专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]芯片存储器的测试方法、存储介质-CN202310786652.1在审
  • 吴松林;杨嵩;冯树萱;杨凡;郑朝霞 - 深圳国微福芯技术有限公司
  • 2023-06-29 - 2023-09-08 - G11C29/12
  • 本发明公开了一种芯片存储器的测试方法、存储介质。本发明提出的芯片存储器的测试方法,包括:读取芯片的电路设计文件,并找到芯片的所有存储器;对所有存储器进行分组,包括:兼容性分组和/或复用性分组;所述兼容性分组的定义为将可被同一个控制器控制、可同时进行测试、对电路参数的要求具有一致性的存储器划分在同一组;所述复用性分组的定义为将可复用同一个接口电路来连接控制器的存储器划分在一组;基于存储器的分组,生成对应的接口电路及控制器电路;基于控制器电路及接口电路对分组后的存储器进行测试。本发明可以有效提高芯片存储器的测试效率。
  • 芯片存储器测试方法存储介质

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