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[发明专利]电流传感器、电气控制装置、电流传感器模块及其制造方法-CN202310066123.4在审
发明人： 冈祯一郎;平野裕幸;毛受良一;高桥真;木槫隼人 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2023-01-16 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明的电流传感器具备磁检测部和第一软磁体。磁检测部被施加第二方向的磁通量，第二方向的磁通量由沿着第一方向流过导体的电流产生。第一软磁体具有底部、第一壁部和第二壁部，底部位于在与第一方向正交的第三方向上从磁检测部看与导体相反的一侧，第一壁部和第二壁部各自立设于底部且在第二方向上夹着导体和磁检测部对置。
电流传感器电气控制装置模块及其制造方法

[发明专利]磁传感器、校正电路、磁传感器模块、电气控制装置和校正方法-CN202211095696.1在审
发明人：平野裕幸;高桥真;毛受良一;冈祯一郎;木槫隼人 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2022-09-08 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01R33/00 文献下载
摘要：本发明提供一种磁传感器，其能够校正来自软磁性体的残留磁通引起的磁滞误差，并包括包含第一软磁性体和第二软磁性体的软磁性体、以及利用被施加的检测磁通来检测物理量的磁检测部，磁检测部包含第一磁检测部和第二磁检测部。检测磁通包含施加在第一磁检测部的第一检测磁通和施加在第二磁检测部的第二检测磁通，从软磁性体产生的残留磁通包含能够施加在第一磁检测部的第一残留磁通和能够施加在第二磁检测部的第二残留磁通。第一和第二磁检测部配置在第一残留磁通相对于第一检测磁通之比与第二残留磁通相对于第二检测磁通之比不同的位置，基于来自第一和第二磁检测部的第一和第二输出值之差，获取校正了残留磁通引起的磁滞误差的校正物理量。
传感器校正电路模块电气控制装置方法

[发明专利]位置检测系统-CN201910772410.0有效
发明人：平野裕幸;冈祯一郎;安德洋介 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2019-08-21 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01B7/00 文献下载
摘要：本发明的位置检测系统具备：第一磁体、第一软质强磁性体和磁检测部。第一磁体具有在第一方向上着磁的磁化，并且形成包括第一磁力线的第一磁场。第一软质强磁性体沿着与第一方向正交的第二方向延伸，可以对第一磁体沿着第二方向直进移动，并且具有凹凸形状的第一外缘，第一外缘包括第一外缘部分和第二外缘部分，第一外缘部分在与第一方向和第二方向双方正交的第三方向上与第一磁体相距第一距离，第二外缘部分在第二方向上与第一外缘部分的位置不同且在第三方向上与第一磁体相距第二距离。磁检测部设置为相对第一磁体的位置维持一定，并且在第一软质强磁性体静止的状态下，第一磁力线在第一方向上通过磁检测部。
位置检测系统

[发明专利]电流传感器-CN202110195222.3在审
发明人：平野裕幸;高桥真;毛受良一;冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2021-02-20 - 公布日： 2021-08-24 - 主分类号： G01R19/00 文献下载
摘要：本发明提供降低了剩余磁化的影响的电流传感器。电流传感器(1A)包括：能够被电流磁化的磁路(3A、4A)；第一磁敏元件(5)，其配置于电流通电时的磁场与由电流非通电时的磁路(3A、4A)的剩余磁化引起的磁场朝向相同方向的位置；和第二磁敏元件(6)，其配置于电流通电时的磁场与由电流非通电时的磁路(3A、4A)的剩余磁化引起的磁场朝向相反方向的位置。
电流传感器

[发明专利]旋转角度检测装置-CN202010079119.8在审
发明人：安德洋介;平野裕幸;冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2020-02-03 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01D5/245 文献下载
摘要：本发明的旋转角度检测装置具备：n极对(n≥3)的磁铁，在圆周方向上交替地排列有不同的磁极，可与旋转体一体地旋转；磁检测部，被配置于磁铁的周围的区域，包含第1和第2磁检测部；校正信号生成部，生成误差分量被降低了的第1和第2校正信号；及旋转角度检测部，基于第1和第2校正信号，检测旋转体的旋转角度。第1和第2检测信号的波形具有90°的相位差。第1和第2磁检测部包含多个第1和第2磁传感器部。校正信号生成部通过第1传感器信号的加算、第2传感器信号的加算，降低第1和第2检测信号包含的误差分量。磁铁的周围的区域包含沿圆周状分割成n个的第1～第n区域，至少2个第1和第2磁传感器部配置于第1～第n区域中的互相不同的区域。
旋转角度检测装置

[发明专利]磁单元、位置检测装置和磁部件-CN202010064054.X在审
发明人：平野裕幸;冈祯一郎;福冈诚二 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2020-01-20 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G01B7/00 文献下载
摘要：本发明的一种位置检测装置具备磁单元和传感器。磁单元具有磁部件和保持部件。磁部件包括磁体和第一磁轭。磁体在轴向上延伸，与轴向正交的截面的面积在轴向上实质上一定，并且在与轴向正交的径向上具有第一最大外径。第一磁轭在轴向上与磁体邻接配置，并且在径向上具有大于第一最大外径的第二最大外径。保持部件在轴向上延伸且保持磁部件。传感器检出伴随磁单元沿着轴向的移动而变化的磁场。
单元位置检测装置部件

[发明专利]安装光学部件的方法及光学读取头-CN200710182369.9无效
发明人：中込晶;冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2007-10-18 - 公布日： 2008-04-23 - 主分类号： G11B7/08 文献下载
摘要：本发明提供了安装光学部件的方法及光学读取头。该安装光学部件的方法包括以下步骤：将光学部件按压到壳体的安装面上；在使所述光学部件与所述安装面保持平行的同时，使该光学部件与该安装面隔开预定距离；调节所述光学部件的位置和角度；以及将所述光学部件固定到所述安装面上。所述预定距离优选为1μm以上300μm以下。固定所述光学部件的步骤包括施加UV固化型粘合剂以将所述光学部件粘附到所述安装面上的步骤，以及通过照射UV光以固化所述UV固化型树脂来固定所述光学部件的步骤。
安装光学部件方法读取

[发明专利]光学头、焦点偏移误差信号检出方法及光记录再现装置-CN200510127158.6无效
发明人：涩谷义一;冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2005-11-16 - 公布日： 2006-07-26 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：本发明提供不同物理轨道节距的多个光记录媒体中，能够检出轨道跨越信号衰减了的焦点偏移误差信号的光学头的焦点偏移误差信号检出方法和采用该方法的光学头以及光记录再现装置。用受光元件(23)接受光记录媒体反射的主光束(27)，采用从受光区(A～D)分别输出的电信号，通过像散法生成基于主光束的焦点偏移误差信号(MFES)，并通过推挽法生成基于推挽信号(MPS)，通过从焦点偏移误差信号(MFES)减去推挽信号(MPS)，从而由误差信号检出部(31)检出使轨道跨越信号衰减的焦点偏移误差信号(FES)。
光学焦点偏移误差信号检出方法记录再现装置

[发明专利]光学头的焦点偏移误差信号检测方法及光记录再生装置-CN200510113864.5无效
发明人：涩谷义一;冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2005-10-21 - 公布日： 2006-06-07 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种用来在光记录介质中对会聚光束的物镜的焦点位置进行控制的光学头的焦点偏移误差信号检测方法及使用了该方法的光记录再生装置，目的是提供一种在物理轨道间距不同的多个光记录介质中能够检测轨道交叉信号衰减了的焦点偏移误差信号的光学头的焦点偏移误差信号检测方法及使用了该方法的光记录再生装置。使从激光二极管(3)射出的光束射入衍射光栅(19)，将其分割为主光束(27)和±1次的副光束(29a、29b)；利用受光元件(23、25a、25b)接收经光记录介质(15)反射后的主光束(27)和±1次的副光束(29a、29b)；利用误差信号检测部(31)基于光电变换后的电信号来检测轨道交叉信号衰减了的焦点偏移误差信号FES。
光学焦点偏移误差信号检测方法记录再生装置

[发明专利]导热部件、安装辅助部件、光学头及光记录再生装置-CN200510081157.2无效
发明人： 冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2005-06-29 - 公布日： 2006-01-25 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：本发明涉及导热部件、光学头及光记录再生装置，目的在于提供传导在半导体激光器产生的热的导热部件。此外，本发明的目的在于：提供光学特性和电特性等诸特性稳定、能够谋求半导体激光器长寿命化的光学头及使用了该光学头的光记录再生装置。用保持器(33)将半导体激光器(3)固定在光学头(1)的壳体(31)中。导热部件(37)配置在半导体激光器(3)的基座部(3b)和与半导体激光器(3)的电极端子(3d、3e、3f)电连接的FPC(35)之间。导热部件(37)传导在半导体激光器(3)的发光部(3c)产生的热(导热)，发挥将热放出到保持半导体激光器(3)的保持器(33)及壳体(31)的功能。
导热部件安装辅助光学记录再生装置

[发明专利]物镜、致动器、光学头及光学记录再生装置-CN200510076430.2无效
发明人： 冈祯一郎;中込晶 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2005-06-15 - 公布日： 2006-01-18 - 主分类号： G02B7/02 文献下载
摘要：本发明涉及将从光源射出的光会聚并将聚焦光照射到光学记录介质上的物镜和配备有该物镜的致动器、以及将信息记录在光学记录介质上或对所记录的信息进行再生的光学头和使用该光学头的光学记录再生装置。本发明的目的在于提供一种可防止因碰撞而导致的透镜保护部剥离的物镜。另外，本发明的目的在于提供设置有可防止透镜保护部剥离的物镜的致动器、光学头及光学记录再生装置。物镜(9)具有透镜部(21)和一体地形成于透镜部(21)周围的透镜周缘部(23)。在透镜部(23)的、固定透镜保护部(27)的区域内，形成有防止在与光学记录介质碰撞时透镜保护部(27)从透镜周缘部(23)上剥离下来的防剥离部(11)。
物镜致动器光学记录再生装置

[发明专利]受光元件、光学头和光记录再现装置以及光记录再现方法-CN200510067410.9无效
发明人：涩谷义一;冈祯一郎;三岛康儿;由德大介;山家研二 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2005-04-15 - 公布日： 2005-10-19 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：本发明涉及接收照射到层叠多层的信息记录层并旋转的多层记录媒体的激光的反射光后变换成电信号的受光元件，以及涉及具备该受光元件的，对多层记录媒体记录信息或将记录信息再现的光学头和光记录再现装置以及光记录再现方法。提供除去与多层记录媒体的反射光重叠的噪声分量，并可再现高品质的RF信号的受光元件、光学头和光记录再现装置以及光记录再现方法。因此，在经由返回光学系统接收经由物镜照射到层叠多层信息记录层而旋转的多层记录媒体的激光的反射光后变换成电信号的受光元件中，设有具备圆形状的受光区域的第一受光部(27)和在第一受光部(27)的外围同心圆状邻接而配置的第二受光部(29)。
元件光学记录再现装置以及方法

[发明专利]光学头、光学再生装置和光学记录及再生装置-CN200510007437.9无效
发明人： 冈祯一郎;佐藤吉德 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2005-02-18 - 公布日： 2005-08-24 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：从光源1发出的光束入射到偏振器14上。在预先调整偏振器14的透射轴方向、使得偏振器14透射P偏振光的情况下，仅S偏振光被衰减。透过衍射装置2和准直透镜3后入射到分束器4a上的光束基本上仅由P偏振光组成。在分束器4a上反射的部分光束入射到用于对光源1的输出进行反馈控制的光电探测器13上。由于S偏振光被偏振器14所衰减，仅P偏振光入射到光电探测器13上。因此，即使在发出的激光束的量发生变化的情况下，用于记录及再生的光量与用于APC的光量之间的比例基本保持恒定，由此能提高探测激光束强度的精度，从而能够避免在记录和再生过程中产生误差。
光学再生装置记录

[发明专利]光拾取头、光再生装置以及光记录再生装置-CN200410102003.2无效
发明人： 冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2004-12-17 - 公布日： 2005-06-22 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：本发明是关于一种光拾取头与具备此光拾取头的光记录再生装置，即使不追加新的光学组件，也可以进行光源的输出控制，而不会将记录再生用的光束强度减弱。射出光源的光束的中心附近光束入射到绕射组件，穿过分光器等，照射到光记录媒体。另一方面，光束的部分周边光束利用设置在绕射组件的端部的保持器的反射面，使其反射到与光轴约略垂直的方向。被反射面反射的光束入射到光检测器，光检测器依据接收光量，转换成光源的输出监控用的电信号。将此输出监控用电信号回馈到光源的驱动电路，进行光源的输出控制。
拾取再生装置以及记录

[发明专利]光头、LD模组、光学记录和再现设备以及该光学记录和再现设备中使用的衍射元件-CN200410056664.6无效
发明人：涩谷义一;冈祯一郎 -专利权人： TDK株式会社
申请日： 2004-08-13 - 公布日： 2005-02-16 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：由衍射元件(2)将光源(1)发出的光束分为主光束和子光束。因为该衍射元件(2)具有形成为类似正弦波形状的衍射图案，所以子光束的光斑变得大于主光束的光斑。结果，子光束几乎不包含任何当光斑横跨光盘(5)上的任何一条轨迹时产生的跟踪横跨分量。因此，当从主光束的推挽信号中减去用于检测子光束的检测器输出的信号时，能够得到基本不包含DC偏移分量的跟踪误差信号或聚焦误差信号。
光头 ld 模组光学记录再现设备以及使用衍射元件

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