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[发明专利]一种透明胶点的胶高自动检测方法-CN202310234524.6在审
发明人：高艺博;刘豫颖;张业;熊钦 -专利权人：深圳市轴心自控技术有限公司
申请日： 2023-03-13 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种透明胶点的胶高自动检测方法，包括三轴运动平台、CCD相机、点距离传感器和球形治具，自动检测方法包括中心点测高模式和基准面测高模式，中心点测高模式：校正点距离传感器和CCD相机的焦点位置；获取胶点的轮廓中心点坐标；在胶点轮廓中心点坐标周围的一定范围内标定多个探测坐标点，并测距，拟合出所述胶点的3D轮廓，计算出胶点表面最高点的坐标，测量与胶点表面最高点和与胶点下表面的距离；计算两者差值，得出胶点高度值；结合CCD相机对胶体的轮廓进行识别，通过在胶点中心一定范围内自动探测，且对胶体3D轮廓形态进行模拟，极大提高了测量精度，通过中心点测高模式和基准面测高模式，以适应各种不同的点胶场景。
一种透明胶自动检测方法

[实用新型]OBU的外接装置及车载设备-CN202120936261.X有效
发明人：张海榕;何小川;刘豫颖 -专利权人：深圳市金溢科技股份有限公司
申请日： 2021-04-30 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： H02J7/35 文献下载
摘要：本实用新型涉及了一种OBU的外接装置及车载设备，该OBU的外接装置包括：与所述OBU电连接的接口模块；用于通过所述接口模块为所述OBU供电的电池模块。实施本实用新型的技术方案，增加了OBU的供电形式，可解决传统OBU的太阳能电池板产能能力弱、供电能力不足的问题，避免车辆因OBU断电而为用户造成不便的情况发生。
obu 外接装置车载设备

[发明专利]一种新型模拟自然光双向反射分布函数测试装置-CN201811600516.4有效
发明人：代京京;王智勇;刘豫颖;赵思思;张景豪 -专利权人：北京工业大学;北京空间机电研究所
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型模拟自然光双向反射分布函数测试装置，包括：测试光源、测试室和信号处理系统；测试光源包括卤素灯光源和可见光超连续谱激光光源，卤素灯光源经准直后的光束、可见光超连续谱激光光源的激光束经多层介质膜光栅后合为一合束光；合束光入射至测试室内的待测样品上，经待测样品散射后，散射光信号被测试室内的光电探测器接收，光电探测器输出信号至信号处理系统进行处理，得到待测样品的双向反射分布函数。本发明可选择被样品吸收率较低的卤素灯光源或可见光超连续谱激光光源作为测试光源，降低光学系统误差；可见光超连续谱激光光源在测试时可直接照射到待测样品上，无需进行准直，入射光照度光学系统误差和测量值误差较小。
一种新型模拟自然光双向反射分布函数测试装置

[实用新型]一种新型双向反射分布函数快速测试系统-CN201822193927.8有效
发明人：代京京;王智勇;刘豫颖;赵思思;张景豪 -专利权人：北京工业大学;北京空间机电研究所
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新型双向反射分布函数快速测试系统，半球型测试暗室的顶部设有通光孔，通光孔的正上方设有测试光源；半球型测试暗室的内球面上紧密排布有多个光电探测器，所有光电探测器与信号处理系统相连；半球型测试暗室内设有四维工作转台，待测样品通过样品支撑部件安装在四维工作转台上，四维工作转台带动待测样品水平面旋转和垂直面旋转；测试光源的光束经准直后，经通光孔入射至待测样品上；入射光经待测样品散射后，散射光信号被光电探测器接收，光电探测器输出信号至信号处理系统进行处理，得到待测样品的双向反射分布函数。本实用新型可实现2π半球空间范围内样品双向反射分布函数的快速测量，测量精确度高。
待测样品双向反射分布函数光电探测器测试暗室半球型通光孔四维快速测试系统信号处理系统本实用新型测试光源工作转台光电探测器输出信号散射光信号半球空间部件安装紧密排布快速测量样品支撑垂直面内球面入射光散射入射测量

[发明专利]一种新型双向反射分布函数快速测试系统及方法-CN201811596838.6在审
发明人：代京京;王智勇;刘豫颖;赵思思;张景豪 -专利权人：北京工业大学;北京空间机电研究所
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2019-03-15 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明公开了一种新型双向反射分布函数快速测试系统及方法，半球型测试暗室的顶部设有通光孔，通光孔的正上方设有测试光源；半球型测试暗室的内球面上紧密排布有多个光电探测器，所有光电探测器与信号处理系统相连；半球型测试暗室内设有四维工作转台，待测样品通过样品支撑部件安装在四维工作转台上，四维工作转台带动待测样品水平面旋转和垂直面旋转；测试光源的光束经准直后，经通光孔入射至待测样品上；入射光经待测样品散射后，散射光信号被光电探测器接收，光电探测器输出信号至信号处理系统进行处理，得到待测样品的双向反射分布函数。本发明可实现2π半球空间范围内样品双向反射分布函数的快速测量，测量精确度高。
待测样品双向反射分布函数光电探测器测试暗室半球型通光孔四维快速测试系统信号处理系统测试光源工作转台光电探测器输出信号散射光信号半球空间部件安装紧密排布快速测量样品支撑垂直面内球面入射光散射入射测量