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[发明专利]一种双折射率的测定装置和测定方法-CN202011371090.7有效
发明人：郭文平;关淙元;夏珉;李微;杨克成 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2022-04-08 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开一种双折射率的测定装置，属于光学与晶体学领域，其包括测量光源、扩束镜、汇聚物镜、棱镜、波片、载物台组件、物镜、镜筒、滤波片、偏振片、针孔光阑，扩束镜设置在测量光源的出射方向上，汇聚物镜设置在扩束镜出射光方向上，棱镜设置在汇聚物镜出射光方向上，棱镜的底面设置待测样品，待测样品设置在载物台组件上，物镜末端设置有镜筒，在镜筒和物镜之间设置有滤波片，镜筒内依次设置有偏振片和针孔光阑，载物台组件能升降、旋转、X方向和Y方向的移动，采集从针孔光阑出射的携带有待测样品折射率信息的出射光，从而能获得折射率。本发明装置能精确、方便地测量获得物体的双折射率信息。
一种双折射测定装置方法

[发明专利]一种物体成分均匀性的测定装置和测定方法-CN202011372129.7有效
发明人：郭文平;关淙元;夏珉;李微;杨克成 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开一种物体成分均匀性的测定装置，属于光学与晶体学领域，其包括激光源、扩束镜、波片、聚焦物镜、棱镜、载物台组件、位移平台、偏光显微镜、带通滤波片、物镜和滤光镜筒，扩束镜设置在激光光源的出射方向上，聚焦物镜设置在扩束镜出射光方向上，波片设置在扩束镜和聚焦物镜之间，棱镜设置在聚焦物镜出射光方向上，棱镜的底面用于设置待测样品，棱镜的顶面上悬置有偏光显微镜，聚焦物镜出射光对准棱镜的一个侧面，物镜镜头对准棱镜的另一个侧面，滤光镜筒设置在物镜的出射光方向上，滤光镜筒内设置有可调针孔和偏振片，在滤光镜筒和物镜之间设置有带通滤波片，待测样品设置在载物台组件上。本发明装置能够精确、简单地判定样品的成分。
一种物体成分均匀测定装置方法