专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]质量分析装置-CN202110835421.6在审
  • 上野良弘 - 株式会社岛津制作所
  • 2021-07-23 - 2022-05-31 - H01J49/14
  • 本发明所涉及的质量分析装置抑制在离子源中发生的充电,减轻装置的维护作业的负担。本发明的质量分析装置的一方案是具备将试样气体所包含的成分离子化的离子源的质量分析装置,离子源(3)具备:离子化室(30),具有离子射出口(301),在其内部形成有与外部大致分隔的空间;反射电极(31),设置于离子化室内,用于形成将在该离子化室生成的离子通过离子射出口向外部推出的推出电场;电压产生部(7),对反射电极选择性地施加用于形成推出电场的第1电压、和用于形成充电消除电场的绝对值大于第1电压的正极性的第2电压。
  • 质量分析装置
  • [发明专利]粒子浓缩装置-CN201710804784.7在审
  • 关洋;上野良弘;奥田浩史;樱井博 - 株式会社岛津制作所
  • 2017-09-08 - 2018-03-16 - H01T23/00
  • 本发明提供一种粒子浓缩装置。使包括在以往的浓缩器中难以浓缩的纳米粒子在内的、范围较宽的粒径的粒子全部浓缩。含有带电粒子的气流从第1气体导入口(11)向被作为网状电极的过滤器(17)分隔出的第1空间(18)导入,含有带电粒子的气流从第2气体导入口(12)向下方的第2空间(19)导入。对壳体(10)的上下配置的电极板(15、16)和过滤器(17)分别施加电压,在壳体(10)内形成直流电场。在第1空间(18)内流动的气流所含有的带电粒子在电场的作用下向第2空间(19)的方向移动。然后,经由过滤器(17)的开口进入到第2空间(19)的带电粒子与在该空间(19)中的气流本来含有的带电粒子一起从第2气体导出口(18)向外部导出。
  • 粒子浓缩装置
  • [发明专利]粒子荷电装置-CN201480081074.0在审
  • 上野良弘;关洋;奥田浩史 - 株式会社岛津制作所
  • 2014-08-08 - 2017-04-19 - B03C7/02
  • 在粒子荷电装置中设置:将框体(20)内分隔成第1空间(29)和第2空间(30)的过滤器(28);将粒子导入到第1空间的粒子导入单元(22);对第1空间供给气体离子的气体离子供给单元(10);为了使气体离子以及通过该气体离子与上述粒子的接触而生成的带电粒子向第2空间移动,在框体内形成电位梯度的电位梯度形成单元(26、27、31);对过滤器中包括的相互相邻的电极(28a、b)施加相位不同的交流电压的交流电压施加单元(32,33);为了使带电粒子通过电极之间并且由电极捕捉气体离子,进行控制以将规定的电压施加到各电极的控制单元(35);以及将移动到第2空间的带电粒子取出到框体外的带电粒子取出单元(23、25、34)。由此,能够抑制多价荷电的发生频度。
  • 粒子装置
  • [发明专利]飞行时间型质量分析装置-CN201180053862.5有效
  • 西口克;宫内真二;上野良弘 - 株式会社岛津制作所
  • 2011-09-06 - 2013-07-10 - H01J49/40
  • 提供一种TOFMS,其具备在确保设计上的高自由度的同时、具有相同m/z的离子的飞行时间不取决于能量的理想的反射器。反射器所形成的电场被虚拟地划分为用于使离子减速的减速区域(B)和用于使离子反射的反射区域(C),减速区域定为一段均匀减速电场、两段均匀减速电场等沿着中心轴的一种以上的电势分布。另一方面,在减速区域的参数下从规定地点出发的某质量电荷比的离子经过自由飞行区域(A)、减速区域而导入到反射区域,用分析式或通过数值计算来确定反射区域的电场的电势分布,使得在反射区域中折返而返回到原来的地点为止的总飞行时间等于具有在减速区域与反射区域的边界或减速区域内的规定地点折返的轨道的相同质量电荷比的离子的总飞行时间。
  • 飞行时间质量分析装置
  • [发明专利]带电粒子凝聚装置-CN200780053062.7有效
  • 赫尔曼·沃尔尼克;上野良弘 - 株式会社岛津制作所
  • 2007-05-21 - 2010-03-17 - H01J49/04
  • 离子和带电液滴从喷嘴(6)朝向带电粒子传送装置或去溶剂管(7)的孔(22)移动。这种粒子的运动受沿粒子轨迹的赝势分布的控制。射频电压施加到电极阵列(24)的相邻电极(241-246)引起带电粒子基本上在电极阵列(24)上盘旋。在离子刚好到达电极阵列(24)以前它们经历垂直于电极阵列(24)表面的排斥力“F”。该力“F”正好在电极阵列(24)之前产生有效势垒(B),并因此产生赝势阱(A),在赝势阱(A)中带电粒子停止它们平行于卷流轴线(D)的运动。因此,它们聚集在该阱(A)的中心线(C)周围。由于除了射频电势之外,还将直流电势施加到电极阵列(24)中的相邻电极上,则可以在阱区域(23)中形成小的直流电场。这些外加的直流电场驱动带电粒子朝向对称轴线(C)并且朝向带电粒子传送装置或去溶剂管(7)的孔(22)。因此,许多通常会碰撞在围绕孔(22)的壁(21)上的带电粒子现在也可以被分析了。
  • 带电粒子凝聚装置

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