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[发明专利]无源互调失真的测定方法及测定系统-CN200780030194.8无效
发明人： 久我宣裕;山本泰之;土井充;远藤充哲 -专利权人：国立大学法人横浜国立大学
申请日： 2007-02-23 - 公布日： 2009-08-05 - 主分类号： G01N22/00 文献下载
摘要：在使样本与测定系统阻抗匹配的接收PIM测定方法中，存在以下问题：由在终止器产生的PIM带来的测定动态范围的限制、被测定样本的形状或大小的限制、样本形状参数的独立的控制存在困难等。在本发明中，使被测定样本为失配状态，在连接样本的传输线路上产生驻波。通过用样本来使传输线路前端短路，从而使样本的位置为电流驻波的波腹，施加高电流密度的试验信号。开路传输线路前端，校准系统噪声。由于不进行阻抗匹配且不使用终止器，因此能不受在终止器产生的PIM的影响地实现较宽的测定动态范围。样本形状与以往测定方法相比非常小，形状也能自由选择。不论导电材料、绝缘体、磁性材料，都可以进行范围宽泛的材料的物性测定。
无源失真测定方法系统

[发明专利]分配器和分配方法，等离子处理系统和方法，以及LCD的制造方法-CN200480042366.X无效
发明人：大见忠弘;后藤尚久;久我宣裕;广江昭彦 -专利权人：东京毅力科创株式会社;大见忠弘;后藤尚久
申请日： 2004-03-10 - 公布日： 2007-03-07 - 主分类号： H01P5/12 文献下载
摘要：一种分配器(30)，包括连接到微波振荡器(20)的方形波导管(31)和具有多个在窄壁(41B)中形成的开口(43)的方形波导管(41)。方形波导管(31)是中空的。相对介电常数为ε形波导管(41)中。两个方形波导管(31、41)的窄壁(31A、41A)互相接触，并且两个波导管(31、41)通过其相互连通的连通孔(32)形成于窄壁(31A、41A)中。即使连通孔(32)的宽度减小，两个波导管(31、41)的宽度也不在其连接部分处变窄。由此，可抑制能够通过连接部分的频带变窄。因此，能够减小在输入到分配器(30)的电磁波的频率改变时出现的反射损失。
分配器分配方法等离子处理系统以及 lcd 制造