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[发明专利]具有锥形绒面的压花玻璃和太阳能电池组件-CN201910154196.2有效
发明人：陈全胜;赵燕;刘尧平;吴俊桃;唐旱波;林珊;杜小龙 -专利权人：中国科学院物理研究所
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： H01L31/048 文献下载
摘要：本发明提供一种具有锥形绒面的压花玻璃，其中，所述具有锥形绒面的压花玻璃包括迎光面和背光面，所述迎光面具有锥形绒面结构；所述锥形绒面结构为正置棱锥或倒置棱锥。本发明还提供一种太阳能电池组件，包括：本发明所述的具有锥形绒面的压花玻璃、封装胶膜、电池片以及背板。在光线垂直入射时，本发明所述的具有锥形绒面的压花玻璃具有优异的光学性能；同时与现有平面玻璃相比，具有非常优异的全向性能，能够满足全天候发电、易于接收散射光能。采用本发明所述的具有锥形绒面的压花玻璃的太阳能电池可以明显提高太阳能电池的功率，并可以在实际应用中，增加一天内的发电量。
具有锥形压花玻璃太阳能电池组件

[发明专利]一种PERC电池片背激光开槽结构-CN202111208936.X在审
发明人：邢国光;刘尧平;陈伟;王燕;唐旱波;冯博文;陈兴谦;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： H01L31/0224 文献下载
摘要：本发明涉及太阳能电池制造技术领域，具体涉及一种PERC电池片背激光开槽结构。PERC电池片背激光开槽结构包括若干个间隔设置的背激光槽；通过本申请对背激光槽形状和结构的设置，限制了铝硅扩散，从而减少了高温烧结过程中铝硅合金熔体的扩散流失。每个单独背激光开槽都会限制Si向铝浆中的横向扩散，使得背激光开槽结构开槽区域的Si的扩散损失降低。有效减少PERC电池铝硅接触空洞比例，改善铝背场层的均匀性，有效增强了铝硅接触能力和载流子收集能力，提高了PERC电池的电学性能。
一种 perc 电池激光开槽结构

[发明专利]一种PERC电池片背激光开槽结构-CN202111208941.0在审
发明人：邢国光;刘尧平;陈伟;王燕;唐旱波;冯博文;陈兴谦;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： H01L31/0224 文献下载
摘要：本申请涉及太阳电池领域，具体而言，涉及一种PERC电池片背激光开槽结构。PERC电池片背激光开槽结构包括若干个间隔设置的背激光槽；所述背激光槽包括多个线槽，多个所述线槽共有一个交叉点并在所述交叉点连通；相邻两个所述线槽的延伸方向不相互垂直且不相互平行。通过背激光开槽结构的设置，限制高温烧结过程中硅的横向扩散有效的减少了PERC电池铝硅接触空洞比例，从而改善了局部BSF和铝硅接触能力，增强背面钝化效果，从而提升PERC电池的电学性能。
一种 perc 电池激光开槽结构

[发明专利]具有V型槽绒面结构的制绒片及其制备方法和应用-CN201910154180.1有效
发明人：赵燕;陈全胜;刘尧平;陈伟;吴俊桃;林珊;唐旱波;王燕;杜小龙 -专利权人：中国科学院物理研究所
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： H01L31/0236 文献下载
摘要：本发明提供一种具有V型槽绒面结构的制绒片及其制备方法和应用，本发明的制备方法包括如下步骤：(1)、在硅片表面形成平行排布的条状浅槽；(2)将步骤(1)中的硅片置于酸性制绒液中进行制绒；(3)、对步骤(2)中制绒后的硅片进行清洗。所述的方法制得的具有V型槽绒面结构的制绒片。本发明的制备方法过程简单且成本低廉；通过本发明的方法制得的具有V型槽绒面结构的制绒片具有优异的全向性；制得的具有V型槽绒面结构的制绒片应用在太阳能电池片上时，具有优异的电学性能。
具有型槽绒面结构制绒片及其制备方法应用

[发明专利]倒金字塔辅助制绒添加剂及其应用-CN201910606127.0有效
发明人：吴俊桃;刘尧平;陈伟;赵燕;陈全胜;唐旱波;王燕;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2019-07-05 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： C30B33/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种倒金字塔辅助制绒添加剂及其应用，其中倒金字塔辅助制绒添加剂的主要成分为银离子、柠檬酸钠、氟硅酸、乙二胺四乙酸，余量为水。本发明提供的一种倒金字塔制绒液，其含有酸性制绒液和上述倒金字塔辅助制绒添加剂。本发明提供的一种硅片制绒方法，其利用上述倒金字塔制绒液对硅片进行表面制绒得到倒金字塔绒面结构。在制绒液中添加本发明的倒金字塔辅助制绒添加剂，可加快反应，增加起绒点，有效消除金刚线切割线痕对倒金字塔制绒的影响，得到更加均匀、密集的倒金字塔绒面结构，进而降低反射率，提高电池效率，利于广泛推广应用。
金字塔辅助添加剂及其应用

[发明专利]金字塔快速制绒液及其制绒方法和硅片制品-CN201910804426.5有效
发明人：吴俊桃;刘尧平;陈伟;赵燕;陈全胜;唐旱波;王燕;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2019-08-28 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： C30B33/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种金字塔快速制绒液及其制绒方法和硅片制品，所述金字塔快速制绒液主要成分包括有银离子源、铜离子源、氟离子源、氧化剂和去离子水。采用上述金字塔快速制绒液可以在室温条件下快速地对硅片表面制绒，可以在极短时间内在硅片表面上形成独立、完整、均匀且紧密排布的正金字塔绒面结构，结构尺寸为0.5μm～2μm，其表面反射率在8％～20％之间，与现有产线金字塔结构相比尺寸小，塔尖圆滑，且分布更加均匀，非常有利于背抛及钝化，特别适合现有的PERC、HIT、IBC等高效电池结构。本发明提供的金字塔制绒方法整体反应时间控制在5min以内，可以极大地降低时间成本和设备成本，利于广泛推广应用。
金字塔快速制绒液及其方法硅片制品

[发明专利]膜厚测量方法及测量装置-CN202011542102.8在审
发明人：邓罗泉;唐旱波;刘尧平;肖川;陈全胜;陈伟;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种膜厚测量方法及测量装置，属于光学领域。膜厚测量方法包括以下步骤：采用波长为300‑1000nm光照射膜，接收来自膜的反射光并获得对应的二维图像；使用预先建立的数学模型计算并获得构成二维图像的至少部分像素的厚度值，以厚度值的平均值表征膜厚；数学模型包括：像素的灰度值与厚度值的函数关系；或，构成像素的RGB、HSV和LAB参数与厚度值的函数关系。过上述设置，操作方便且使用方便，检测速度快且测试面积大，重复性误差小，不容易产生较大的测量误差。
测量方法测量装置

[实用新型]一种PERC电池片背激光开槽结构-CN202122507287.5有效
发明人：邢国光;刘尧平;陈伟;王燕;唐旱波;冯博文;陈兴谦;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本申请涉及太阳能电池制造技术领域，具体涉及一种PERC电池片背激光开槽结构。PERC电池片背激光开槽结构包括若干个间隔设置的背激光槽；通过本申请对背激光槽形状和结构的设置，限制了铝硅扩散，从而减少了高温烧结过程中铝硅合金熔体的扩散流失。每个单独背激光开槽都会限制Si向铝浆中的横向扩散，使得背激光开槽结构开槽区域的Si的扩散损失降低。有效减少PERC电池铝硅接触空洞比例，改善铝背场层的均匀性，有效增强了铝硅接触能力和载流子收集能力，提高了PERC电池的电学性能。
一种 perc 电池激光开槽结构

[实用新型]一种PERC电池片背激光开槽结构-CN202122508831.8有效
发明人：邢国光;刘尧平;陈伟;王燕;唐旱波;冯博文;陈兴谦;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2021-10-18 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： H01L31/0216 文献下载
摘要：本申请涉及太阳电池领域，具体而言，涉及一种PERC电池片背激光开槽结构。PERC电池片背激光开槽结构包括若干个间隔设置的背激光槽；所述背激光槽包括多个线槽，多个所述线槽共有一个交叉点并在所述交叉点连通；相邻两个所述线槽的延伸方向不相互垂直且不相互平行。通过背激光开槽结构的设置，限制高温烧结过程中硅的横向扩散有效的减少了PERC电池铝硅接触空洞比例，从而改善了局部BSF和铝硅接触能力，增强背面钝化效果，从而提升PERC电池的电学性能。
一种 perc 电池激光开槽结构

[实用新型]膜厚测量装置-CN202023137792.7有效
发明人：邓罗泉;唐旱波;刘尧平;肖川;陈全胜;陈伟;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2020-12-22 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种膜厚测量装置，属于光学领域。膜厚测量装置包括检测核心结构以及控制系统；检测核心结构包括：罩体、光源和相机，罩体具有第一容纳腔，第一容纳腔内具有用于容置膜的容置部；光源设置于第一容纳腔内，光源用于产生能够照射于容置部的光，相机具有能够转动的镜头，镜头位于来自膜的反射光的光路上以接收反射光并获得对应的二维图像；控制系统用于根据数学模型计算并获得构成二维图像的像素对应的厚度值以及膜厚。过上述设置，操作方便且使用方便，检测速度快且测试面积大，重复性误差小，不容易产生较大的测量误差。
测量装置

[发明专利]基于滤波阵列的硅片反射率检测方法-CN201910637592.0在审
发明人： 唐旱波;陈全胜;刘尧平;赵燕;吴俊桃;王燕;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2019-07-15 - 公布日： 2021-02-02 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于滤波阵列的硅片反射率检测方法，其包括以下步骤：将需检测的硅片放入密闭的箱体内；光源采用漫反射的方式对箱体内的硅片进行打光；采用相机对箱体内的硅片进行拍照获得图片，所述相机包括滤波阵列和感光元件，通过合理制定滤波阵列，用灰度来表征反射率，在一次测量中就可以得到多个波段的反射率信息，免去了光源切换不同波段的繁琐；利用感光元件的原理，用灰度值来表征样品反射的光子数，可以快速得到硅片各个局部区域的反射率信息，符合生产线上快速高效测量反射率的要求；同时，所需硬件配置简单，工作可靠性高，无需光源波段切换的控制系统和模拟太阳光谱的光源，成本较低，易于广泛推广应用。
基于滤波阵列硅片反射率检测方法

[发明专利]硅片绒面结构、具有该绒面结构的硅片及其应用-CN201910154126.7在审
发明人：陈全胜;赵燕;刘尧平;吴俊桃;唐旱波;林珊;杜小龙 -专利权人：中国科学院物理研究所
申请日： 2019-03-01 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： H01L31/0236 文献下载
摘要：本发明提供一种硅片绒面结构，包括V型槽与正置金字塔和/或倒置金字塔结构的组合。本发明还提供一种具有本发明的硅片绒面结构的硅片。同时，本发明还提供本发明的硅片在太阳能电池中的应用。本发明的硅片绒面结构具有如下优点：比现有技术的正置金字塔或倒置金字塔绒面结构具有更加优异的全向性能，同时比现有技术正置金字塔绒面结构具有更加优越的垂直反射率。本发明的硅片绒面结构不仅能够在标准测试条件下具有更好的电学性能，还可以在实际应用中，与现有太阳能电池组件技术相比，一天内可以获得更多的发电量，从而降低降低太阳能组件发电成本。
硅片结构具有及其应用

[实用新型]硅片反射率测量装置-CN201921394002.8有效
发明人：陈全胜;唐旱波;刘尧平;王燕;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2019-08-26 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种硅片反射率测量装置，其包括样品台、光源模块、光学镜头模块、数据采集模块和数据分析运算模块，样品台用于放置待测硅片样品；光源模块用于为放置在样品台上的硅片样品提供均匀的具有特定光谱的光源,光学镜头模块用于将经过硅片样品反射的光进行汇聚并过滤掉非反射光；数据采集模块用于将经过光学镜头模块汇聚的光信号转化为电信号，并输出结果。数据分析运算模块用于将数据采集模块的输出结果与标准样品的测试结果进行比对得出硅片样品的反射率。整体结构设计合理，省去传统分光装置，有效简化整体结构，硬件配置简单，易于实现，工作可靠性高，能精确、快速测量出硅片反射率，适用范围广，成本较低，利于广泛推广应用。
硅片反射率测量装置

[发明专利]光学检测光源设计方法及其光源-CN201910791328.2在审
发明人：陈全胜;唐旱波;刘尧平;王燕;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2019-08-26 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学检测光源设计方法及其光源，采用LED、氙灯和卤素灯中一种或多种进行组合形成光源，将光源设置在能将光线投射在被测样品上的位置，调整光源的光谱L(λ)与理想光谱I(λ)在六个波段的光谱匹配度都在0.4～2.0之间，光谱匹配度的定义是光源的光谱分别在400‑500nm、500‑600nm、600‑700nm、700‑800nm、800‑900nm和900‑1100nm这六个波段范围实际测试的总辐照度的百分比与理想光谱辐照分布的百分比的比率。本发明提供的设计方法设计出的光源可以直接进行光学测量，减少使用分光设备进行被测样品的光学检测，提升检测效率，具有快速、成本低等优点。
光源光谱光谱匹配度被测样品波段光学检测光源分光设备光线投射光学测量光学检测光源设置辐照辐照度卤素灯氙灯测试检测

[发明专利]硅片反射率测量方法及其测量装置-CN201910791330.X在审
发明人：陈全胜;唐旱波;刘尧平;王燕;杜小龙 -专利权人：松山湖材料实验室
申请日： 2019-08-26 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种硅片反射率测量方法，其包括以下步骤：(1)使用具有特定光谱的光源均匀的照射到硅片样品的表面；(2)通过光学镜头将硅片样品表面反射的光聚焦到光电探测器上；(3)光电探测器接收到的光信号转换为电信号，并输出结果；(4)将输出结果与标准样品的测试结果进行比对得出待测硅片样品的反射率。本发明还公开了一种硅片反射率测量装置，整体结构设计合理，能精确、快速测量出硅片反射率，避免主观判断的差异性，速度快、精度高、重复性高，可以对大面积硅片反射率进行测量，实现批量化检量，适用范围广，成本较低，利于广泛推广应用。
硅片样品反射率硅片光电探测器输出结果反射率测量装置整体结构设计大面积硅片反射率测量光信号转换标准样品表面反射光学镜头快速测量主观判断差异性光聚焦批量化比对光谱光源照射测量

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