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[发明专利]全反射荧光X射线分析装置-CN202180076558.6在审
发明人：神户亮;表和彦;樋口稔文;多田勉;藤村一;野野口雅弘;姜立财;鲍里斯·韦尔曼;尤里·普拉托诺夫 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2021-11-01 - 公布日： 2023-10-10 - 主分类号： G01N23/223 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种分析灵敏度高且分析速度快的全反射荧光X射线分析装置。本发明的全反射荧光X射线分析装置具有：X射线源，其具有电子束焦点，该电子束焦点的与试样表面平行且与X射线照射方向正交的方向的有效宽度大于所述照射方向的尺寸；分光元件，其所述正交的方向的有效宽度大于电子束焦点，且具有沿所述照射方向弯曲的面；及检测器，其沿所述正交的方向排列多个而配置，测量自照射有利用所述分光元件所集光的所述X射线的所述试样产生的荧光X射线的强度。
全反射荧光射线分析装置

[发明专利]X射线分析用信号处理装置及X射线分析用信号处理装置的调整方法-CN201880004182.6有效
发明人： 多田勉;迫幸雄 -专利权人：株式会社理学
申请日： 2018-07-12 - 公布日： 2021-03-02 - 主分类号： G01N23/2252 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线分析用信号处理装置及X射线分析用信号处理装置的调整方法，能够高精度地进行时间常数的校正并使得用于进行该校正的调整工作简单且迅速。X射线分析用信号处理装置(100)的特征在于，具有差分电路(106)，使用第一时间常数将X射线检测器(102)输出的信号转换为模拟信号的差分波；AD转换器(108)，将所述模拟信号的差分波转换为数字信号的差分波；波形整形数字滤波器(116)，使用第二时间常数对所述数字信号的差分波进行整形；直方图生成部(119)，基于整形完毕的波形的至少两处区域的波峰值取得所述整形完毕的波形的特征值，生成表示每个所述特征值的取得频率的直方图。
射线分析信号处理装置调整方法