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[发明专利]氢透过检测用试样支架和氢透过扩散路径观测装置-CN202180064249.7在审
发明人： 中村明子;矢个部太郎;宮内直弥 -专利权人：国立研究开发法人物质·材料研究机构
申请日： 2021-08-19 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本发明提供一种用于使用电解液进行电化学补充型氢透过检测的试样支架、和测量透过了保持在该试样支架的试样的氢离子的氢透过扩散路径观测装置，该试样支架(30)包括：支架主体(31)，保持试样(17)；电解液导入室(31b)，具有相对于试样的测定区域(17a)开口的开口部(31c)；按压板(33)，与测定区域对应地具备通孔(33a)，在该通孔的周围从电子源侧按压试样，从而在与支架主体之间气密地夹持试样；双重的密封构件(32)，以包围试样的测定区域的周围的方式配置在支架主体的表面与试样之间；差动排气管(35)，在支架主体的表面的密封构件之间开口且从该开口排气；以及电极(19)，包括电解用的偏置电压施加电极(19a)和对置电极(36)，将按压板作为偏置施加电极而由导电性材料构成，将对置电极配设于电解液导入室，在偏置电压施加电极与对置电极之间施加电压而对电解液(34)进行电解，将产生的氢离子导入到试样内。
透过检测试样支架扩散路径观测装置

[发明专利]观测对象气体的观测装置和观测对象离子的观测方法以及试样支架-CN202180039653.9在审
发明人： 中村明子;村瀬义治;宫内直弥;矢个部太郎 -专利权人：国立研究开发法人物质·材料研究机构
申请日： 2021-04-28 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G01N23/2251 文献下载
摘要：本发明提供一种观测对象气体的观测装置和观测方法、以及能够适当使用的试样支架，能够在分析室内独立地移动一体安装有薄板试样的试样支架。该观测装置具备：扫描型电子显微镜(15)，检测在分析室(11)内向试样(17)照射电子束而产生的二次电子；试样支架(12)，具有容纳观测对象气体的隔室(12c)以及隔室(12c)的开口窗(W)，并且具有能够堵住开口窗(W)而安装试样(17)的试样搭载部(12b)；以及观测对象离子检测部(20)，在使隔室(12c)中的观测对象气体与试样(17)的背面接触的状态下向试样(17)的表面照射电子束，检测由电子束产生的源自观测对象气体的观测对象离子，在将观测对象气体容纳于隔室而将试样(17)安装于试样支架的试样搭载部(12b)的状态下，能够密封氢隔室(12c)整体。
观测对象气体装置离子方法以及试样支架

[发明专利]观测对象气体的渗透扩散路径观测装置和观测对象气体的测量方法、点缺陷位置检测装置和点缺陷位置检测方法、以及观测用试样-CN202180017533.9在审
发明人： 中村明子;村瀬义治;西川嗣彬;矢个部太郎;宫内直弥 -专利权人：国立研究开发法人物质·材料研究机构
申请日： 2021-02-25 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本申请包括扫描式电子显微镜(15)、检测观测对象离子的观测对象离子检测部(20)、向连接于试样(17)背面侧的观测对象气体配管(14)提供观测对象气体的观测对象气体提供部(19)、能够安装试样(17)作为分隔分析室(11)与观测对象气体配管(14)之间的隔膜的隔膜型试样架(12)、以及控制部(50)，控制部(50)获取SEM图像的同时，在提供观测对象气体并在通过分析室(11)与观测对象气体配管(14)之间的差压使试样产生应力的状态下，通过电子激发脱离，检测向试样内扩散并向表面逸出的观测对象气体，并获取观测对象离子的ESD图像，由此能够探求由观测对象气体引起的结构材料脆化现象这样的劣化现象的机理。
观测对象气体渗透扩散路径装置测量方法点缺陷位置检测方法以及试样

[发明专利]信息处理装置及记录媒体-CN202010162312.8在审
发明人： 中村明子 -专利权人：富士施乐株式会社
申请日： 2020-03-10 - 公布日： 2021-03-19 - 主分类号： G06F3/0481 文献下载
摘要：本发明是一种信息处理装置及记录媒体，具有显示对象数据的触控面板，且具有无法对于对象数据进行编辑的动作模式即浏览模式、及可对于对象数据进行编辑的动作模式即编辑模式，在从浏览模式的状态将追加数据追加到对象数据的情况下，与进行变更为编辑模式的操作后再进行将追加数据追加的操作的情况相比，减少了操作者的操作量。利用浏览模式的显示应用程序将对象数据显示于触控面板时，如果用户指定出对象数据的一部分即指定部分，那么数据追加处理部启动相机。如果用户利用相机进行摄影而获取图像数据，那么数据追加处理部将显示应用程序的动作模式变更为编辑模式，将该图像数据作为追加数据，与指定部分建立关联而追加到对象数据。
信息处理装置记录媒体

[发明专利]激光加工方法-CN200410042207.1有效
发明人：侧友宏;和田彰;宗行健;山本聪治;河田正弘;中村明子;河西研二 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 1998-01-27 - 公布日： 2005-01-05 - 主分类号： B23K26/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种激光加工方法，其中，在对片材施加张力的同时，吸附支持片材的一区分部分的附近，以对区分部分进行激光加工。因为片状被加工物加有张力地被保持，故即使是很薄的薄片也能保持平面性，又因为下方空间是敞开的，故打的孔贯穿后激光无反射，加工产生的残滓也能方便地除去。
激光加工方法

[发明专利]激光加工方法-CN98104049.7有效
发明人：侧友宏;和田彰;宗行健;山本聪治;河田正弘;中村明子;河西研二 -专利权人：松下电器产业株式会社
申请日： 1998-01-27 - 公布日： 2004-06-16 - 主分类号： B23K26/08 文献下载
摘要：薄片状被加工物的激光加工装置和激光加工方法，用固定侧夹持装置和可动侧夹持装置保持薄片状被加工物的两端，用施力驱动缸对可动侧夹持装置施加远离固定侧夹持装置方向的力以保持被加工物，用激光进行打孔加工，此时，预先算出因张力而伸长的薄片当张力消除时弹性复位导致位移的加工点的位移量，对根据所算出的位移量控制加工点的数据进行修正，并根据所修正的加工点的控制数据进行激光加工。由于预先算出因张力延伸的被加工物在加工后不再受到张力时弹性复位收缩导致的激光加工点的位移量，再根据该值修正加工点数据，因而能够进一步提高加工精度，能可靠地在所希望的加工点进行开孔及其他加工。
激光加工方法