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[发明专利]微机械结构和用于制造微机械结构的方法-CN201880070217.6有效
发明人： B·维森特 -专利权人： 史派克托里提克有限公司
申请日： 2018-08-24 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： C23C14/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种微机械结构，该微机械结构包括：基板(1)；粘附层(3)，所述粘附层(3)沉积在所述基板(1)上；第一金属层(4)，所述第一金属层(4)沉积在所述粘附层(3)上；铁电层(5)，所述铁电层(5)沉积在所述第一金属层(4)上且具有锆钛酸铅，并且所述铁电层(5)的铅浓度随着与所述第一金属层(4)的距离的增大而以阶梯式降低，以使得所述铁电层(5)具有多个再生层(13)，各再生层(13)中的铅浓度分别是均匀的；以及第二金属层，所述第二金属层沉积在所述铁电层(5)上。
微机结构用于制造方法

[发明专利]衰减全反射光谱仪-CN201780057469.0有效
发明人：班杰明·威森特 -专利权人： 史派克托里提克有限公司
申请日： 2017-07-14 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： G01N21/552 文献下载
摘要：本发明涉及一种具有ATR‑晶体(1)的ATR‑光谱仪，其包括是截短锥形形状的区段(3)和相对于彼此平行布置的两个平面表面；发射器(11)，其被设计成经由所述表面中的一个表面并且基本上垂直于所述表面中的所述一个表面将电磁辐射(13)发射到所述截短锥形形状的所述区段(3)的侧表面(16)，所述侧表面(16)被设计成将所述电磁辐射(13)反射到所述一个表面，使得所述电磁辐射(13)可以通过所述两个表面上的多次反射在所述ATR‑晶体(1)中传播并且随后可以通过在所述截短锥形形状的所述区段(3)的所述侧表面(16)上的反射耦合出所述ATR‑晶体(1)；以及检测器(12)，其被设计成检测耦合出所述ATR‑晶体的所述电磁辐射(13)。
衰减全反射光谱仪

[发明专利]ATR红外线光谱仪-CN201480075240.6有效
发明人：卡斯顿·吉伯乐;班哲明·莱哈德·维森特 -专利权人：派洛斯有限公司;史派克托里提克有限公司
申请日： 2014-11-27 - 公布日： 2019-08-27 - 主分类号： G01N21/3577 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于分析样本的化学组成的ATR红外线光谱仪(1)，其具有細长ATR晶体(2)、布置于ATR晶体(2)上的红外光发射器线(8)和布置于所述ATR晶体(2)的另一纵向端处的红外光检测器线(10)，所述ATR晶体(2)的入口表面(4)布置于所述ATR晶体(2)的一个纵向端处。从所述红外光发射器线(8)发射的红外光经由所述入口表面(4)直接进入所述ATR晶体(2)，且在所述ATR晶体(2)中导引到所述红外光检测器线(10)，同时经历全内反射且与所述样本交互作用，样本布置于所述红外光发射器线(8)与邻近所述ATR晶体(2)的所述红外光检测器线(10)之间。所述红外光检测器线(10)的所有红外光检测区域(18)关于垂直于所述ATR晶体的纵向轴线(21)的方向的总延伸(13)最大对应于所述ATR晶体(2)的宽度(14)且大于所述红外光发射器线(8)的所有红外光发射区域(17)的总延伸(12)。
atr 红外线光谱仪