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[发明专利]全反射荧光X射线分析装置-CN202180076558.6在审
发明人：神户亮;表和彦;樋口稔文;多田勉;藤村一;野野口雅弘;姜立财;鲍里斯·韦尔曼;尤里·普拉托诺夫 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种分析灵敏度高且分析速度快的全反射荧光X射线分析装置。本发明的全反射荧光X射线分析装置具有：X射线源，其具有电子束焦点，该电子束焦点的与试样表面平行且与X射线照射方向正交的方向的有效宽度大于所述照射方向的尺寸；分光元件，其所述正交的方向的有效宽度大于电子束焦点，且具有沿所述照射方向弯曲的面；及检测器，其沿所述正交的方向排列多个而配置，测量自照射有利用所述分光元件所集光的所述X射线的所述试样产生的荧光X射线的强度。
全反射荧光射线分析装置

[发明专利]X射线装置、其使用方法以及X射线照射方法-CN201080029423.6有效
发明人：小泽哲也;松尾隆二;姜立财;鲍里斯·韦尔曼;表和彦 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2010-06-30 - 公布日： 2012-05-23 - 主分类号： G01N23/207 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线装置、其使用方法以及X射线照射方法，该X射线装置产生能量宽度狭小的虚拟射线源，并能够进行高分解能力的X射线衍射测定。X射线装置(100)包括：分光器(105)，该分光器将发散X射线一边进行分光一边进行集光；以及选择部(107)，该选择部设置于被集光的X射线的集光位置，选择特定范围波长的X射线而使其通过，产生虚拟射线源。由此，能够在焦点(110)上产生具有狭小能量宽度的虚拟射线源，通过该虚拟射线源，能够进行高分解能力的X射线衍射测定。通过使用X射线装置(100)，从而能够充分地分离例如Kα1射线和Kα2射线那样非常狭小能量宽度的X射线。此外，也能够切出连续的X射线的一部分而形成虚拟射线源。
射线装置使用方法以及照射方法