本说明书公开用于实施芯片集成镜(即,芯片镜(CS))的方法和系统,所述芯片集成镜是使得用户能够通过使用RF接收路径(包括放大器、滤波器、ADC、DSP)捕获和存储信号轨迹来仔细检查RF信号(在受测试装置(device under test,DUT)内部和外部)的特征。在一些实施例中,本说明书公开通过使用原始和校正数据对Rx(接收器)路径中引入的增益/相位减损进行增益/相位补偿来增强这些信号轨迹的分辨率和精确度的方法和系统。在一些实施例中,所述校正数据从以下中的一个或多个生成:模拟数据、特性化数据、生产测试数据。