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[发明专利]半导体元件的特性检查用夹具、特性检查装置及特性检查方法-CN200810081955.9无效
发明人：后藤正宪;深井勉;大西雅裕;竹岛直树;金子正明 -专利权人：新科实业有限公司;TDK株式会社
申请日： 2008-02-28 - 公布日： 2008-09-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：特性检查用夹具1具有电路基板2以及可在电路基板上装卸的电极适配器3，电极适配器3上设置有光输出－电流－电压特性(LIV特性)测定用电极部3b和恒温通电测试用电极部3a。电极适配器3安装在电路基板2上，电极适配器3的电极部3a、3b与安装在电路基板2的插口2a上的各半导体激光器4相连通。进行特性检查时，LIV特性测定器的连接管脚与LIV特性测定用电极部3b的连接面接触并电气连接，进而进行测定半导体激光器4的LIV特性、在恒温炉内插入夹具1、以及将恒温通电测试用电极部3a插入插口的恒温通电测试工序，并再次使用LIV特性测定器测定LIV特性。电极部3a、3b老化后只需更换电极适配器3。
半导体元件特性检查夹具装置方法

[发明专利]光纤设备的光学特性检测方法、检测装置及检测系统-CN200710136857.6有效
发明人：后藤正宪;深井勉;大西雅裕 -专利权人：新科实业有限公司
申请日： 2007-07-13 - 公布日： 2008-01-30 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种光纤设备的光学特性检测方法，该方法包括：把光纤设备的入射侧光纤连接到检测单元上的步骤；及把端面被切割成斜面的所述光纤设备的发射侧光纤连接到透射光接收器上的步骤，并选择性地进行：利用所述透射光接收器接收透射光的步骤；以及通过所述入射侧光纤并利用所述反射光接收器接收反射光的步骤。根据该方法可以轻易并迅速地进行光纤设备的透射光接收动作与反射光接收动作之间的转换，而且无需进行针对该端面的终端处理，因而可以简化检测所需的工序，提高工作效率。另外，本发明还提供了光纤设备的光学特性检测装置及光学特性检测系统。
光纤设备光学特性检测方法装置系统

[发明专利]内装有光半导体元件的设备的制造方法-CN200610100122.3有效
发明人：深井勉;大西雅裕 -专利权人：新科实业有限公司
申请日： 2006-06-27 - 公布日： 2007-01-10 - 主分类号： H01L21/50 文献下载
摘要：本发明提供一种在设有光半导体元件的头部上接合可覆盖该光半导体元件的罩体，从而制造出内装有光半导体元件的设备的制造方法，该方法包括：使光半导体元件的各端子相互短路的短路步骤(S3)；通过焊接将接合罩体与头部的接合步骤(S5)；以及解除被短路的各端子的解除步骤(S6)。通过本发明提供的内装有光半导体元件的设备的制造方法，可抑制安装在头部上的半导体元件在焊接时受到的电气影响。
装有半导体元件设备制造方法

[发明专利]光模块的制造方法-CN200610100124.2无效
发明人： 大西雅裕;王亨 -专利权人：新科实业有限公司
申请日： 2006-06-27 - 公布日： 2007-01-10 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本发明光模块的制造方法是一种配设有光半导体元件的罐状部与筒状部相接合而制造光模块的方法，其包括：通过热固性粘结剂密合所述罐状部的接合面及所述筒状部的接合面，并形成由该罐状部及该筒状部封闭而成的内部空间的密合步骤(S1)；将密合的所述罐状部及所述筒状部收容到密封容器中的收容步骤(S2)；对所述密封容器的内部进行升温，并固化涂布于所述接合面上的所述热固性粘结剂的固化步骤(S3)；待所述热固性粘结剂固化后，对所述密封容器进行降温的降温步骤(S4)；以及从所述密封容器中取出所述罐状部及所述筒状部的步骤(S5)。该方法在保持筒状部及罐状部的密封状态的情况下，对所述筒状部与罐状部接合部的树脂进行高温固化。
模块制造方法