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[发明专利]水量测量装置以及水量监控系统-CN201480083503.8有效
发明人：壶井修;丑込道雄;菊地吉男;高须良三 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2014-11-21 - 公布日： 2020-11-06 - 主分类号： G01F23/292 文献下载
摘要：本发明提供一种测量在管路内流动的液体的水位的水量测量装置，具备：发光元件，其对上述液体的液面照射光；受光元件，其接收被上述液面反射出的光和被上述管路内的底面的液底反射出的光；存储部，其预先存储从上述发光元件到上述管路内的上述液底的距离V0；以及计算处理部，若用V1表示基于上述受光元件的输出信号求出的距离数据的上侧的包络线的平均值所表示的距离并用V2表示下侧的包络线的平均值所表示的距离，则在测量上述水位时，在对上述距离数据和上述距离V0进行比较后的比较结果表示上述受光元件的输出信号中包含与由于上述管路内的液底的反射而产生的超过上述距离V0的距离相对应的第一信号成分的情况下，使用V1－V0来计算水位D1，在表示包含与因上述液面的反射而产生的小于上述距离V0的距离相对应的第二信号成分的情况下，使用V0－V2来计算水位D2。
水量测量装置以及监控系统

[发明专利]测量颗粒以及气体的测量装置、测量系统以及测量方法-CN201480080896.7有效
发明人：壶井修;丑込道雄;百濑悟 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2014-07-25 - 公布日： 2019-05-31 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及测量颗粒以及气体的测量装置、测量系统以及测量方法，测量装置(10)具备：第一流路(F1)；加热部(17)，其设置于第一流路(F1)的一端侧；气体感测部(15)，其设置于第一流路(Fa)的一端侧，且能够利用从加热部(17)接受到的热来感测气体；颗粒测量部(10a)，其在第一流路(F1)的比加热部(17)靠上方光学测量通过第一流路(F1)的颗粒。
测量颗粒以及气体装置系统测量方法

[发明专利]QCM传感器及其制造方法-CN201280075178.1有效
发明人： 丑込道雄 -专利权人：富士通株式会社
申请日： 2012-08-10 - 公布日： 2018-06-05 - 主分类号： G01N5/02 文献下载
摘要：在QCM传感器及其制造方法中，以提高QCM传感器的灵敏度为目的。QCM传感器的特征在于，具有石英板(2)、以及分别设置于石英板(2)的一方的主面(2a)与另一方的主面(2b)的电极(3)，在电极(3)设置有在俯视时具备轮廓线P的图案(23)。
传感器电极石英板主面灵敏度轮廓线俯视制造图案