专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种改性颗粒生产用喂料装置-CN202222739070.1有效
  • 范雨萱;刁晓飞;刁晓磊;吴承朔 - 凌碳生物科技(香河)有限公司
  • 2022-10-18 - 2023-06-20 - B65G47/18
  • 本申请公开了一种改性颗粒生产用喂料装置,包括粉碎箱,粉碎箱内部开设有锥形腔,粉碎箱底部设置有和锥形腔相连通的出料通道,出料通道底部设置有与其相连通的和输料筒,锥形腔内部设置有细化机构,细化机构包括锥形过滤网,锥形过滤网的内部转动设置有转杆,转杆上设置刀片组件,可契合锥形过滤网内部,从而对不同高度的原料进行均匀粉碎,转杆的下端贯穿锥形过滤网连接有防堵绞龙,用于向输料筒内输送原料,输料筒内转动设置输料绞龙,用于向喂料口输送原料;在将原料输入进锥形过滤网内时,粉碎刀片可对原料进行粉碎,粉碎细化后的原料穿过锥形过滤网,而大体积的原料则被锥形过滤网拦截,继续进行粉碎,有效地避免原料堵塞出料通道。
  • 一种改性颗粒生产喂料装置
  • [实用新型]全生物降解改性颗粒挤出装置-CN202222746390.X有效
  • 刁晓飞;刁晓磊;孙爱杰 - 凌碳生物科技(香河)有限公司
  • 2022-10-18 - 2022-12-27 - B29C48/285
  • 本实用新型涉及加工机械技术领域,且公开了全生物降解改性颗粒挤出装置,解决了目前市场上全生物降解改性颗粒原料中若混杂有砂石等杂物若不经过处理直接加入颗粒挤出机设备会导致该颗粒挤出机设备产生损耗,且一次送入较多的原料后容易在进料口处产生堵塞的问题,其包括挤出机,挤出机的顶部设置有进料口,挤出机的表面固定连接有送料管,送料管的顶部设置有机罩,机罩的一侧固定连接有加工台,进料口的一侧设置有搅拌机构,通过该过滤机构的设置,可以避免原料内存在较大杂物进入挤出机后对挤出机造成的损耗,且通过搅拌机构沿着过滤网表面进行搅拌,加快了原料沿着进料口通过的效率的同时,加快了过滤机构的过滤效率。
  • 生物降解改性颗粒挤出装置
  • [发明专利]一种基于集成阵列式波片的四象限干涉测量系统-CN202111255151.8在审
  • 刁晓飞;范芯蕊;张博 - 中国计量科学研究院
  • 2021-10-27 - 2022-01-21 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种基于集成阵列式波片的四象限干涉测量系统。干涉测量系统由干涉单元、信号接收单元两部分组成,激光器输出激光经偏振分光棱镜PBS分光两路,反射光经四分之一波片‑平面反射镜‑四分之一波片,变为偏振方向与PBS透射光偏振方向垂直的参考光;同时,透射光经四分之一波片‑平面反射镜‑四分之一波片,变为偏振方向沿PBS透射光偏振方向的测量光,最终得到两束光偏振夹角为90°,汇合于偏振分光棱镜PBS后进入信号接收单元,汇合光通过激光分束器分为四束,均匀照射至集成阵列式波片的四象限干涉信号探测器上。该发明解决了现有信号探测系统占据空间大、不利于集成的问题,适用于对空间及尺寸有较高要求的场景当中。
  • 一种基于集成阵列式波片象限干涉测量系统
  • [发明专利]基于激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统-CN201510313714.2有效
  • 刁晓飞;薛梓;康岩辉 - 中国计量科学研究院
  • 2015-06-10 - 2018-02-13 - G01B11/24
  • 基于激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统属于表面形貌测量技术领域;本发明包括扫描机构、激光干涉测头和回转工件台三部分,被测非球面放置在回转工件台上,扫描机构采用X向导轨与Z向导轨实现XZ平面内扫描,激光干涉测头通过旋转机构固定在Z向导轨末端,激光干涉测头采用激光干涉测量原理保证非球面的高精度测量,且其内部有一个位置传感器来测量被测非球面表面的斜率变化,在测量过程中根据位置传感器的输出实时调节旋转机构,使测头与被测非球面表面始终保持垂直,从而保证测头接受到足够的光信号,本发明可以实现大口径、高数值孔径、大曲率非球面元件表面形状的超精密、快速测量。
  • 基于激光干涉法线跟踪球面测量方法系统
  • [发明专利]基于复合激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统-CN201510313715.7有效
  • 刁晓飞;薛梓;康岩辉 - 中国计量科学研究院
  • 2015-06-10 - 2017-11-03 - G01B11/24
  • 基于复合激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统属于表面形貌测量技术领域;本发明包括扫描机构、复合式激光干涉测头和回转工件台三部分,被测非球面放置在回转工件台上,扫描机构采用X向导轨与Z向导轨实现XZ平面内扫描,复合式激光干涉测头通过旋转机构固定在Z向导轨末端,该测头结合单波长干涉与合成波长干涉技术进行测量,可对微小台阶形状进行直接测量同时保证非球面的高精度测量,该测头内部有一个位置传感器来测量被测非球面表面的斜率变化并实时调节旋转机构,使测头与被测非球面表面始终保持垂直,从而保证测头接受到足够的光信号,本发明可以实现大口径、高数值孔径、大曲率及具有小台阶特征的非球面元件表面形状的超精密、快速测量。
  • 基于复合激光干涉法线跟踪球面测量方法系统
  • [发明专利]基于多波长激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统-CN201510313751.3有效
  • 刁晓飞;薛梓;康岩辉 - 中国计量科学研究院
  • 2015-06-10 - 2017-09-12 - G01B11/24
  • 基于多波长激光干涉的法线跟踪式非球面测量方法与系统属于表面形貌测量技术领域;本发明包括扫描机构、多波长激光干涉测头和回转工件台三部分,被测非球面放置在回转工件台上,扫描机构采用X向导轨与Z向导轨实现XZ平面内扫描,多波长激光干涉测头通过旋转机构固定在Z向导轨末端,该测头采用多波长干涉技术,可以进行绝对距离测量,实现对台阶形状的直接测量同时保留干涉测量高精度、可溯源的特点;该测头采用位置传感器来测量被测非球面表面的斜率变化并实时调节旋转机构,使测头与被测非球面表面始终保持垂直,从而保证测头接收到足够的光信号;因此,本发明可以实现大口径、高数值孔径、大曲率及具有台阶特征的非球面元件表面形状的超精密、快速测量。
  • 基于波长激光干涉法线跟踪球面测量方法系统

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