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[发明专利]一种大面阵CMOS探测器数字域本底噪声的扣除方法-CN202310654973.6在审
发明人：宁永慧;陈欣然;邵帅;司国良 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-06-05 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： H04N25/60 文献下载
摘要：本发明涉及一种大面阵CMOS探测器数字域本底噪声的扣除方法，在该方法中，首先设置大面阵CMOS探测器产生暗场图像L1，并对齐进行分块，统计分块图像的均值，得到暗场图像L1对应的图像块均值矩阵；设置探测器正常成像，获得感光图像L2；通过探测器辐射标定方法获得辐射标定暗场图像L0，并将辐射标定暗场图像数据按照与暗场图像数据的同类划分方式进行分块，统计分块图像的均值后得到辐射标定暗场图像L0对应的图像块均值矩阵；分别计算两个图像块均值矩阵的方差，并比较两个方差的大小，判断暗场图像是否有效。该方法实现大面阵CMOS探测器海量像元本底的精确扣除，提高了探测器成像过程中的适应性，提高图像的信噪比指标。
一种大面 cmos 探测器数字本底噪声扣除方法

[发明专利]一种震动退质的空间遥感图像地面仿真方法-CN202310921103.0在审
发明人：毕国玲;司国良;石俊霞;宁永慧;鲍赫;韩诚山 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-07-26 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及遥感图像处理与航空航天技术领域，具体涉及一种震动退质的空间遥感图像地面仿真方法，对静止轨道面阵凝视相机对地观测中，在不同曝光时间下，对卫星震动对成像质量影响的进行仿真，分方向建立卫星震动仿真模型；所述卫星震动仿真模型建立的方式为：在地面搭建了一用于仿真因平台震动而导致空间遥感图像退质的仿真光学平台；通过仿真转动平台横向或纵向的运动，从而达到了利用转动平台的转动，来模拟实际在轨平台的震动；本申请能够模拟在轨平台震动导致空间遥感图像退质，是进行指导复原算法的有效的一种实施方法。
一种震动空间遥感图像地面仿真方法

[发明专利]一种探测器的时序控制方法-CN202310756284.6在审
发明人：余达;司国良;魏君成;梅贵;宁永慧;石俊霞;刘春香 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： H04N25/76 文献下载
摘要：一种探测器的时序控制方法，涉及探测器的时序控制技术领域，解决现有探测器的时序控制过程中，由于工作的时序不同，工作时序复杂，容易出现设计错误；引起探测器内部工作异常，导致输出异常的图像等问题，本发明方法中，将整个帧周期划分为读出阶段和曝光阶段。读出阶段的长度不随曝光时间变化；当曝光时间长度低于曝光工作时序所需的最小长度时，则曝光阶段的长度为恒定的曝光工作时序所需的最小长度；当曝光时间长度大于曝光工作时序所需的最小长度时，则曝光阶段的长度为曝光时间与曝光处理操作时间之和。本发明将曝光时间长度于曝光工作时序所需的最小长度进行比较，从而形成不同信号的电平长度和计时起点位置，避免时序出错。
一种探测器时序控制方法

[发明专利]一种提高TDI探测器行频匹配精度的方法-CN202310757033.X在审
发明人：余达;司国良;刘春香;宁永慧;石俊霞;邵帅;陈欣然 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-06-26 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： H04N25/47 文献下载
摘要：一种提高TDI探测器行频匹配精度的方法，涉及TDI探测器应用技术领域，解决现有TDI探测器工作过程中，行周期匹配精度受限于像素时钟周期的分辨率的问题，本发明中，设定行周期长度为像素时钟周期的非整数倍，可进一步提高行周期长度的分辨率，从而进一步提高像移匹配的精度；计算各驱动控制信号时的跳变沿位置时，仅使用以像素时钟为单位的整数部分进行计算，减小计算过程中的资源占用率和复杂程度；对于行周期长度的计数器，才使用精确的行周期长度值进行控制，从而获得更高时间分辨率的行周期控制精度。
一种提高 tdi 探测器匹配精度方法

[发明专利]一种基于静止轨道的在轨遥感图像复原评价方法及系统-CN202310692338.7在审
发明人：毕国玲;陈欣然;司国良;余达;宁永慧;刘春香;石俊霞;李巍;鲍赫 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于静止轨道的在轨遥感图像复原评价方法及系统，所述方法适用的系统依次包括：积分球，刃边图像靶标，平行光管，空间相机原理样机，成像处理器以及快视设备；所述成像处理器分别与空间相机原理样机和快视设备之间设有连接的线缆；该方法包括以下步骤：步骤一、采集图像；步骤二、计算奈频传函；步骤三、计算信噪比；步骤四、融合评价。本发明的基于静止轨道的在轨遥感图像复原评价方法及系统，针对静止轨道凝视成像的面阵相机在轨复原时，奈频传函提高而信噪比下降这一矛盾，以及现有图像复原评价方法的局限性，可以根据总体指标要求，将奈频传函和信噪比这两个指标进行融合评价，有效指导复原算法的改进。
一种基于静止轨道遥感图像复原评价方法系统

[发明专利]一种大面阵CMOS探测器异常像元检测及实时替换方法-CN202310655297.4在审
发明人：宁永慧;陈欣然;邵帅;石俊霞;司国良 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-06-05 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种大面阵CMOS探测器异常像元检测及实时替换方法，包括以下步骤：FPGA对输入的图像数据进行行缓存；并行读取三行数据，采用改进9值排序算法实现3×3图像灰度值排序，获得3×3区域内的图像灰度的最大值、最小值、中值以及当前像元8邻域的图像灰度均值，最后根据各个时刻下极值、中值、均值参数以及盲元判别标准判断当前像元是否为盲元，若是，则用该当前像元所在的3×3区域内的图像灰度中值替换该盲元的灰度，并输出替换后的图像数据。本发明的方法适应性强，在探测器寿命末期能够更好的实现盲元替换功能；降低了实验室辐射标定的复杂度；对部分像元的盲元替换仅在一定灰度范围时进行，保留了像元的部分响应特性。
一种大面 cmos 探测器异常检测实时替换方法

[发明专利]基于流速控制的大面阵CMOS探测器数据缓存异速匹配方法-CN202310655133.1在审
发明人：宁永慧;陈欣然;石俊霞;邵帅;司国良 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-06-05 - 公布日： 2023-09-01 - 主分类号： G06T1/60 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于流速控制的大面阵CMOS探测器数据缓存异速匹配方法，在该方法中，大面阵CMOS探测器采用多通道同步输出方式输出图像数据至FPGA，FPGA内部双口RAM对输入的多通道图像数据进行缓存，DDR3‑IP核控制器从FPGA内部双口RAM中读出缓存数据并写入DDR3‑SDRAM中，并利用流速控制的方法对FPGA内部双口RAM的读写操作进行异速匹配。本发明通过一级缓存双口RAM，利用流速控制的方法，实现了图像数据异速匹配；在对图像数据缓存和输出控制时，降低了FPGA内部RAM的资源利用率；能够释放1/2的双口RAM资源用于图像处理；资源利用率的降低也导致FPGA动态功耗的降低。
基于流速控制大面 cmos 探测器数据缓存匹配方法

[发明专利]长时间工作的探测器SPI寄存器的预防打翻方法-CN202210757591.1有效
发明人：余达;司国良;张宇;徐东;李云飞;赵宇宸;张择书 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-06-30 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G06F13/42 文献下载
摘要：长时间工作的探测器SPI寄存器的预防打翻方法，涉及探测器SPI寄存器的预防打翻方法，解决现有技术容易出现高能粒子把探测器内部寄存器打翻而出现错误的寄存器值被执行，存在影响最终的输出图像质量，及造成CMOS探测器的损坏等问题，本方法通过内部设置的定时器，定时从存储成像参数的RAM中读出寄存器值并经并串转化后送入探测器。通过与成像控制器的交互握手，在接收新的成像参数后写入RAM中；在无新成像参数时，将三个RAM中的成像参数进行比较，将不一致的RAM内的数据进行相同修改。控制器并根据摄像任务间隔时间的长短，选择定时给成像单元发送成像参数；或将探测器下电后重新上电再发成像参数；或整个焦面下电后再上电，探测器上电后再发成像参数。
长时间工作探测器 spi 寄存器预防打翻方法

[实用新型]一种便于清理的污水治理箱-CN202223467555.6有效
发明人： 司国良;王洪兰;冯琳玉 -专利权人：王洪兰
申请日： 2022-12-25 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： B01D29/01 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便于清理的污水治理箱，属于污水治理技术领域，包括箱壳，所述箱壳的顶面上固定安装有顶壳，所述顶壳的顶面上固定安装有驱动电机与进水管，所述驱动电机的输出轴一端设置有搅水组件，所述箱壳的内壁上设置有过滤网，所述箱壳的两侧外壁上均固定安装有出水管，所述出水管的内部设置有疏通组件；本实用新型中，通过在内设置有搅水组件与过滤网，通过该设计，能够使设备在工作时，能够进行同步的滤网清理，从而持续保持该箱体的污水处理效果，同时在内设置有疏通组件，通过结构的联动作用，能够有效保证排水效果。
一种便于清理污水治理

[发明专利]一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法-CN202310300911.5在审
发明人：余达;吕恒毅;司国良;张宇;孙雪晨;邵帅 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2023-03-24 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法，涉及探测器的非均匀校正技术领域，解决现有进行探测器非均匀校正时，当校正系数和输入图像存在偏差时，无法检测出来等问题，本发明的校正系统包括TDICMOS探测器、成像控制器、积分球、图像数据采集及处理器和温度控制器；检测方法根据输入并行图像数据的位宽来设置乘积校正系数小数部分和加减校正系数的位宽，根据获取图像的最大与最小值相差倍数来设置一次乘积校正系数的整数部分位宽；在校验检测过程中容忍1个DN值的偏差，但在相邻的校正系数中设置计算结果超过1DN的系数值。
一种探测器均匀校正参数设置检测方法

[发明专利]基于温差补偿的探测器训练方法-CN202211665629.9在审
发明人：余达;司国良;宁永慧;石俊霞;刘强;刘炳晖;高子益 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-12-23 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06N20/00 文献下载
摘要：基于温差补偿的探测器训练方法，涉及CMOS探测器训练应用技术领域，解决现有探测器开始上电到摄像探测器温度达到热平衡维持不变，需要较长的时间，严重影响摄像效率且位校正过程中检测跳变沿位置与实际的状态不符合导致采样位置并非最佳位置等问题，首先测量在工作稳态时和初始工作时的温度差值和检测到的跳变沿所对应的延迟tap值差异，然后在测量过程中将对应的tap差值补偿进校正公式中。另外，对基于双数据速率输入寄存器IDDR的应用，对采样时钟沿切换、检测到跳变沿个数的判定等进行了优化。
基于温差补偿探测器训练方法

[发明专利]多工作模式探测器的等时间间隔图像数据传输方法-CN202211113880.4在审
发明人：余达;司国良;石俊霞;邵帅;孙铭;张艳鹏;王梦莹 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2022-09-14 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： H04N5/374 文献下载
摘要：多工作模式探测器的等时间间隔图像数据传输方法，涉及多工作模式探测器应用技术领域，解决现有TDICMOS探测器在不同的传输模式下，均按照最快行频连续进行多行图像数据的传输，剩余的时间段设置为消隐期，则可能出现接收端需要大容量存储器进行图像数据缓存等问题，本发明提出根据工作的探测器行频来设置传输间隔时间，尽量让图像数据均匀分布，减少接收端的数据缓存。本发明将不同行频的图像数据等间距数据，减小接收端数据缓存的压力，提高应用的可靠性，减小资源开销。将当前执行的行周期长度锁存后送入数传模块来产生各行数据延迟的间隔时间，保证输出的图像数据尽量均匀，也降低成像部分的资源占用率。
工作模式探测器时间间隔图像数据传输方法

[发明专利]一种基于图像分解的去雾复原方法-CN202110563426.8有效
发明人：毕国玲;司国良;何斌;石俊霞;赵莹 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-05-24 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：一种基于图像分解的去雾复原方法，涉及数字图像处理技术领域，解决现有去雾复原方法中先验信息失效时对透过率估计不准确及自适应差的问题，本发明所述的去雾复原方法，根据大气散射模型，本算法将有雾图像最小通道图像分解成稀疏衰减和低秩大气光两部分，通过稀疏大气光部分的准确估计，从而得到细节丰富的透过率图，利用引导滤波对透过率图像进行平滑滤波处理，即可准确的透过率估计，算法处理效果较好且自适应能力强。
一种基于图像分解复原方法

[发明专利]均匀电荷转移动态行周期成像的仿真验证方法-CN202110727139.6有效
发明人：余达;韩诚山;吕恒毅;司国良;姜肖楠;赵莹;邵帅 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2022-11-01 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：均匀电荷转移动态行周期成像的仿真验证方法，涉及电荷转移动态行周期成像的仿真验证技术领域，解决现有方法设计的工作时序，存在跳变沿位置出现跳变，导致电荷转移没输出，导致出现异常等问题，本发明从仿真激励和测试验证角度，从可能出现异常现象的机理出发，根据机理进行测试和测试条件设计测试用例，提前发现设计中可能存在的问题，缩短设计周期，降低工程风险。通过成像系统的特点，进行可能出现异常行周期的精确定位，可以快视进行状态的判断，节约设计验证周期；通过控制器设备自动化的等间隔改变行周期长度，并通过快视设备进行判断，避免人工出现的疲劳而错过了判断，同时加快判断速度。
均匀电荷转移动态周期成像仿真验证方法

[发明专利]一种TDICMOS成像系统的供电方法-CN202110427507.5有效
发明人：余达;吕恒毅;司国良;张宇;宁永慧;刘海龙;邵帅 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-04-21 - 公布日： 2022-08-26 - 主分类号： H02J1/00 文献下载
摘要：一种TDICMOS成像系统的供电方法，涉及CMOS成像技术领域，解决现有对TDICMOS探测器供的方法难以满足高温度范围和抗辐射的要求的问题，本发明提出采用DDR3供电芯片来进行探测器的低电压大拉灌电流供电，通过外部基准源加分压电阻及跟随运放的形式来提供DDR3芯片低漂移低纹波的可调参考电压；通过与成像控制器共用点负载输出的数字电压来进行DDR3芯片的数字逻辑供电；通过与成像控制器共用点负载输出的内核电压作为DDR3芯片内部LDO的低压差供电，减少供电电源芯片数量，同时提高供电效率。针对成像控制器和TDICMOS探测器都存在上电顺序要求，设计了专门的上电时序，保证成像控制器和探测器上电过程中不会出现瞬态大电流，稳定可靠地工作。
一种 tdicmos 成像系统供电方法

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