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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]光学测量装置-CN202310261428.0在审
发明人：尾崎宪幸;木村祯祐;东谦太;秦武广 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-04-06 - 公布日： 2023-06-27 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：多个光检测器(31)形成受光组，且多个受光组形成一个像素。受光阵列部(3)具备一个以上这样的像素。光检测器通过光子的入射而输出脉冲信号。测量部(4)设置于多个受光组中的每一个受光组。测量部根据从受光组输出的脉冲信号，生成表示从由外部输入的照射定时开始的经过时间的时间信息、以及在根据时间信息确定出的一个以上的定时中的每一个定时获取的光量信息。作为光量信息，使用属于受光组的多个光检测器中的输出脉冲信号的光检测器的数量。
光学测量装置

[发明专利]光检测器以及测距装置-CN201880021577.7有效
发明人： 东谦太;尾崎宪幸;柏田真司;木村祯祐;高井勇;松原弘幸;太田充彦;平塚诚良 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01S7/4861 文献下载
摘要：光检测器具备具有对光子的射入进行响应的SPAD(4)的多个检测部(2)。多个检测部中的至少一个检测部构成为在SPAD对光子的射入进行响应之后，到下次能够进行响应为止的复原时间与多个检测部中的其它的至少一个检测部的SPAD的复原时间不同。
检测器以及测距装置

[发明专利]光学测量装置-CN201880024047.8有效
发明人：尾崎宪幸;木村祯祐;东谦太;秦武广 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-04-06 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：多个光检测器(31)形成受光组，且多个受光组形成一个像素。受光阵列部(3)具备一个以上这样的像素。光检测器通过光子的入射而输出脉冲信号。测量部(4)设置于多个受光组中的每一个受光组。测量部根据从受光组输出的脉冲信号，生成表示从由外部输入的照射定时开始的经过时间的时间信息、以及在根据时间信息确定出的一个以上的定时中的每一个定时获取的光量信息。作为光量信息，使用属于受光组的多个光检测器中的输出脉冲信号的光检测器的数量。
光学测量装置

[发明专利]光检测器-CN201880024309.0有效
发明人： 东谦太;尾崎宪幸;柏田真司;木村祯祐;高井勇;松原弘幸;太田充彦;平塚诚良 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-04-09 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： H01L31/107 文献下载
摘要：光检测器具备：受光部(2)，具备构成为响应光子的入射的SPAD(4)，并构成为若SPAD作出响应则受光部输出脉冲信号；以及脉冲率控制电路(20)，构成为控制受光部的灵敏度，以使来自受光部的脉冲信号的每单位时间的输出数亦即脉冲率成为预先设定的设定值、包含该设定值的设定范围内、该设定值以上、或者该设定值以下。
检测器

[发明专利]光检测器-CN201880021118.9有效
发明人： 东谦太;木村祯祐;尾崎宪幸;柏田真司;秦武广;高井勇;松原弘幸 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-03-30 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： H01L31/10 文献下载
摘要：本发明涉及光检测器。光检测器(1A)具备：检测部(10)，构成为对SPAD(4)施加反向偏压来进行光检测；监视器用SPAD(12)，具有与构成检测部的SPAD同样的特性；电流源(14)，向监视器用SPAD供给恒定电流使监视器用SPAD以盖革模式进行动作；以及电压生成部(18)，基于根据在监视器用SPAD的两端间产生的击穿电压设定的基准击穿电压和规定的过电压来生成施加到检测部的SPAD的反向偏压。
检测器

[发明专利]测距装置-CN202180042031.1在审
发明人： 东谦太 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2021-05-27 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01S7/4865 文献下载
摘要：本发明涉及测距装置。测距装置(10、10a)具备发光部(40)、受光部(60)、以及利用光的飞行时间来运算对象物距离的运算部(20)。运算部具备：直方图生成部(230)；复合峰部估计部(240)，估计在直方图中是否存在复合峰部，该复合峰部是以峰值飞行时间为边界，从增加变为减少的峰部，且是将来自距测距装置的距离的彼此的差在规定范围内的多个物体的光的强度的分布合成而得到的峰部；飞行时间确定部(250)，在峰部中确定上升时间和下降时间；基础飞行时间决定部(260)，在估计为存在复合峰部的情况下，基于上升时间和下降时间中的任意一个时间来决定基础飞行时间；以及距离计算部(270)，利用基础飞行时间计算为对象物距离。
测距装置

[发明专利]光检测器-CN201880022194.1有效
发明人：秦武广;尾崎宪幸;木村祯祐;东谦太;柏田真司 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-03-23 - 公布日： 2022-12-13 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：受光阵列部(31)接受从照射部照射并被物体反射的反射光，并且并列地输出从多个受光部(80c)分别输出的脉冲信号。计时部(33c)计测从被输入表示照射部照射光的定时的照射定时信号起的经过时间。响应获取部(34)按照每个恒定周期的定时，获取多个受光部中的正在输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数，并且输出从响应数中减去或者除以偏差值而得到的调整响应数。存储器(6)将地址与由计时部计测的计时值建立对应关系。直方图生成部(52)累计调整响应数并储存至根据计时部中的计时值确定的存储器的地址，来作为该地址的数据。
检测器

[发明专利]光检测器-CN201880019965.1有效
发明人： 东谦太;尾崎宪幸;柏田真司;木村祯祐;高井勇;松原弘幸 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2018-03-27 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： H01L31/10 文献下载
摘要：本发明涉及光检测器。受光阵列部(10)具有根据光子的入射而输出脉冲信号的多个受光部(11)，且并行输出从多个受光部分别输出的脉冲信号。比较部(20)对输出脉冲信号的受光部的数量亦即响应数和触发阈值进行比较，并在响应数达到触发阈值的定时输出表示入射到受光阵列部的光信号的受光定时的触发信号。响应获取部(40)在按照触发信号的定时获取响应数，并作为表示光信号的强度的强度信息输出。延迟设定部(60)设定延迟设定值，该延迟设定值用于调整从受光阵列部输出脉冲信号到响应获取部获取响应数为止的时间。
检测器

[发明专利]距离测定装置-CN202080079659.4在审
发明人： 东谦太 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-11-06 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01S7/493 文献下载
摘要：距离测定装置(1)具备照射部(2)、受光阵列部(3)、信号强度计算部(S50)、信号时间计算部(S60)、强度修正部(S70、S82、S76、S86)以及距离计算部(S110、S120)。照射部照射脉冲状的信号光。受光阵列部具备通过光子的射入而输出脉冲信号的多个光检知器(31)。信号强度计算部计算接收到的信号光的信号强度。信号时间计算部计算检测的信号光的上升时间和下降时间。强度修正部基于信号强度修正上升时间以及下降时间中的至少一方。距离计算部基于修正上升时间以及修正下降时间中的至少一方计算物体距离。
距离测定装置

[发明专利]光测距装置及其方法-CN202080037714.3在审
发明人： 东谦太 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-05-13 - 公布日： 2021-12-31 - 主分类号： G01S17/10 文献下载
摘要：光测距装置(20)使与从发光部(40)向规定范围射出的脉冲光对应的反射光在排列有能够分别进行检测的多个小像素(69、s1～s9)的像素(66)上成像，通过定时控制部(170)以不同的相位进行多个小像素中的至少一部分小像素隔开时间间隔反复进行的反射光的检测、和其它的小像素隔开时间间隔反复进行的反射光的检测。使用由各小像素隔开时间间隔反复进行的检测的结果，确定部(100)确定包含到存在于规定范围的对象物为止的距离的对象物(OBJ1)的空间上的位置。
测距装置及其方法

[发明专利]测距装置-CN202080025163.9在审
发明人：加藤一树;柳井谦一;东谦太 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G01S7/4861 文献下载
摘要：本发明的测距装置(10)具备：照射部(20)；受光部(30)，具有多个受光要素(31)排列为面状而成的受光面(S1)，将像素范围内的受光要素的集合作为一个像素，并输出与各像素所包含的受光要素的受光状态对应的受光信号；距离图像获取部(50)，利用受光信号获取表示各像素中的到照射光的照射范围内的物体为止的距离的距离图像；背景光图像获取部(60)，利用受光信号获取背景光图像；信息获取部(81)，获取与背景光的强度相关的强度相关信息；以及分辨率控制部(82)，根据与强度相关信息相关的背景光的强度，分别独立地对距离图像和背景光图像设定像素范围的大小控制分辨率。
测距装置

[发明专利]光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置-CN201980034305.5在审
发明人：秦武广;东谦太;松原弘幸;高井勇 -专利权人：株式会社电装
申请日： 2019-05-24 - 公布日： 2020-12-29 - 主分类号： H01L31/10 文献下载
摘要：本发明提供光检测器以及使用该光检测器的光学测距装置。光检测器(100)具备：脉冲输出部(20)，以具有规定的脉冲宽度的矩形脉冲(A1)输出来自受光元件(10a)的输出；以及脉冲转换电路(22以及24)，将上述矩形脉冲(A1)转换为将上述矩形脉冲(A1)的上升沿和上述矩形脉冲(A1)的下降沿作为基准的、具有与上述规定的脉冲宽度不同的脉冲宽度的矩形脉冲(C1)。
检测器以及使用光学测距装置

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