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专利名称

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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[实用新型]一种新型的锁紧器把手限位装置-CN202320861474.X有效
发明人：毛国梁;赵坤岭 -专利权人： 上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2023-04-17 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新型的锁紧器把手限位装置，涉及到集成电路测试技术领域，本实用新型通过框架结构、侧面升降结构和旋转锁紧结构的设置，转动旋转把手，通过固定在旋转把手上的第二凸轮随动器带动下拉框沿着侧面升降块长边移动，下拉框与下拉框通过螺钉刚性连接，下拉框移动带动连接在一起的侧面升降块和滑块一起移动，通过第一凸轮随动器与测试设备锁紧；锁紧后第二凸轮随动器刚好位于下拉框的极限位置，旋转把手无法继续旋转，此时磁吸限位结构对旋转把手进行磁吸限位，以此避免了待测电路板与测试设备锁紧后用户继续向前推动手柄进而撞坏待测电路板和测试设备上插槽或插针的问题，同时避免把手在小范围内晃动的问题。
一种新型锁紧器把手限位装置

[发明专利]一种基于系统中断设计的报警装置及方法-CN202310260722.X有效
发明人：黄冬平;郭显炜 -专利权人： 上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2023-03-17 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06F11/32 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于系统中断设计的报警装置及方法，包括下位机、上位机、ROUTER数据总线路由器，所述上位机包括PCIE驱动程序单元和Application单元，所述ROUTER数据总线路由器包括Alarm处理模块和Rx_Tx_Bus数据收发总线，所述PCIE驱动程序单元包括依次连接的ISR中断处理模块和DPC延迟中断处理模块，所述Application单元包括Alarm Thread中断处理线程，本发明不仅避免了Alarm信号传输对原本上位机与下位机正常数据交换的影响，而且解决了频繁查询Alarm状态带来的操作系统卡顿，同时Alarm信号处理的实时性高。
一种基于系统中断设计报警装置方法

[发明专利]一种集成电路测试模块供电装置及方法-CN202310094663.3有效
发明人：邵凌明;严六平;毛国梁 -专利权人： 上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2023-02-10 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： H02M1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路测试模块供电装置及方法，包括测试系统A、测试头B以及测试模块C，所述测试头B包括供电模块B1和接口模块二B2，供电模块B1包括相互连接的电压转换电路B11和延时开关控制电路B12，所述测试模块C包括相互连接的接口模块三C1与测试电路C2。接口模块三C1、接口模块二B2以及延时开关控制电路B12组成供电控制电路。本发明不仅减少测试模块的损坏概率、提升了测试产能，而且改善了电路的可靠性、提升了产品的使用寿命，同时本发明有效降低了制造成本，提高了操作的便利性。
一种集成电路测试模块供电装置方法

[发明专利]一种ATE测试数据转换方法及系统-CN202310048817.5在审
发明人：李海明;肖纯伟;包智杰 -专利权人： 上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2023-02-01 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G06F40/151 文献下载
摘要：本发明公开了一种ATE测试数据转换方法及系统，通过对原始数据的Excel单元格中具体行列查询，先锁定用户需要的单元格，再提取单元格内容，将锁定需求的单元格行和列与存放目标文件的单元格行和列一一对应，通过面向界面的方式选择目标文件的数据，将数据导入到样板对应位置，采用labview的框架结构对数据处理，用户在面向界面中选择原始数据整体或按照预定的数量进行原始数据转换，便于根据用户的需求进行原始数据整体转换或者按照预定的数量转换，提高客户需求的兼容性，通过labview的框架结构对数据处理，有效提高提取原始数据中的有效信息，减少使用者的工作量。
一种 ate 测试数据转换方法系统

[发明专利]一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质-CN202310105647.X在审
发明人：贾李琛;毛国梁 -专利权人： 上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2023-02-13 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种ATE标准与质检一站式测试系统及方法和存储介质，包括测试程序开发环境单元、量产环境单元，所述测试程序开发环境单元用于完成标准测试程序和质检测试程序的开发、调试及编译；并通过不同的环境变量来区分标准测试程序和质检测试程序中使用不同的电平、时序或流程参数；所述量产环境单元用于调用在测试程序开发环境单元调试完成并编译完成的标准测试程序和质检测试程序；通过调用底层测试执行模块控制ATE硬件执行标准测试程序和质检测试程序测试，本发明可以使同一芯片在同一测试站完成标准测试和质量抽检，从而提高了测试效率，降低了测试成本。
一种 ate 标准质检一站式测试系统方法存储介质

[实用新型]分立器件自动化测试设备-CN202022869839.2有效
发明人：赵坤岭;李全任 -专利权人： 上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2020-12-04 - 公布日： 2021-09-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了分立器件自动化测试设备，包括测试箱，所述测试箱分为下层的板卡层及上层的测试层，所述测试层内设置有工控机，所述工控机与测试层内的多个板卡电性连接，所述测试箱的外壁上设置有矩阵盒及测试盒，所述矩阵盒与测试盒分别挂靠在测试箱的侧壁上，所述测试箱的顶部设置有显示装置。本实用新型通过将工控机设置在测试层内，将工控机与板卡分着在测试箱不同区域，能够便于线路的连接，矩阵盒、测试盒分别设置在测试箱的侧壁上，显示装置设置在测试箱顶部，能够便于测试人员测试操作，防止测试部件均放置在测试箱顶部，导致工作人员操作不便。
分立器件自动化测试设备

[外观设计]电路板测试设备（XI810）-CN202030642112.3有效
发明人：赵坤岭 -专利权人： 上海谐振半导体科技有限公司
申请日： 2020-10-27 - 公布日： 2021-03-23 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：电路板测试设备（XI810）。2.本外观设计产品的用途：用于半导体电路板测试设备。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
电路板测试设备 xi810

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