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- [发明专利]旋转式压缩机-CN202011475963.9在审
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佐藤孝;吉田浩之;比留间义明
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沈阳中航机电三洋制冷设备有限公司
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2020-12-14
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2022-03-08
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F04C18/356
- 一种旋转式压缩机，即使在为了增加制冷剂流通量而加宽了制冷剂吸入通路的最大宽度的情况下也不会延迟压缩室中的制冷剂压缩的开始定时，并且不会使配设在制冷剂吸入通路附近的其他部位和制冷剂吸入通路发生干扰。旋转式压缩机具备：电动部，具备定子、转子及转子的旋转轴；旋转压缩机构部，由旋转轴驱动，且具备具有用于压缩制冷剂的压缩室和将制冷剂吸入压缩室内部的制冷剂吸入通路的气缸，制冷剂吸入通路具备使制冷剂从气缸的外部流入的加宽部和从加宽部朝向压缩室延伸且经由面向压缩室的开口端与压缩室连接的开口部，开口部的开口端的宽度比加宽部的宽度窄，开口端的面积为加宽部的垂直截面积以上。
- 旋转压缩机
- [发明专利]单晶X射线构造解析系统-CN201980088789.1在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-09-28
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G01N23/20025
- 提供能够可靠且容易地进行将微量的试样向微细的晶体海绵的骨架内吸藏的缜密的工序的单晶X射线构造解析系统。具备吸藏装置(500)和单晶X射线构造解析装置，单晶X射线构造解析装置具备：产生X射线的X射线源；保持试样的试样固定器；安装试样固定器并来回转动的测角仪；对安装于测角仪的试样固定器中所保持的试样照射来自X射线源的X射线的X射线照射部；检测通过试样而衍射或散射的X射线来进行测定的X射线检测测定部；和基于在X射线检测测定部中检测到的衍射或散射X射线来进行试样的构造解析的构造解析部，试样固定器包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体，吸藏装置(500)使试样吸藏在试样固定器的细孔性络合物晶体。
- 射线构造解析系统
- [发明专利]单晶X射线构造解析用试样的吸藏装置和吸藏方法-CN201980088995.2在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-24
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G01N23/20025
- 能够将吸藏了试样的细孔性络合物晶体可靠地供给至单晶X射线构造解析装置。使试样吸藏的吸藏装置具备：供给部，将所述试样供给到被试样保持架(310)保持的细孔性络合物晶体；温度调整部，控制所述细孔性络合物晶体的温度；驱动部，驱动所述供给部；以及控制部，控制所述供给部、所述温度调整部和所述驱动部。将所述试样保持架(310)在装配于敷料器(311)的状态下设置于所述吸藏装置，所述供给部对在所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体供给所述试样，所述温度调整部控制在供给所述试样的所述敷料器(311)的内部保持于所述试样保持架(310)的所述细孔性络合物晶体的温度。
- 射线构造解析试样装置方法
- [发明专利]单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元-CN201980089457.5在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-24
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G01N23/20025
- 提供即使没有专业知识也能够迅速、可靠且容易地进行包括吸藏在晶体海绵的试样的搭载作业在内的基于晶体海绵的构造解析的单晶X射线构造解析装置用试样保持架单元。试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线构造解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部、保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物晶体；以及试样导入构造，形成于基台部、导入用于吸藏于细孔性络合物晶体的试样，涂敷器具备：收纳空间以及开口部(302)，收纳试样保持架；以及防脱部，选择性地阻止以及解除收纳于收纳空间的试样保持架从开口部(302)脱出，防脱部具有在向测角仪安装了收纳于涂敷器的试样保持架的状态下解除防脱的操作部。
- 射线构造解析装置试样保持单元
- [发明专利]单晶X射线结构解析装置以及试样保持架-CN201980088735.5在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-20
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G01N23/20016
- 能够比较容易且再现性良好且可靠地将保持有吸藏了单晶的细孔性络合物结晶的试样保持架装备于测角仪头。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；测角仪，具备的测角仪头(514)，该测角仪头(514)装备保持有吸藏了试样的细孔性络合物结晶的试样保持架(310)；X射线照射部，将X射线照射到位置被所述测角仪头(514)调整的所述细孔性络合物结晶；X射线检测测定部，检测通过所述试样衍射或者散射的X射线来进行测定；以及结构解析部，基于在所述X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行所述试样的结构解析，在所述测角仪头(514)的装备所述试样保持架的面形成有决定装备所述试样保持架(310)的位置的定位部。
- 射线结构解析装置以及试样保持
- [发明专利]单晶X射线结构解析装置用试样保持架组件-CN201980088744.4在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-20
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G01N23/20025
- 提供一种能够迅速且容易地进行向晶体海绵的试样的吸藏、迅速且准确地进行单晶X射线结构解析的试样保持架组件。所述试样保持架具备：基台部，安装于单晶X射线结构解析装置的测角仪；保持部，形成于基台部，保持能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；以及试样导入结构，形成于基台部，导入用于使细孔性络合物结晶吸藏的试样，敷料器(300)具备：收纳试样保持架的收纳空间以及开口部(302)；密封部(304)，设置在与收纳于收纳空间的试样保持架的接触面；以及防脱部(305)，与收纳于收纳空间的试样保持架卡合，阻止试样保持架从开口部(302)的脱出。
- 射线结构解析装置试样保持组件
- [发明专利]单晶X射线结构解析装置和用于其的方法-CN201980088745.9在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-20
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G01N23/20025
- 提供一种迅速地进行基于细孔性络合物结晶(晶体海绵)的单晶X射线结构解析、使得包括关联信息的管理在内容易的用户友好的单晶X射线结构解析装置和方法。单晶X射线结构解析装置具备：X射线源，产生X射线；试样保持架，包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶；测角仪，安装并转动试样保持架；X射线照射部，对安装于测角仪的试样保持架中所保持的试样照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，检测通过试样衍射或者散射的X射线来进行测定；结构解析部，基于由X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线进行试样的结构解析；信息取得部(600)，取得与细孔性络合物结晶相关的不变信息或者试样的吸藏以后的可变信息；以及信息保存部(111)，保存在信息取得部(600)取得的不变信息或者可变信息。
- 射线结构解析装置用于方法
- [发明专利]单晶X射线结构解析装置和方法、用于此的试样保持架以及敷料器-CN201980088767.5在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-20
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G01N23/20025
- 提供一种迅速进行使用了细孔性络合物结晶(晶体海绵)的单晶X射线结构解析、包括相关信息的管理在内容易的用户友好的单晶X射线结构解析装置和方法、用于其的试样保持架以及敷料器。单晶X射线结构解析装置是进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置，具备：X射线源，产生X射线；试样保持架(250)，包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏试样的细孔性络合物结晶(200)，保持试样；测角仪，安装并转动试样保持架(250)；X射线照射部，对安装于测角仪的试样保持架所保持的试样照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，检测通过试样衍射或者散射的X射线来进行测定；结构解析部，基于由X射线检测测定部测定出的衍射或者散射X射线来进行试样的结构解析；以及信息取得部(600)，取得与细孔性络合物结晶相关的信息(220)。
- 射线结构解析装置方法用于试样保持以及敷料
- [发明专利]单晶X射线结构解析装置以及试样保持架安装装置-CN201980088771.1在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-08-20
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G01N23/20025
- 提供一种能够可靠且容易地进行吸藏在晶体海绵的试样的取下、向装置的搭载作业的单晶X射线结构解析装置以及试样保持架安装装置。是在进行物质的结构解析的单晶X射线结构解析装置安装对试样进行保持的试样保持架的试样保持架安装装置，具备试样保持架安装机构(600)，将装配于能够装卸的敷料器(300)而提供的所述试样保持架(250)在将所述试样保持架(250)从所述敷料器300取下的状态下安装于所述单晶X射线结构解析装置的测角仪(12)，所述试样保持架(250)包括能够在形成于内部的多个微细孔吸藏所述试样的细孔性络合物结晶，所述细孔性络合物结晶在所述试样保持架(250)安装于所述测角仪(12)的状态下，固定在所述试样保持架(250)的被来自所述X射线照射部的X射线照射的位置。
- 射线结构解析装置以及试样保持安装
- [发明专利]反射型液晶显示装置以及具备其的可穿戴设备-CN201780031029.8有效
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大谷拓也;箕浦洁;佐藤孝
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夏普株式会社
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2017-05-16
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2021-07-13
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G02F1/1335
- 本发明提供反射型液晶显示装置及具备其的可穿戴设备。反射型液晶显示装置包括：反射光的第一电极；透射光的第二电极；液晶层，设置于第一电极与第二电极之间，包含介电常数各向异性Δε为负的向列液晶材料与手性剂，在没有电压施加时取得大致垂直取向，在施加白电压时取得扭转取向或者混合取向；液晶显示装置具有以1fps以下的帧频对液晶层施加黑电压或者白电压的任意一个的驱动电路，驱动电路在横跨多帧对液晶层施加白电压时，以第二电极的电位为基准，对每一帧施加极性反转的白显示电压，当将包含手性剂的向列液晶材料的自然间距作为p，将液晶层的厚度作为d，将向列液晶材料的双折射率作为Δn时，60°│360°·d/p│180°且237nm≦Δnd≦331nm成立。
- 反射液晶显示装置以及具备穿戴设备
- [发明专利]单晶X射线构造解析装置和方法及用于其的试料保持器-CN201980076225.6在审
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佐藤孝
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株式会社理学
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2019-11-21
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2021-06-29
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G01N23/20025
- 提供能够可靠且容易地进行利用晶体海绵的单晶X射线构造解析的单晶X射线构造解析装置，还提供用于其的方法、试料保持器。具备：产生X射线的X射线源；对试料进行保持的试料保持器(250)；安装并转动试料保持器(250)的测角仪；X射线照射部，针对保持在安装于测角仪的试料保持器(250)的试料，照射来自X射线源的X射线；X射线检测测定部，对被试料衍射或散射的X射线进行检测并测定；和构造解析部，基于由X射线检测测定部检测出的衍射X射线或散射X射线进行试料的构造解析，试料保持器(250)包括能够将试料吸附到形成在内部的多个微细孔的细孔性复合晶体，细孔性复合晶体在试料保持器(250)被安装在测角仪的状态下，被固定在被照射来自试料保持器(250)的X射线照射部的X射线的位置。
- 射线构造解析装置方法用于保持
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