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[发明专利]利用由X射线CT装置获得的投影像的尺寸测定方法-CN201910600227.2有效
发明人：大竹丰;伊藤翼;后藤智德;今正人 -专利权人：国立大学法人东京大学;株式会社三丰
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G01B15/00 文献下载
摘要：本发明提供一种利用由X射线CT装置获得的投影像的尺寸测定方法。在测定单一材质的测定对象物W的尺寸时，在使用X射线CT装置(1)获取测定对象物(W)的多个透射像之后，分别生成投影像，将该投影像与在测定对象物(W)的设计中使用的CAD数据的位置对准，使用完成位置对准的CAD数据与投影像之间的关系来计算测定对象物(W)的尺寸。由此，使用设计信息和几十张左右的投影像，以不进行CT重建的方式实现高精度的尺寸测定。
利用射线 ct 装置获得投影尺寸测定方法

[发明专利]X射线测量装置的校准方法-CN202110724806.5在审
发明人： 今正人;真家洋武;佐佐木诚治;宫仓常太 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： G01B15/04 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线测量装置的校准方法，包括以下工序：载置工序，将校准治具载置于旋转台；特征位置计算工序，向校准治具照射X射线，根据X射线图像检测器的输出来确定重心位置；变换矩阵计算工序，根据重心位置和已知的相对位置间隔，来计算投影变换矩阵；旋转检测工序，使旋转台以规定角度旋转2次以上，重复进行特征位置计算工序和变换矩阵计算工序；以及中心位置计算工序，基于投影变换矩阵来计算旋转台的旋转中心位置。由此，能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
射线测量装置校准方法

[发明专利]X射线测量装置的校正方法-CN202010946721.7在审
发明人： 今正人;真家洋武;佐佐木诚治;宫仓常太 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2020-09-10 - 公布日： 2021-03-26 - 主分类号： G01B15/04 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：载置工序，将校正治具载置于旋转台；移动位置获取工序，使第j个球的位置相对于第1个球的位置平行移动，向校正治具照射X射线，并从X射线图像检测器的输出中获取第j个球的投影像的重心位置相对于第1个球的投影像的重心位置的差位置的大小为规定值以下的移动位置；相对位置计算工序，对其余的球进行移动位置获取工序，根据各个移动位置来计算特定的相对位置间隔；特征位置计算工序；变换矩阵计算工序；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而变形，例如也能够通过简单的工序容易地计算将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
射线测量装置校正方法

[发明专利]X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置-CN202010983851.8在审
发明人：浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2020-09-18 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明涉及一种X射线CT装置及其校正方法和装置、测定方法和装置，在使尺寸预先已知的球形校正治具(30)与被检体(W)接触的状态下进行CT扫描来生成体数据，获取该体数据中的被检体(W)表面形状的轮廓，并且根据球形校正治具(30)的中心坐标来计算球形校正治具(30)的边界面，求出用于使根据所述轮廓的斜率求出的被检体W的边界面与球形校正治具(30)的边界面一致的校正值，使用该校正值来校正被检体(W)的边界面，使用该校正后的边界面来求出被检体(W)的形状。由此，通过高精度地检测被检体的边界面来实现测量用X射线CT的高精度化。
射线 ct 装置及其校正方法测定

[发明专利]测量用X射线CT装置-CN202010920049.4在审
发明人：佐佐木诚治;中泽信行;境久嘉;今正人;浅野秀光 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2020-09-04 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供一种测量用X射线CT装置。测量用X射线CT装置在X射线源与X射线检测器之间具备用于搭载测定对象的旋转台以及扫描机构，该测量用X射线CT装置在预先校正X射线源的焦点、X射线检测器和旋转台的旋转中心的几何位置关系的基础上向测定对象照射X射线来进行CT扫描，由此获取投影图像，并通过对该投影图像进行CT重建来生成测定对象的三维像，所述测量用X射线CT装置具备：基准框架，其具有不易受环境变动所影响的材质和构造；以及传感器，其配置于该基准框架，用于在CT扫描中逐次获取X射线源的焦点与X射线检测器的几何位置关系的校正值，其中，所述测量用X射线CT装置将该校正值用作CT重建的参数。
测量射线 ct 装置

[发明专利]X射线测量装置的校正方法-CN202010940511.7在审
发明人： 今正人;真家洋武;佐佐木诚治;宫仓常太 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2020-09-09 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G01B15/04 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线测量装置的校正方法，包括：前段特征位置计算工序，将配置于N个部位的球的平行移动进行多次，确定处于N个部位的球各自的投影像的重心位置；单独矩阵计算工序，针对球分别计算单独投影矩阵；单独位置计算工序，基于单独投影矩阵来计算球各自的移动位置；坐标统一工序，计算球的特定的相对位置间隔；后段特征位置计算工序；变换矩阵计算工序，计算投影变换矩阵；旋转检测工序；位置计算工序；以及中心位置计算工序。由此，即使校正治具由于经年变化等而发生变形，也能够通过简单的工序容易地计算例如将被测定物以能够旋转的方式载置的旋转台的旋转中心位置。
射线测量装置校正方法

[发明专利]旋转台的控制方法和装置-CN201610237472.8有效
发明人：松宫贞行;浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2016-04-15 - 公布日： 2020-08-25 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：提供一种旋转台的控制方法和装置。通过XY移动机构(18)，能够将旋转台(16)沿与该旋转台(16)的旋转轴正交的二维方向(XY方向)移动，通过与旋转台(16)的旋转同步地对旋转台(16)的所述二维方向上的移动位置进行协调控制，能够使旋转台(16)以旋转台(16)上的任意的位置为虚拟的旋转中心进行旋转。并且，在对所述二维方向上的移动位置进行协调控制时，还对因旋转台(16)的偏心引起的旋转的偏心进行校正。由此，能够在旋转台上的任意的位置处设定虚拟的旋转中心，无需重新配置被检体就能够在多个摄像部位得到高分辨率的断层图像。
旋转控制方法装置

[发明专利]X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置-CN201911199992.4在审
发明人：大竹丰;长井超慧;后藤智德;佐佐木诚治;今正人 -专利权人：国立大学法人东京大学;株式会社三丰
申请日： 2019-11-29 - 公布日： 2020-06-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置。该X射线CT中的CT体积的表面提取方法和装置从通过X射线CT获取到的体数据中提取CT值固定的体素来生成等值面网格(M)，在网格(M)的各顶点(p)处计算顶点(p)的CT值的梯度向量(g)，在计算出的梯度向量(g)的正负方向上生成多个采样点(S)，计算所生成的各采样点(S)处的CT值的梯度范数(N)，使顶点移动至计算出的梯度范数为最大值(Nm)的采样点(Sm)，由此修正等值面的顶点(p)。
射线 ct 中的体积表面提取方法装置

[发明专利]基于滤波反投影法的CT重建处理方法-CN201910601553.5在审
发明人：大竹丰;后藤智德;今正人 -专利权人：国立大学法人东京大学;株式会社三丰
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2020-01-14 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种CT重建处理方法。其中，对使用X射线CT装置获取到的测定对象物W的透射像应用用于滤波反投影处理的滤波来生成滤波投影像，对滤波投影像进行图像的低分辨率化、张数的间隔剔除来生成低分辨率的投影像，使用低分辨率的投影像进行CT重建来生成低分辨率的体数据，对低分辨率的体数据的各体素进行临时分割，关于临时分割后的体素，将临时分割前后的体素值进行比较，如果临时分割前后的体素值的差比阈值大，则将该临时分割设为有效，在体数据的体素中反映该临时分割的体素后再继续进行分割，如果临时分割前后的体素值的差比阈值小，则将该临时分割设为无效，结束体素的分割。由此，使CT重建处理显著地高速化。
体素分割低分辨率投影像滤波体数据测定对象物间隔剔除反投影高速化透射像张数图像应用

[发明专利]用于产生测量用X射线CT的测量计划的方法和设备-CN201910192542.6在审
发明人：有我幸三;张玉武;浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-03-14 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：在让测试目标旋转的同时对执行X射线照射的测量用X射线CT产生测量计划，且如此，获取投影图像数据，从投影图像数据重构体数据，且测量体数据中的目标测量部位，本发明基于包括在测试目标的CAD数据中的公差信息和通过测量操作者提前限定的测试目标上的测量部位而计算所需的测量准确性和测量视野范围，并从该信息自动产生使得测量次数最小化的优化测量计划。
测量测量计划测试目标投影图像数据方法和设备测量操作测量视野公差信息目标测量自动产生测量体体数据最小化重构优化

[发明专利]测量用X射线CT设备以及批量生产工件测量方法-CN201910183519.0在审
发明人：浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-03-12 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供一种测量用X射线CT设备以及批量生产工件测量方法。在使用被配置为在使被布置在转动台上的工件转动的同时发射X射线、并且重构所述工件的投影图像以生成所述工件的体数据的测量用X摄像CT设备测量批量生产工件时，本发明向预定工件的体数据分配值，并将所述体数据存储为与主数据相同；在与所述预定工件相同的条件下获得批量生产工件的体数据；测量该体数据并且获得所述批量生产工件的X射线CT测量值；以及使用所述主数据来校正所述批量生产工件的X射线CT测量值。
测量生产工件体数据预定工件主数据工件转动投影图像重构摄像校正转动存储发射分配配置

[发明专利]测量用X射线CT设备和断层图像生成方法-CN201910184960.0在审
发明人：松宫贞行;浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-03-12 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量用X射线CT设备和断层图像生成方法。在使用被配置为在使配置在旋转台上的样品转动的同时发射X射线、并且重构所述样品的投影图像以生成所述样品的断层图像的测量用X射线CT设备生成断层图像的情况下，预先获得并存储包含在所述投影图像中的几何误差量，使用所存储的几何误差量来校正所述投影图像，并且使用校正后的投影图像来重构断层图像。
断层图像投影图像几何误差测量重构校正存储配置转动发射

[发明专利]测量用X射线CT装置及其校正方法-CN201910046385.8在审
发明人：浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-01-18 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供测量用X射线CT装置及其校正方法。测量用X射线CT装置一边使配置在旋转台上的被检体(8)旋转一边照射X射线(13)，对所得的投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，该测量用X射线CT装置具备：X射线波动校正治具，其配置在X射线的视场内；检测单元，其使用该X射线波动校正治具的X射线投影像来检测X射线焦点位置(12D)的波动；以及校正单元，其使用检测出的波动来对被检体的X射线投影图像进行校正。
被检体测量校正校正治具检测X射线照射X射线断层图像焦点位置使用检测投影图像校正单元配置重构检测

[发明专利]测量用X射线CT装置及其防干扰方法-CN201910046411.7在审
发明人：有我幸三;张玉武;浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2019-01-18 - 公布日： 2019-07-26 - 主分类号： G01B15/04 文献下载
摘要：本发明提供测量用X射线CT装置及其防干扰方法。测量用X射线CT装置一边使配置在旋转台上的被检体旋转一边照射X射线，对投影图像进行重构来得到被检体的断层图像，该测量用X射线CT装置具备：摄像单元，其对所述旋转台上的被检体从上方或侧方进行拍摄；一边使所述被检体旋转一边获取该被检体的图像的单元；使用获取到的被检体图像来计算被检体旋转时的最大外径的单元；以及基于该最大外径来设定所述旋转台的移动界限的单元。
被检体测量防干扰图像照射X射线断层图像摄像单元投影图像移动界限旋转台侧方重构拍摄配置

[发明专利]造型装置、断面测量装置及断面测量方法-CN201610462914.9在审
发明人：张玉武;浅野秀光;今正人 -专利权人：株式会社三丰
申请日： 2016-06-23 - 公布日： 2017-01-11 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：3D打印机(1)包括：通过基于设计数据使造型材料堆叠在造型位置来进行造型物(A)的造型的造型单元(131)；拍摄由造型单元(131)造型出的造型物(A)的摄像单元(132)；以及基于在造型单元(131)的造型物(A)的造型中由摄像单元(132)拍摄的摄像图像，测量造型物(A)的断面形状的形状测量单元(26)。
造型装置断面测量测量方法

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