈现方法及系统-CN202210462194.1在审
发明人：黄金库;李萍;娄玉行;王文磊;裴英茹 -专利权人：中国地质科学院地质力学研究所
申请日： 2022-04-29 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： G06F16/29 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于GIS的地质数据呈现方法及系统，属于GIS模型技术领域。所述基于GIS的地质数据呈现方法包括：获取GIS模型数据库，所述GIS模型数据库中包括多个基于GIS的地质模型以及每个基于GIS的地质模型对应的标识信息；获取待识别地质数据；获取经过训练的GIS模型分类器；将所述待识别地质数据输入至所述经过训练的GIS模型分类器，从而获取标识信息；获取标识信息所对应的基于GIS的地质模型；将基于GIS的地质模型发送给显示装置以进行显示。本申请的基于GIS的地质数据呈现方法通过待识别地质数据以及分类器从而获取GIS模型数据库中的对应的基于GIS的地质模型，整个过程方便简介，且不需要人眼识别，提高了效率以及准确率。
一种基于 gis 地质数据呈现方法系统