专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体集成电路器件-CN200610100534.7无效
  • 元持健治 - 松下电器产业株式会社
  • 2006-07-03 - 2007-01-10 - G11C29/44
  • 本发明提供一种半导体集成电路器件,能够按照各模式划分最佳地控制从外部进行控制的输入输出端子数量,用减少了存储器宏外部产生动作故障的因素的动作进行检查,并能够以各检查模式简单地实施检查、分析等。该半导体集成电路器件包括外部输入输出端子组(100)、具有分别附带在该信号端子组的多个单位输入输出电路的接口电路(200)、存储器宏(400)、用于自测试该存储器宏的BIST电路(500)、以及具有生成各种控制信号的多个电路块的逻辑电路(300),多个单位输入输出电路由各种控制信号分别单独地控制,通过从外部控制预定的外部输入输出信号端子,来由各种内部信号单独地控制其他的多个外部输入输出信号端子的逻辑。
  • 半导体集成电路器件
  • [发明专利]半导体存储装置及检查方法-CN200510106464.1无效
  • 元持健治;车田希总 - 松下电器产业株式会社
  • 2005-09-27 - 2006-05-10 - G11C11/34
  • 提供一种半导体存储装置,具有可瞬时进行涵盖全地址空间的失效位图的确认的单元。具备如下强制控制电路中的任意一种:对由特定的地址信号所选择的内存单元的写入数据或读出数据的逻辑进行强制控制的数据逻辑强制控制电路(21),对由特定的行地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定行强制控制电路(40),对由特定的列地址所选择的内存单元的控制,强制进行与通常动作不同的控制的特定列强制控制电路(50)。该强制失效动作模式与通常动作模式可分别选择。
  • 半导体存储装置检查方法
  • [发明专利]半导体装置-CN200410069894.6无效
  • 元持健治 - 松下电器产业株式会社
  • 2004-07-15 - 2005-02-09 - G11C29/00
  • 本发明提供一种半导体装置,具备:多个存储器宏,其分别具有多个存储单元,并根据对应的激活宏选择信号激活,且在与激活模式控制信号对应的激活模式下动作;和控制部,其在所述多个存储器宏中,为同时激活任意多个存储器宏,而根据输入的动作模式控制信号,生成分别对应于所述多个存储器宏的激活宏选择信号以及激活模式控制信号,并进行输出。这样,可以削减检查等所需要的时间。
  • 半导体装置

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