专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种裸芯片表面缺陷智能检测系统-CN202120121632.9有效
  • 杜林;圣冬冬;王海涛;楼建设;游君;刘港港 - 上海精密计量测试研究所
  • 2021-01-16 - 2021-11-19 - G01N21/88
  • 本实用新型提供了一种裸芯片表面缺陷智能检测系统,包括相机、镜头、升降支架、检测工作台和计算机;裸芯片放置在检测工作台上,检测工作台通过导轨进行前后和左右移动;镜头安装在相机前端,用于对采集的裸芯片图像进行放大,镜头位于检测工作台正上方;相机安装在升降支架上,通过升降支架进行上下移动,调整相机与裸芯片之间的距离;计算机与相机通过网线连接,将相机采集的裸芯片图像进行处理,并通过检测模型对裸芯片图像进行识别,判断裸芯片是否存在缺陷,当裸芯片存在缺陷时,计算机通过连接的报警器进行报警。本实用新型有效避免了漏检情况的发生,大幅提升了缺陷识别检测效率,降低了人工劳动强度。
  • 一种芯片表面缺陷智能检测系统

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