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- [发明专利]元件判断装置、方法、程序、记录介质以及测定装置-CN200780032041.7有效
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中山喜和;川原贵夫;春田将人
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株式会社爱德万测试
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2007-08-24
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2009-09-02
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G01R27/28
- 本发明的反射元件判断装置(50),根据将反射元件(41、42)分别与第一信号源(10)以及第二信号源(20)连接起来的状态下的信号的测定结果、以及经由传送元件(44)将第一信号源(10)与第二信号源(20)连接起来的状态下的信号的测定结果,来导出第一信号源(10)和第二信号源(20)中的误差因素;根据经由传送元件(44)将第一信号源(10)与第二信号源(20)连接起来的状态下的信号的测定结果、和所导出的误差因素,来导出传送元件(44)的传送特性;根据所导出的传送元件(44)的传送特性、和在导出之前已经知道的传送元件(44)的传送特性,来判断反射元件(41、42)是否实现了预定的反射状态。其中,传送元件(44)中,关于从第一端子(44a)向第二端子(44b)的方向的传送特性、与关于其反方向的传送特性相等。
- 元件判断装置方法程序记录介质以及测定
- [发明专利]多端口装置的分析设备和方法及其校正方法-CN00803374.9无效
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中山喜和;我田浩隆;饭田实
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株式会社鼎新;鼎新美国研究中心
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2000-02-07
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2004-07-14
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G01R35/00
- 一种多端口装置分析设备能够以改进的效率和准确度分析具有三个或更多终端的多端口装置。该多端口装置分析设备包括:一个信号源(112),用于将一个测试信号提供给所测试的多端口装置(DUT)的一个端子;多个测试端口(P1-Pn),用于将多端口DUT的所有端子连接到相应的测试端口;多个测量单元(MU1-MUn),用于测量来自相应测试端口的信号;一个参考信号测量单元(R),用于测量测试信号,以获得参考数据;多个终端电阻(TR1-TRn),每个被分配给一个测试端口;和开关装置(SW1-SWn),用于选择性地将测试信号提供给测试端口(输入端口)之一,将终端电阻从输入测试端口断开,同时将终端电阻连接到所有其它的测试端口;其中获得多端口DUT的参数,而不改变测试端口和DUT端子之间的连接,同时改变测试端口的选择直到所有的测试端口被指定为输入端口。
- 多端装置分析设备方法及其校正
- [发明专利]多端口器件分析装置和方法以及该装置的校准方法-CN00100728.9无效
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中山喜和;我田浩隆
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株式会社鼎新
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2000-02-03
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2000-08-23
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H04B17/00
- 一种多端口器件分析装置,包括信号源,多个测试端口,多个测量单元,基准信号测量单元,多个终端电阻器,开关装置,把测试信号有选择地提供给一个测试端口(输入端口),使终端电阻器不连接具有测试信号的测试端口(输入端口),同时使终端电阻器连接所有其它的测试端口;其中,在不改变测试端口和DUT终端之间连接的情况下,获得多端口DUT的参数,同时改变测试端口的选择,直至所有测试端口都被指定为输入端口。
- 多端口器分析装置方法以及校准
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