“刘霓虹”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果2个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种基于特征波长的椰糠基质有效氮光谱检测方法-CN201910055761.X有效
发明人：汤修映;鲁兵;刘霓虹;胡灿;董俊;李惠玲;熊征;李苇 -专利权人：中国农业大学
申请日： 2019-01-22 - 公布日： 2020-11-03 - 主分类号： G01N21/25 文献下载
摘要：本发明属于设施农业快速光学检测技术领域，涉及一种基于特征波长的椰糠基质有效氮光谱检测方法，包括如下步骤：S1、椰糠基质样本前处理；S2、光谱数据采集；S3、椰糠基质样本有效氮含量的理化值测定；S4、用Savitzky‑Golay平滑对光谱数据预处理；S5、用Kennard‑Stone算法对光谱数据分组；S6、用SPA从256个波长中筛选31个特征波长；S7、提取31个特征波长下的椰糠基质样本光谱数据；S8、将提取的光谱数据与测定的理化值对应，并根据步骤S5中的分组，形成校正集和验证集；S9、利用校正集建立MLR模型，利用验证集进行模型预测性能检验；S10、运用MLR模型对有效氮含量未知的椰糠基质进行光谱检测。该方法可实现椰糠基质有效氮的快速定量检测，模型极简有效，系统运算速度快。
一种基于特征波长基质有效光谱检测方法

[发明专利]消除栽培基质颗粒表面散射及水分影响的光谱检测方法-CN201811470293.4在审
发明人：汤修映;鲁兵;刘霓虹;杨可菲;李惠玲;李苇;胡灿 -专利权人：中国农业大学
申请日： 2018-11-27 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01N21/359 文献下载
摘要：本发明涉及一种消除栽培基质颗粒表面散射及水分影响的光谱检测方法，包括如下步骤：S1、栽培基质颗粒快速干燥去除所含的水分；S2、栽培基质颗粒快速粉碎；S3、利用目数≥50目的标准筛网对粉碎栽培基质颗粒进行筛选；S4、筛选后的栽培基质颗粒光谱数据采集；S5、采用理化实验测定栽培基质颗粒待测化学成分理化值；S6、以3：1的比例将样品集划分为校正集和验证集；S7、对校正集光谱数据进行预处理，并利用校正集建立栽培基质颗粒实测理化值与预处理光谱数据之间的关系模型，再利用验证集数据检验模型的预测性能。该模型用于栽培基质颗粒化学成分的快速检测，并能有效地消除栽培基质颗粒表面散射和水分对光谱预测结果的影响。
栽培基质颗粒表面散射光谱检测水分影响校正集预处理光谱数据采集校正集光谱验证集数据预处理光谱筛选标准筛网关系模型光谱预测颗粒化学快速干燥快速检测理化实验预测性能验证集有效地再利用目数去除实测检验