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[发明专利]形状检查方法、形状检查装置以及程序-CN201680026846.X有效
发明人：日比厚裕;今野雄介;古家顺弘;黑岩朋广 -专利权人：日本制铁株式会社
申请日： 2016-05-13 - 公布日： 2020-01-14 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：提供一种能够更简单且更客观地调整光切图像中的光切线的明亮度和粗细的形状检查方法、形状检查装置以及程序。本发明所涉及的形状检查方法包括以下步骤：光切图像生成步骤，从激光光源向物体表面照射线状的激光，由摄像装置拍摄物体表面上的由激光形成的光切线来生成在光切法中使用的光切图像；指标值计算步骤，分别计算表示光切图像中的光切线的粗细的粗细指标值和表示光切线的明亮度的明亮度指标值；设定变更步骤，变更激光光源和摄像装置中的至少一方的设定以使粗细指标值和明亮度指标值各自包含在预先唯一地决定的规定范围内；以及形状检查步骤，对使粗细指标值和明亮度指标值各自包含在规定范围内之后的光切图像进行图像处理，检查物体表面的形状。
明亮度切线形状检查图像激光光源摄像装置物体表面激光图像生成步骤形状检查装置变更计算步骤拍摄物体图像处理照射线状检查

[发明专利]形状测定装置以及形状测定方法-CN201680036936.7有效
发明人：日比厚裕;今野雄介;古家顺弘;黑岩朋广 -专利权人：日本制铁株式会社
申请日： 2016-04-22 - 公布日： 2019-12-17 - 主分类号： G01B11/25 文献下载
摘要：即使在输送时发生高度方向的平行移动、绕长度方向轴的旋转以及绕宽度方向轴的旋转这三个干扰中的任一个的情况下，也更准确地测定被测定刚体的表面高度。本发明所涉及的形状测定装置利用形状测定用光切线、第一校正用光切线以及第二校正用光切线，其中，该形状测定用光切线是沿被测定刚体的宽度方向延伸的光切线，用于计算被测定刚体的表面形状，该第一校正用光切线与被测定刚体的长度方向平行且与形状测定用光切线交叉，用于对作用于被测定刚体的干扰的影响进行校正，该第二校正用光切线与被测定刚体的长度方向平行，且与形状测定用光切线交叉，且存在于被测定刚体的与第一校正用光切线不同的宽度方向位置。基于两种校正用光切线来估计形状测定用光切线与校正用光切线的交点处的干扰的大小，对根据形状测定用光切线得到的形状数据进行校正。
形状测定装置以及方法

[发明专利]金属体的形状检查装置和金属体的形状检查方法-CN201680003874.X有效
发明人： 今野雄介;赤木俊夫;山地宏尚;梅村纯 -专利权人：日本制铁株式会社
申请日： 2016-06-01 - 公布日： 2019-08-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：不管金属体的表面粗糙度如何都更准确地检查金属体的形状。本发明所涉及的金属体的形状检查装置具备：测定装置，其对金属体照射至少两种照明光，将来自金属体的两种照明光的反射光相互区分开来进行测定；以及运算处理装置，其根据反射光的亮度值来计算在金属体的形状检查中使用的信息。测定装置具有：第一照明光源和第二照明光源，分别对金属体照射峰值波长相互不同的带状的照明光；以及彩色线传感器摄像机，其将第一照明光的反射光和第二照明光的反射光相互区分开来进行测定，其中，第一照明光源和第二照明光源被配置为彩色线传感器摄像机的光轴的在金属体表面的镜面反射方向与各自的光轴所形成的角大致相等，第一照明光的峰值波长与第二照明光的峰值波长的波长差为5nm以上且90nm以下。
金属形状检查装置方法

[发明专利]金属体的形状检查装置和金属体的形状检查方法-CN201680003214.1有效
发明人：赤木俊夫;今野雄介;山地宏尚;梅村纯 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2016-05-24 - 公布日： 2019-05-10 - 主分类号： G01B11/245 文献下载
摘要：更高速地、更高密度且简单地实施金属体的形状检查。本发明的装置具备：测定装置，其对金属体照射至少两种照明光，将反射光相互区分开来进行测定；以及运算处理装置，其根据测定结果来计算在金属体的形状检查中使用的信息。测定装置具有：多个照明光源，分别照射峰值波长不同的带状的照明光；以及多个单色线传感器摄像机，在金属体的表面的铅直上方并排设置，并被设定为由多个单色线传感器摄像机各自具有的移位透镜对金属体的同一部位进行拍摄，并具有带通滤波器，该单色线传感器摄像机的数量与照射的照明光的峰值波长的个数相同。多个照明光源中的至少两个照明光源被配置为金属体表面的法线方向与第一照明光源的光轴所形成的角度同法线方向与第二照明光源的光轴所形成的角度大致相等，在金属体与测定装置的相对移动方向上隔着线传感器摄像机相对置。
金属形状检查装置方法

[发明专利]形状测定装置和形状测定方法-CN201780003819.5在审
发明人：赤木俊夫;今野雄介;日比厚裕;古家顺弘;园田贵之;中崎昭仁 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2017-01-19 - 公布日： 2018-07-31 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：提供一种形状测定装置，能够在测定对象物的整个面整个宽度上高速地检测微小的粗糙度不均。提供一种形状测定装置，具备：光源，其针对移动的带状体的表面，从带状体的移动方向上游侧倾斜地照射线状光；屏幕，线状光在带状体的表面上的反射光投射于该屏幕；摄像部，其对投射于屏幕的线状光的反射光进行拍摄；以及运算处理部，其根据投射于屏幕的线状光的反射光的光带的宽度分布，获取带状体的表面粗糙度分布，其中，根据带状体的表面的目标表面粗糙度来设定光源相对于带状体的入射角。
带状体形状测定装置反射光线状光投射屏幕粗糙度光源表面粗糙度测定对象物运算处理部目标表面形状测定移动方向入射角摄像部射线状整个面光带上游检测拍摄移动

[发明专利]形状测定装置和形状测定方法-CN201780002621.5在审
发明人： 今野雄介;小林尊道;赤木俊夫;日比厚裕;古家顺弘;中崎昭仁 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2017-05-19 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：抑制斑点噪声的产生并更高速且更高精度地测定由金属体构成的带状体的表面形状。本发明所涉及的形状测定装置具备线状光源，其由超发光二极管构成，对所述带状体的表面照射在所述带状体的宽度方向上扩散的线状光；屏幕，其被投射所述带状体的表面上的所述线状光的反射光；面阵摄像机，其对投射在所述屏幕上的所述线状光的反射光进行拍摄；以及运算处理装置，其使用由所述面阵摄像机拍摄到的所述线状光的反射光的摄像图像来计算所述带状体的表面形状，其中，所述线状光源的光谱半宽为20nm以上，并且所述线状光源被配置为所述线状光源的光轴同所述带状体的表面法线方向所形成的角θ与所述线状光的波长λ满足同所述带状体的镜面性有关的式(I)。
形状测定装置方法

[发明专利]形状测定装置和形状测定方法-CN201680030479.0在审
发明人：日比厚裕;今野雄介;赤木俊夫;古家顺弘;黑岩朋广;中崎昭仁 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2016-12-20 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：提供一种能够更高灵敏度地测定带状体的在宽度方向上的翘曲量的形状测定装置。提供一种形状测定装置，具备光源，其以规定的入射角向移动的带状体的表面照射线状光；屏幕，带状体的表面上的线状光的反射光被投射到该屏幕上；摄像部，其对被投射到屏幕上的线状光的反射光进行拍摄；以及运算处理部，其根据由摄像部拍摄到的线状光的反射光的线长度，获取带状体的在宽度方向上的翘曲量。
形状测定装置方法

[发明专利]被检查体摄像装置、被检查体摄像方法、表面检查装置以及表面检查方法-CN201680025254.6在审
发明人： 今野雄介;小林尊道;赤木俊夫;日比厚裕;古家顺弘;中崎昭仁 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2016-12-19 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：高灵敏度地发现在具有可见光的波长程度的表面粗糙度的被检查体的表面所产生的为表面粗糙度的数倍左右的凹凸缺陷等，来准确地进行存在于被检查体的表面的脏污与凹凸瑕疵的区分，并且实现装置的小型化。本发明所涉及的被检查体摄像装置具备光源，其产生属于红外波长带并在被检查体的表面上具有规定的发散半角的光束；投影光学系统，其将光束以规定的投影角投射到被检查体的表面上；以及摄像部，其拍摄来自被检查体的表面的反射光，其中，摄像部具有摄像光学系统，其具有至少一个凸透镜，用于会聚反射光，并使该反射光向两个不同的方向分支；以及第一摄像元件和第二摄像元件，其拍摄透过了摄像光学系统的各反射光，第一摄像元件沿着反射光的光轴地位于比摄像光学系统的与被检查体的表面共轭的位置靠被检查体侧的位置，第二摄像元件沿着反射光的光轴地位于比该共轭的位置靠反射光的行进方向侧的位置。
检查摄像装置方法表面以及

[发明专利]金属体的表面状态监视装置和金属体的表面状态监视方法-CN201680003224.5在审
发明人：赤木俊夫;今野雄介;山地宏尚;梅村纯 -专利权人：新日铁住金株式会社
申请日： 2016-04-08 - 公布日： 2017-12-15 - 主分类号： G01N21/892 文献下载
摘要：对金属体表面的具有特定的色相的区域以及不具有特定的色相而表面的粗糙度有变化的区域进行监视。具备测定装置，其具有光轴与金属体表面的法线方向大致平行的线传感器摄像机以及向金属体表面照射带状的照明光的第一照明光源、第二照明光源以及第三照明光源，将所照射的三种照明光的各反射光分别区分开来进行测定；以及运算处理装置，其根据反射光的亮度值来运算表面状态监视信息。第二照明光源和第三照明光源被配置为各光轴与线传感器摄像机的光轴所形成的第二角度与第三角度大致相等，第一照明光源被配置为线传感器摄像机的光轴与第一照明光源的光轴所形成的第一角度大于第二角度。运算处理装置基于第一照明光的反射光的亮度值运算与金属体表面的色相相关的信息，基于第二照明光和第三照明光各自的反射光的亮度值运算与金属体的表面粗糙度相关的信息。
金属表面状态监视装置方法

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