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[发明专利]探测装置、X射线摄影系统及低功耗探测方法-CN202210146671.3在审
发明人：高鹏飞;黄翌敏;林言成 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2022-02-17 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种探测装置、X射线摄影系统及低功耗探测方法，所述探测装置至少包括：TFT面板、探测单元及电路板；所述TFT面板用于响应X射线并将X射线转换成电荷信号；所述探测单元用于检测探测区域内是否有被测对象；所述电路板连接所述探测单元的输出端，基于所述探测单元的输出信号控制所述TFT面板处于低功耗状态或正常工作状态。本发明的探测装置中探测单元在检测到被测对象时发出响应信号，使得探测装置进入曝光采集状态，在未检测到被测对象时，处于休眠不工作状态，减少了TFT面板的清空次数，减低了耗电量，从而增加了续航时间。
探测装置射线摄影系统功耗方法

[发明专利]影像诊断系统及影像风险处理方法-CN202210169485.1在审
发明人：齐松;尤伟 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2022-02-14 - 公布日： 2022-07-01 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：本发明提供一种影像诊断系统及影像风险处理方法，一种影像诊断系统，包括影像风险预警模块，识别经过处理的影像，并标注经过处理的影像风险区域；影像显示模块，连接所述影像风险预警模块的输出端，用于显示经过标注的影像。一种影像风险处理方法，包括步骤：通过所述影像风险预警模块标注存在处理动作的影像风险区域；通过所述影像显示模块将经过标注的影像显示出来。本发明的影像诊断系统中，通过设置影像风险预警模块，对影像风险自动识别和提示。
影像诊断系统风险处理方法

[发明专利]坏点检测方法、坏点校正方法及坏点处理系统-CN202210177241.8在审
发明人：齐松;宁海涛 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2022-02-25 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：本发明提供一种坏点检测方法、坏点校正方法及坏点处理系统，坏点检测方法包括以下步骤：S0：采集探测器在出厂之前的数据并制成数据库；其中，数据至少包括图像数据中的像素值或灰度值；S1：基于数据库搭建神经网络，进而训练生成第一坏点检测模型；S2：在探测器出厂之后采集图像时，利用第一坏点检测模型对采集的图像进行坏点检测，若图像中的像素点的像素值或灰度值异常时，则判断为坏点；其中，异常是指出现亮点、暗点或色点。本发明的坏点检测方法搭建了神经网络，通过神经网络深度学习来检测坏点，效率更高；避免了人工参数的调整，解决了现有坏点检测偏于主观、调参复杂、普适性差、鲁棒性差、流程繁琐、人力负担大等问题。
检测方法校正处理系统

[外观设计]平板探测器快拆把手-CN202130782468.1有效
发明人：江小亮;黄翌敏;林言成;高鹏飞;潘海东 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： 08-06 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：平板探测器快拆把手。2.本外观设计产品的用途：平板探测器快拆把手。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
平板探测器把手

[发明专利]图像处理方法、装置和设备-CN202011427594.6在审
发明人：董佳宾;黄磊 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2020-12-07 - 公布日： 2022-06-07 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种图像处理方法、装置和设备，所述方法包括：获得第一图像中每个像素点的第一灰度值以及所有像素点的第一灰度值均值；将所述第一灰度值均值输入预设拟合曲线中，得到第一阈值；分别获得所述第一图像中每个像素点的第一灰度值与其周围预设数量像素点的灰度值之间的第一差值；分别将每个所述像素点的第一差值与所述第一阈值进行比较，基于比较结果确定所述像素点的第二灰度值；基于每个所述像素点的第二灰度值，输出第二图像，其能够识别图像中的噪声点(例如随机噪点)，并对识别到的噪声点进行校正，而不会对图像中正常像素点进行校正，保留了图像细节部分，有利于降低图像模糊程度，提高图像质量。
图像处理方法装置设备

[发明专利]自动曝光控制系统及自动曝光控制方法-CN202011543485.0有效
发明人：黄翌敏;何承林 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明提供一种自动曝光控制系统及自动曝光控制方法，包括：计算机，通过路由器与平板探测器通讯；平板探测器，执行自动曝光控制及图像采集，并发送闸断控制信号及采集到的信息；高压控制器，与平板探测器通讯，基于闸断控制信号关闭高压发生装置；球管，基于高压发生装置发出的高压信号发出X射线。本发明采用无线方式传输闸断控制信号，应用场景不限；基于平板探测器的曝光辐照射野区域的曝光剂量检测实现自动曝光控制并实时统计或者预测曝光结束时的曝光剂量，结构简单、成本低，可有效避免线路延迟等问题造成的曝光剂量误差；同时采图周期短、操作复杂度低。
自动曝光控制系统控制方法

[发明专利]一种工业CT实验装置-CN202210073234.3在审
发明人：陶丰盛;张辉;王强 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2022-01-21 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： G01N23/046 文献下载
摘要：本发明提供一种工业CT实验装置，包括X射线产生结构、固定被检测物的固定转台结构和探测器结构；X射线产生结构包括球管、第一电机、第一传动机构和第一升降组件；第一传动机构将第一电机产生的动力传输给第一升降组件进行升降运动；球管与第一升降组件固定连接，球管跟随第一升降组件的升降运动而运动，球管发出X射线；探测器结构包括探测器平板、第二电机、第二传动机构和第二升降组件；第二传动机构将第二电机产生的动力传输给第二升降组件进行升降运动；探测器平板与第二升降组件固定连接，探测器平板跟随第二升降组件的升降运动而运动，球管发射X射线照射被检测物后被探测器结构接收。本发明的工业CT实验装置灵活性好、适用性强。
一种工业 ct 实验装置

[发明专利]一种边缘入射探测器及其制作方法-CN202210036573.4在审
发明人：翟琼华;韦小庆;罗宏德 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2022-01-11 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： H01L31/18 文献下载
摘要：本发明提供一种边缘入射探测器及其制作方法，该探测器包括半导体层、隔离层、第一电极层、导电层及第二电极层，其中，半导体层包括位于半导体层的背面表层的第一导电类型掺杂层及位于半导体层正面表层的多个第二导电类型体区，隔离层位于半导体层的上表面，且包括多个间隔设置的凹槽及位于凹槽底部并显露体区的第一开口，第一电极层位于隔离层的上表面及填充凹槽，并通过第一开口与体区电接触，导电层位于半导体层及隔离层的侧壁，并与掺杂层电接触，第二电极层位于半导体层的背面，且与掺杂层电接触。本发明通过于半导体层的侧壁设置与半导体层电接触的第一导电类型导电层，避免了设置保护环，减小了死区面积，提升了X射线的收集效率。
一种边缘入射探测器及其制作方法

[发明专利]自动曝光控制方法及系统-CN202011543513.9有效
发明人：黄翌敏;何承林 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2020-12-23 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：本发明提供一种自动曝光控制方法及系统，包括：待拍摄物体进入拍摄区域，对待拍摄物体进行图形采集并获取待拍摄部位的位置信息；基于待拍摄物体与平板探测器的相对位置，确定平板探测器的曝光辐照射野；选定平板探测器的曝光辐照射野，对待拍摄部位进行曝光，完成曝光后平板探测器触发图像采集。本发明通过视觉装置采集信息，计算分析得到辐照射野选择范围，降低了操作人员的主观影响，曝光辐照射野选择更加精准；基于曝光辐照射野区域的曝光剂量检测实现自动曝光控制，结构简单、成本低；通过算法预测曝光剂量，可有效避免曝光剂量误差，实现精准曝光控制，提高成像质量；在检测到曝光结束后立即自动采集图像，缩短了采图周期。
自动曝光控制方法系统

[发明专利]图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质-CN201911217313.1有效
发明人：杨俊越 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2019-12-03 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： H04N5/21 文献下载
摘要：本申请提供图像暗场漏电流的校正方法、装置、电子终端、存储介质，其包括：获取暗场漏电流随时间变化的关系数据；根据待校正亮场图像的曝光窗口时间数据以及所述暗场漏电流随时间变化的关系数据，计算所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据；基于所述待校正亮场图像所需校正的暗场漏电流数据，对所述待校正亮场图像进行图像校正。本发明旨在基于校正算法来消除暗场漏电流噪声对图像质量的影响，使校正前后的图像效果大为改善，而且本发明中的校正算法计算耗时短，能够满足实时上图要求。
图像暗场漏电校正方法装置电子终端存储介质

[发明专利]一种X射线双能谱探测线阵探测器-CN202111573569.3在审
发明人：方志强;王锋;黄翌敏;马扬喜 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2021-12-21 - 公布日： 2022-04-26 - 主分类号： G01T1/36 文献下载
摘要：本发明提供一种X射线双能谱探测线阵探测器，包括基板及分布于基板至少一侧的多个双能单元，多个双能单元在基板上的垂直投影排列成至少一行及至少两列，一双能单元包括呈两排两列田字形排布的四个子单元，子单元包括光电二极管层及闪烁体层，双能单元中的两个子单元为采用高能谱X射线吸收闪烁体层的高能单元，另外两个子单元为采用低能谱X射线吸收闪烁体层的低能单元。本发明通过双能单元中不同闪烁体材质来吸收、转换不同能谱段的X射线信号，以此来实现单源双能谱X射线探测，适用于多种类的异物检测或者缺陷检测，通过两种技术原理的信号探测，不但提升识别能力，也增强了图像的对比图。通过软硬件结合，可实现两种分辨率的切换。
一种射线双能谱探测探测器

[发明专利]一种残影校正系数自动获得方法-CN201810101689.5有效
发明人：吴鹏 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2018-02-01 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本发明提供一种残影校正系数自动获得方法，包括：获取校正模板和待校正图像；读取校正模板并做梯度运算，确定参考物图形的边缘；在参考物图形区域内选取若干像素点作为第一选区，在校正模板的参考物图形区域外选取相同数量的像素点作为第二选区，计算两个选区的区域灰度差值；读取一张待校正图像，计算待校正图像中与校正模板中第一选区及第二选区对应的第一选区及第二选区的区域灰度差值；将待校正图像上两选区灰度均值的差值与校正模板上两选区灰度均值的差值作比值，得到残影校正系数。本发明的残影校正系数自动获得方法利用算法手段计算残影系数，节省人力，提高残影测试的效率，保证计算结果的稳定性，利于后期分析拟合的准确性。
一种校正系数自动获得方法

[发明专利]一种CT扫描仪的机架稳定性评价方法和装置-CN202111546601.9在审
发明人：崔瀚飞;张辉 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2021-12-16 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明提供一种CT扫描仪的机架稳定性评价方法和装置，至少包括以下步骤：获取预设待测模体在M个机架角度下的投影图像；其中，M≥3；所述待测模体包括N个珠子，N个钢珠呈“一”字型排列；根据所述投影图像得到所述待测模体在每个机架角度下的投影坐标；根据每个钢珠在所有机架角度下的投影坐标得到有效钢珠的投影坐标；根据有效钢珠对应的所有机架角度对机架的稳定性进行评价。通过本发明不需要使用任何外界测量机械来对机架的运动稳定性进行验证从而降低成本，同时，采用该计算得到的机架角度更加准确，从而能够更准确的验证CT扫描仪的机械设计。
一种 ct 扫描仪机架稳定性评价方法装置

[发明专利]一种拼接式平板探测器及其制备方法-CN202111357258.3在审
发明人：罗宏德;金利波 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2021-11-16 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： H01L27/146 文献下载
摘要：本发明提供一种拼接式平板探测器及其制备方法，该拼接式平板探测器包括拼接式平板探测器基板及闪烁体层，其中，所述拼接式平板探测器基板包括多块拼接在一起的平板探测器基板及位于相邻所述平板探测器基板的拼接缝上方或拼接缝中的连接体；所述闪烁体层覆盖所述平板探测器基板的上表面及所述连接体的显露表面。本发明通过于平板探测器基板之间的所述拼接缝上方或者所述拼接缝中设置所述连接体，且所述连接体的材质与所述平板探测器基板的材质相同，实现了所述平板探测器基板的无缝拼接，消除了由所述拼接缝引起的所述闪烁体层的开裂及脱落的问题。
一种拼接平板探测器及其制备方法

[发明专利]口内无线探测器及探测方法-CN202111448046.6在审
发明人：樊华;林言成;马扬喜;黄翌敏 -专利权人： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请日： 2021-11-29 - 公布日： 2022-03-18 - 主分类号： A61B6/14 文献下载
摘要：本发明提供一种口内无线探测器及探测方法包括传感器部件，用于接收X射线并成像；手柄部件，与所述传感器部件可拆卸连接，通过信号接口给所述传感器部件供电、识别所述传感器部件并传输所述传感器部件采集到的图像。本发明的口内无线探测器传感器部件和手柄部件可拆卸更换，因此诊所只需要配备一个手柄部件，多个传感器部件可共用一个手柄部件，降低了诊所的使用成本。
无线探测器探测方法