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[发明专利]光导、电子线检测器及带电粒子装置-CN202180092581.4在审
发明人：山内邦义;近藤稔;中村隆之 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： H01J37/244 文献下载
摘要：本发明提供一种能够提升通过被检测线的入射而产生的光的导光效率的光导、电子线检测器及带电粒子装置。本发明的电子线检测器(1A)具备：沿一方向延伸的导光体(2)；第1荧光体层(3)，其配置于导光体(2)的一端侧，通过被检测线(E)的入射而使1次荧光(L1)产生；第2荧光体层(4)，其从导光体(2)的一端侧朝向另一端侧延伸，通过1次荧光(L1)的入射而使2次荧光(L2)产生；以及检测部(5)，其配置于导光体(2)的另一端侧，和导光体(2)光学地耦合。
电子线检测器带电粒子装置

[发明专利]含有低分子量聚四氟乙烯的组合物的制造方法-CN201980011757.1有效
发明人：辻雅之;中村隆之;田中勇次 -专利权人：大金工业株式会社
申请日： 2019-02-05 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： C08J3/28 文献下载
摘要：本发明提供一种含有低分子量聚四氟乙烯的组合物的制造方法，包括：(I)对含有高分子量聚四氟乙烯的组合物照射电离性辐射线，得到含有380℃时的熔融粘度在1.0×102～7.0×105Pa·s的范围的低分子量聚四氟乙烯的组合物的工序；和(II)将上述工序中得到的含有低分子量聚四氟乙烯的组合物所含的低分子量含氟化合物进行分解的工序。
含有分子量聚四氟乙烯组合制造方法

[发明专利]托盘搬送系统、托盘搬送方法以及托盘搬送程序-CN201980090193.5有效
发明人： 中村隆之;吉冈秀明;孙信伟;永田顺也 -专利权人：德马吉森精机株式会社
申请日： 2019-08-07 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： B23Q7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种用于适当地控制托盘的搬送顺序的技术。托盘搬送系统(10)具备：搬送装置(300)，其用于搬送能够安装工件的托盘；托盘收纳部(200)，其用于收纳多个托盘；作业工位(500)，其供作业人员对搬送来的托盘进行工件的安装作业；机床(400)，其用于对在作业工位(500)处被安装于托盘的工件进行加工；以及控制装置(50)，其控制搬送装置(300)。控制装置(50)在第一托盘处于机床(400)、且第二托盘处于作业工位(500)的情况下，当被安装于第一托盘的工件的加工已完成时，从作业工位(500)向托盘收纳部(200)搬送第二托盘，在从作业工位(500)向托盘收纳部(200)搬送第二托盘已完成之后、或者与从作业工位(500)向托盘收纳部(200)搬送第二托盘并行地，从机床(400)向作业工位(500)搬送第一托盘。
托盘系统方法以及程序

[发明专利]发光元件、光检测模块、发光元件的制造方法、及扫描型电子显微镜-CN202180078066.0在审
发明人：山内邦义;近藤稔;中村隆之;前田纯也;大河原悟 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： C09K11/62 文献下载
摘要：本发明的技术问题在于，提供一种能够降低串扰，且可扩展用途的发光元件、光检测模块、发光元件的制造方法、及使用其的扫描型电子显微镜。本发明的发光元件(1)具备：对于荧光具有透明性的光纤板基板(2)；及由具有量子阱结构的氮化物半导体层过程的发光层(3)。此发光元件(1)中，光纤板基板(2)与发光层(3)被直接接合。
发光元件检测模块制造方法扫描电子显微镜

[发明专利]含有低分子量聚四氟乙烯的组合物的制造方法-CN201980011986.3有效
发明人：辻雅之;中村隆之;吉田裕俊;田中勇次 -专利权人：大金工业株式会社
申请日： 2019-02-05 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： C08J3/28 文献下载
摘要：本发明提供一种含有低分子量聚四氟乙烯的组合物的制造方法，其包括：(I)对含有高分子量聚四氟乙烯的组合物照射电离射线，得到含有380℃时的熔融粘度在1.0×102～7.0×105Pa·s的范围的低分子量聚四氟乙烯的组合物的工序；和(II)对含有上述低分子量聚四氟乙烯的组合物进行选自清洗处理、蒸气处理和减压处理中的至少1种的工序。
含有分子量聚四氟乙烯组合制造方法

[发明专利]高频前端模块以及通信装置-CN201980011643.7有效
发明人：津田基嗣;中村隆之;大罗克·欧 -专利权人：株式会社村田制作所
申请日： 2019-02-05 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： H04B1/00 文献下载
摘要：本发明提供高频前端模块(2A)，具备主天线(11)和副天线(12)、第一多路复用器和第二多路复用器、以及开关电路(20)，第一多路复用器具有频带A的发送滤波器(31T)和频带A的接收滤波器(31R)，不具有频带B的发送滤波器，第二多路复用器具有频带B的发送滤波器(32T)和频带B的接收滤波器(32R)，不具有频带A的发送滤波器，开关电路(20)排他地切换主天线(11)与第一多路复用器的连接以及主天线(11)与第二多路复用器的连接，并排他地切换副天线(12)与第一多路复用器的连接以及副天线(12)与第二多路复用器的连接。
高频前端模块以及通信装置

[发明专利]弯折检测装置、图像处理装置与方法以及计算机可读介质-CN202011390254.0在审
发明人： 中村隆之 -专利权人：富士胶片商业创新有限公司
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： H04N1/047 文献下载
摘要：本发明提供一种弯折检测装置、图像处理装置与方法以及计算机可读介质，能够让用户认识到原稿发生了弯折。弯折检测装置包括处理器，所述处理器受理通过读取原稿而获得的读取图像，在所述读取图像是通过在所述原稿发生了弯折的状态下进行读取而获得的图像的情况下，将所述原稿发生了弯折的情况通知给用户。
检测装置图像处理方法以及计算机可读介质

[发明专利]托盘搬送系统、托盘搬送方法以及托盘搬送程序-CN201980088590.9在审
发明人： 中村隆之;吉冈秀明;孙信伟;永田顺也 -专利权人：德马吉森精机株式会社
申请日： 2019-08-07 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： B23Q7/00 文献下载
摘要：本发明提供一种用于探测向托盘安装工件的安装作业完成的技术。托盘搬送系统(10)具备：搬送装置(300)，其用于搬送能够安装工件的托盘；托盘收纳部(200)，其用于收纳托盘；作业工位(500)，其供作业人员对从托盘收纳部(200)搬送来的托盘进行工件的安装作业；机床(400)，其对在作业工位(500)处被安装于托盘的工件进行加工；以及控制装置(50)，其控制搬送装置(300)。控制装置(50)获取表示在作业工位(500)处的安装作业的进度状况的指标，基于指标来判断安装作业是否完成，在判断为安装作业已完成的情况下，将处于作业工位(500)的托盘搬送到托盘收纳部(200)或者机床(400)。
托盘系统方法以及程序

[发明专利]托盘搬送系统、托盘搬送方法以及托盘搬送程序-CN201980090241.0在审
发明人： 中村隆之;吉冈秀明;孙信伟;永田顺也 -专利权人：德马吉森精机株式会社
申请日： 2019-08-07 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： B23Q41/02 文献下载
摘要：本发明提供一种能够防止在工件的搬送过程中泄露工件的秘密信息的技术。托盘搬送系统(10)具备：搬送装置(300)，其搬送用于安装工件的托盘；托盘收纳部(200)，其用于收纳多个托盘；作业工位(500)，其供作业人员对从托盘收纳部(200)搬送来的托盘进行工件的安装作业；机床(400)，其对在作业工位(500)处被安装于托盘的工件进行加工；以及控制装置(50)，其控制搬送装置(300)。控制装置(50)基于表示作为加工对象的工件是否是保密对象的信息来判断该工件是否是保密对象，在判断为该工件不是保密对象的情况下，通过第一搬送方法来搬送安装有该工件的托盘，在判断为该工件是保密对象的情况下，通过与第一搬送方法不同的第二搬送方法来搬送安装有该工件的托盘。
托盘系统方法以及程序

[发明专利]考虑省电的NC程序产生装置-CN201510027079.1有效
发明人：三桥进;藤嶋诚;中村隆之;岛江洋司 -专利权人： DMG森精机株式会社
申请日： 2015-01-20 - 公布日： 2019-11-26 - 主分类号： G05B19/18 文献下载
摘要：本发明将提供一种可将成为待机状态的动作部的动力源设为停止状态的考虑省电的NC程序产生装置。本发明的考虑省电的NC程序产生装置包括：解析NC程序且判断动作部是否存在有成为待机状态的区块，同时当存在有成为待机状态的区块时，在执行该区块时，将判断是否可将对应于该动作部的动力源(39、45、46)设为停止状态且特定为可停止的区块的待机状态解析部(12)；及在执行可停止的区块时，可让相应的动力源(39、45、46)停止的操作码插入到NC程序，同时在执行完该区块后，可让该动力源(39、45、46)再启动的操作码插入到该NC程序的动力操作码插入部(13)。
考虑 nc 程序产生装置

[发明专利]荧光测定装置的校正用基准体-CN201780030146.2在审
发明人：长谷川宽;中村隆之;石上喜浩;近藤房宣 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-02-23 - 公布日： 2019-01-04 - 主分类号： G01N21/64 文献下载
摘要：基准体(1)包括：支撑体(10)，其设置有第1光通过部(18)及第2光通过部(19)、以及第1收纳空间(14)及第2收纳空间(15)；第1荧光体(20)，其收纳于第1收纳空间(14)，在第1波长区域的第1激发光经由第1光通过部(18)被照射时发出第2波长区域的第1荧光；第2荧光体(30)，其收纳于第2收纳空间(15)，在第1波长区域的第2激发光经由第2光通过部(19)被照射时发出第2波长区域的第2荧光；以及遮光部(13)，其配置于第1收纳空间(14)与第2收纳空间(15)之间。在入射至第1光通过部(18)的第1激发光的光量与入射至第2光通过部(19)的第2激发光的光量相互相等的情况下，自第1光通过部(18)出射的第1荧光的光量与自第2光通过部(19)出射的第2荧光的光量互不相同。
通过部收纳空间波长区域激发光荧光光量收纳基准体荧光体出射入射照射荧光测定装置遮光部支撑体相等校正配置

[发明专利]干涉确认装置-CN201410392182.1有效
发明人：三桥进;中村隆之;浅田哲志;小川哲男;作田譲 -专利权人： DMG森精机株式会社
申请日： 2014-08-11 - 公布日： 2018-09-25 - 主分类号： G05B19/18 文献下载
摘要：本发明提供一种干涉确认装置，其根据操作所设定的间隔使模型移动来进行干涉确认，可以进行与操作相应的有效率的干涉确认。本发明提供的干涉确认装置(1)是在使用数值控制工具机(20)的加工中，确认数值控制工具机(20)的构造体、工具及工件间的干涉，其包括：干涉确认处理部(2)，基于数值控制装置(30)的位置控制信号，使模型虚拟地移动来确认干涉的有无；以及操作影响度评估部(6)，评估操作对产生干涉的可能性的影响度。在加工继最初的工件之后的后续工件时，进行了规定的操作时，干涉确认处理部(2)根据由操作影响度评估部(6)评估的影响度所设定的间隔使模型移动来进行干涉确认。
一种干涉确认装置

[发明专利]工作机械的控制装置-CN201210240834.0有效
发明人： 中村隆之;浅田哲志;曾我崇明 -专利权人： DMG森精机株式会社
申请日： 2012-07-11 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： G05B19/406 文献下载
摘要：本发明提供一种在执行指令值或代码已变更的NC程序时，能够安全且不降低加工精度地加工工件的工作机械的控制装置。工作机械的控制装置包括：程序存储部，存储NC程序；程序解析部，对每一区块依次解析NC程序，提取进给机构相关的动作指令；执行控制部，执行提取出的动作指令，控制进给机构；程序编辑部，变更NC程序；及变更部位信息存储部，变更NC程序的变更部位相关的变更部位信息。执行控制部执行动作指令时，确认该动作指令的相关区块是否为变更部位的相关区块的前一区块，判断它是前一区块的情况下，在该动作指令的执行前或执行后暂时停止进给机构的运转。
工作机械控制装置

[发明专利]PIN卡及使用PIN卡的试验装置-CN201080066287.8有效
发明人：川原贵夫;中村隆之 -专利权人：株式会社爱德万测试
申请日： 2010-04-22 - 公布日： 2013-02-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及PIN卡及使用PIN卡的试验装置。在I/O端子（Pio）上连接有DUT1。交流试验单元（30）进行DUT1的交流试验。直流试验单元（40）进行DUT1的直流试验。光半导体开关（10）的第一端子（P1）与交流试验单元（30）连接，第二端子（P2）与I/O端子（Pio）连接。光半导体开关（10）根据输入到控制端子（P3、P4）的控制信号，可切换第一端子（P1）和第二端子（P2）之间的导通、切断状态。第一阻抗电路（20）设置在对正极控制端子（P3）的控制信号的信号路径上，第二阻抗电路（22）设置在对负极控制端子（P4）的控制信号的信号路径上。
pin 使用试验装置

[发明专利]加湿用气化过滤器、加湿用气化过滤器层叠体及使用其的加湿方法-CN200880115723.9有效
发明人： 中村隆之;针口秀树 -专利权人：三菱制纸株式会社
申请日： 2008-11-12 - 公布日： 2010-10-06 - 主分类号： F24F6/00 文献下载
摘要：本发明涉及以在基材上依次具有过滤器基材、及含有造膜性高分子的锚定层及亲水层为特征的加湿用气化过滤器、将加湿用气化过滤器设置间隔而层叠而成的加湿用气化过滤器层叠体及使用了这些的加湿方法。
加湿气化过滤器层叠使用方法

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