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[发明专利]一种红外成像光谱仪-CN201610344238.5在审
发明人：叶小风;张智杰;赵坤;岳松;孙伟;王晨晟 -专利权人：湖北久之洋红外系统股份有限公司
申请日： 2016-05-23 - 公布日： 2016-09-14 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明公开了一种红外成像光谱仪，包括动镜驱动装置、激光干涉校准系统以及动镜控制电路；所述的动镜驱动装置包括支撑底座、步进电机、滚珠丝杆、交叉滚子导轨和滑块，滑块上设有动立体角锥棱镜；所述激光干涉校准系统包括激光器、反光镜、分束镜、补偿镜、1/8波片、直角反射镜、定立体角镜、偏振分束棱镜、激光探测器和1/2波片；所述的动镜控制电路包括控制器、作用于正交干涉信号的检测电路和与步进电机连接的驱动电路；本发明的系统负载能力强，能够驱动大体积立体角镜重负载运动，可满足不同的光谱分辨率及不同应用环境对动镜控制速度的不同要求。
一种红外成像光谱仪

[发明专利]变间隙法布里-珀罗干涉式长波红外双模光谱成像系统-CN201610268522.9在审
发明人：张芳;高教波;赵宇洁;吴江辉;王楠;孟合民;刘方;孙丹丹 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2016-04-27 - 公布日： 2016-08-03 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明提出一种变间隙法布里‑珀罗干涉式长波红外双模光谱成像系统，包括前端成像物镜、变间隙法布里‑珀罗干涉仪、中继镜、长波红外探测器和信号处理系统；法布里‑珀罗干涉仪由对称楔板和平行平板构成，形成的干涉腔的空气间隙渐变。该干涉仪相较于现有干涉仪，具有直线光路、体积紧凑的优点。搭载平台处于凝视状态时，通过在垂直于光轴方向平移干涉仪，获取视场内目标点在不同相位处干涉信息，对其傅里叶变换得到目标的光谱信息；搭载平台处于推扫模式时，干涉仪垂直于光轴对称放置，整个系统随着搭载平台对目标场景进行推扫，通过重排获取视场内目标点在不同相位处的干涉信息，对其傅里叶变换得到目标的光谱信息。
间隙法布里干涉长波红外双模光谱成像系统

[发明专利]一种迈克尔逊型光谱仪失调自动校准系统和方法-CN201610169726.7在审
发明人：袁亚飞;李晶 -专利权人：复旦大学
申请日： 2016-03-23 - 公布日： 2016-07-27 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明属于光学测量技术领域，具体为一种迈克尔逊型光谱仪失调自动校准系统和方法。本发明系统包括：光源、动镜、定镜、分束片、透镜、探测器、信号预处理模块、数据滤波采样模块、数据处理与算法控制模块、压电陶瓷驱动电路及二维定镜执行机构，整个系统采用模块化设计；本发明在定镜机构上采用线性压电陶瓷电机驱动方式，实现镜面在俯仰和水平方向上的两维可调节；采用闭环自动搜索控制方式，通过粗调节和精细调节两个闭环算法达到干涉失调的校准。本发明实现了失调校准调节的自动化和最优化，对高精密的光谱仪测量技术可靠性和准确性提供了自动化的校准技术方案。
一种迈克尔逊型光谱仪失调自动校准系统方法

[实用新型]傅立叶变换红外光谱仪-CN201521125376.1有效
发明人：万成富;赵朋辉;白志恒 -专利权人：天津中世沃克科技发展有限公司
申请日： 2015-12-29 - 公布日： 2016-07-06 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本实用新型属于检测仪器技术领域，尤其涉及一种傅立叶变换红外光谱仪，所述检测仓内设有下支撑杆，所述下支撑杆水平设置，所述下支撑杆上表面设有第一下支撑柱、第二下支撑柱，所述第一下支撑柱上表面设有第一下限位柱，所述第二下支撑柱上表面设有第二下限位柱，所述上盖下底面设有上支撑杆，所述上支撑杆下底面设有第一上支撑柱、第二上支撑柱，所述第一上支撑柱下底面设有第一上限位柱，所述第二上支撑柱下底面设有第二上限位柱，所述上支撑杆、下支撑杆之间设有集成电路板，所述集成电路板设有第一限位槽、第二限位槽，所述第一上限位柱、第一下限位柱位于第一限位槽内，所述第二上限位柱、第二下限位柱位于第二限位槽内。
傅立叶变换红外光谱仪

[实用新型]基于偏光板的傅里叶变换成像光谱仪-CN201520686409.3有效
发明人：刘志伟 -专利权人：刘志伟
申请日： 2015-08-28 - 公布日： 2016-06-08 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种基于偏光板的傅里叶变换成像光谱仪，基于偏光板的傅里叶变换成像光谱仪主要由前置望远物镜、准直镜、偏振板、傅里叶透镜以及二维焦平面探测器FPA组成，此外还包括大口径视场光栏。偏振板处于准直光路中。二维焦平面探测器FPA位于傅里叶透镜的焦平面上，且与视场光栏所处的平面共轭。视场光栏平面上任意一点发出的具有相同出射角度的光线都可以汇聚到FPA上的相同位置。本实用新型提供的基于偏光板的傅里叶变换成像光谱仪，能够获得高通量，并且可以使得干涉现象得到增强。
基于偏光傅里叶变换成像光谱仪

[发明专利]一种新型光谱仪-CN201610016589.3在审
发明人：蔡元学 -专利权人：天津纳正科技有限公司
申请日： 2016-01-12 - 公布日： 2016-05-04 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明属于光谱仪领域且公开了一种新型光谱仪，包括光谱仪内部、聚焦镜、阵列检测器、光栅、准直镜、光栅接头、入射光线、入射狭缝、干涉仪、光谱仪光学系统、光电传感器、外围处理器、数据采集卡、工控机处理平台、后台处理程序、反馈控制电路、反馈控制镜和折射光线，所述光线经过光栅接头到达准直镜折射到光栅折射到聚焦镜又折射到阵列检测器，所述光谱仪光学系统包括干涉仪和光电传感器，本发明通过改变光谱仪的光源具有了耗能少、重量轻、抗震性强、使用寿命长等特点，利用光焦度衡量像散大小，使得利用柱面镜校正像散时，其位置不受限制，可根据结构的需求任意摆放。成像光谱仪像面倾角的确定方法，实现了宽波段的像差校正。
一种新型光谱仪

[发明专利]基于频域分析的傅里叶光谱数据线性滤波处理方法-CN201510887218.8在审
发明人：刘舒扬;周涛;贾晓东;苏建忠 -专利权人：天津津航技术物理研究所
申请日： 2015-12-04 - 公布日： 2016-04-20 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于频域分析的傅里叶光谱数据线性滤波处理方法，属于光谱分析技术领域。本发明在进行数据预处理之后、非线性操作之前就进行频率滤波，避免了对干涉图进行傅里叶变换得到光谱图的数据处理流程中，补零和相位校正的过程所引入的非线性处理操作所引起的光谱数据发生错误的问题，从而提高了数据的准确性。
基于分析傅里叶光谱数据线性滤波处理方法

[发明专利]一种基于OMAP-L137的便携式静态傅里叶变换光谱仪-CN201410474187.9在审
发明人：陶建臣 -专利权人：陶建臣
申请日： 2014-09-18 - 公布日： 2016-04-13 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：一种基于OMAP-L137的便携式静态傅里叶变换光谱仪。本发明具有高性能、小体积、低功耗，小型化、智能以及便携式；而且能够进行大量数据的采集和复杂运算的处理。其中包括电源模块、温度控制模块、光谱数据采集模块、存储器扩展模块、人机交互模块、功能扩展模块和CPLD模块；温度控制模块内部设置有温控输出电路、电热外壳、温度外壳、温度传感器、AD7710，它们依次电连接；人机交互模块内部设置有AD7843和与起电连接的触摸屏控制器、LCD显示屏AT050TN22，温度控制模块和人机交互模块通过设置的SPI1接口模块与OMAP-137主控芯片电连接进行通信；光谱数据采集模块内部设置有光学系统线阵CCD、SPI0接口、ADSI178、OPA4348，它们依次电连接通过设置的SPI0接口与OMAP-137主控芯片进行通信。
一种基于 omap l137 便携式静态傅里叶变换光谱仪

[发明专利]一种适用于傅立叶变换光谱仪的光谱复原方法-CN201510982687.8在审
发明人：李建欣;沈燕;柏财勋;周建强 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2016-03-30 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明一种适用于傅立叶变换光谱仪的光谱复原方法，首先将傅立叶变换光谱仪采集到的干涉信号依次排列，构成光强矩阵，再根据光强矩阵构造变换矩阵，最后利用该变换矩阵与干涉光强矩阵相乘得到光谱强度数据。本发明可同时解决采样非线性与色散非线性情况下的干涉型光谱测量系统的光谱复原问题。
一种适用于傅立叶变换光谱仪光谱复原方法

[发明专利]高通量Sagnac干涉成像光谱装置-CN201510982600.7在审
发明人：李建欣;柏财勋;沈燕;周建强 -专利权人：南京理工大学
申请日： 2015-12-24 - 公布日： 2016-03-09 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明公开了一种高通量Sagnac干涉成像光谱装置，前置成像物镜、准直物镜、Sagnac干涉仪、半波片、组合检偏器、后置成像物镜和探测器；共光轴依次设置前置成像物镜、准直物镜和Sagnac干涉仪，上述光学元件所在的光轴为第一光轴；共光轴依次设置半波片、组合检偏器、后置成像物镜和探测器，上述部件所在的光轴为第二光轴，第一光轴和第二光轴垂直；经Sagnac干涉仪分出的光束进入半波片；所有光学元件相对于仪器底座平面同轴等高。本发明相比于传统的共光路干涉成像光谱系统，光通量由原来的不及50％提高到80％以上。干涉信息的叠加提高了系统信噪比，有利于提高光谱复原精度。
通量 sagnac 干涉成像光谱装置

[发明专利]一种干涉装置及包括该干涉装置的光谱仪-CN201510938628.0在审
发明人：敖小强;石磊 -专利权人：北京雪迪龙科技股份有限公司
申请日： 2015-12-15 - 公布日： 2016-03-09 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本申请公开了一种干涉装置及包括该干涉装置的光谱仪，该干涉装置包括：壳体；摆臂，所述摆臂通过枢轴可摆动地安装在所述壳体上，且所述摆臂包括固定在一起的第一臂体部和第二臂体部；第一立体角镜和第二立体角镜，所述第一立体角镜设置在所述第一臂体部，所述第二立体角镜设置在所述第二臂体部；分束镜，所述分束镜设置在所述第一立体角镜和第二立体角镜之间，所述分束镜将光线分成第一光束和第二光束，所述第一光束照射在所述第一立体角镜上，所述第二光束照射在所述第二立体角镜上，以使反射回的第一光束和第二光束产生干涉。如此设置本发明提供的干涉装置，其能够解决现有技术中干涉仪的平面镜倾斜无法校正的问题，进而能够避免非准直的问题。
一种干涉装置包括光谱仪

[发明专利]基于双平面直角反射镜的红外干涉成像光谱仪-CN201510662830.5在审
发明人：孟合民;高教波;赵宇洁;范喆;王楠;张茗璇;李宇;张磊;张芳 -专利权人：西安应用光学研究所
申请日： 2015-10-13 - 公布日： 2016-02-10 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明提出一种基于双平面直角反射镜的红外干涉成像光谱仪，包括旋转平台、分束器、第一直角反射镜、第二直角反射镜、成像物镜、面阵探测器、控制与信息处理模块；分束器、第一直角反射镜、第二直角反射镜、成像物镜、面阵探测器均安装在旋转平台上；控制与信息处理模块控制旋转平台和面阵探测器，并接收面阵探测器信号。本发明利用静态迈克尔逊干涉原理，其中一个直角反射镜在垂直光轴方向上的错位布置，实现光束的横向剪切分光。在推扫或转动扫描模式下完成空间和光谱信息“数据立方体”的获取。
基于平面直角反射红外干涉成像光谱仪

[发明专利]光谱仪-CN201410441990.2在审
发明人：安振基;林清隆;沈峰旗 -专利权人：群燿科技股份有限公司;照能科技股份有限公司
申请日： 2014-09-02 - 公布日： 2016-01-27 - 主分类号： G01J3/457 文献下载
摘要：本发明提供一种光谱仪，用以分析待测光。光谱仪包括分光单元、光检测器及处理单元。分光单元将待测光的不同的波长成分分解。光检测器检测被分解的待测光，以获得一光谱。处理单元电性连接至光检测器，且用以根据来自光检测器的光谱计算出光谱于特定波段中的光辐射量相对于光谱的总光辐射功率密度、总光辐射功率强度及总光辐射能量的至少其中之一的比例，其中所述特定波段是落在从红外光至紫外光的可见光与不可见光的波段内。
光谱仪

[实用新型]视场分割干涉成像光谱仪-CN201520637895.X有效
发明人：邹纯博;白清兰;李立波;胡炳樑;刘学斌;李思远 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2015-08-21 - 公布日： 2015-12-30 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本实用新型提供一种视场分割干涉成像光谱仪，包括望远物镜、视场分割棱镜、干涉仪一、干涉仪二、准直透镜一、准直透镜二、傅里叶变换透镜一和傅里叶变换透镜二，视场分割棱镜为尖角反射棱镜，其设置于望远物镜的像面处，视场分割棱镜的顶点位于望远物镜的光轴处；来自望远物镜的光线由视场分割棱镜的两个反射面反射为两路反射光线，分别通过准直透镜一和准直透镜二进入干涉仪一和干涉仪二；傅里叶变换透镜一和傅里叶变换透镜二设置在干涉仪一和干涉仪二的出射光的光路中。本实用新型形成的两个视场分别用于不同的光谱范围，光学系统视场利用率高，系统信噪比高。
视场分割干涉成像光谱仪

[发明专利]一种干涉仪定镜动态自校正的装置-CN201510260556.9在审
发明人：徐亮;冯明春;金岭;李胜;李相贤;刘文清;高闽光;刘建国 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2015-05-21 - 公布日： 2015-12-16 - 主分类号： G01J3/45 文献下载
摘要：本发明公开了一种干涉仪定镜动态自校正的装置，包括激光器、激光扩束器以及迈克尔逊干涉仪，迈克尔逊干涉仪包括相互垂直的动镜、定镜以及分束器，还包括位于干涉仪干涉平面上的探测器、控制器、音圈直线电机以及四个电磁驱动器，四个电磁驱动器安装在定镜正后方，呈对角线相互垂直分布，探测器将其探测到的相位误差反馈到四个电磁驱动器，四个电磁驱动器根据接收到的电流信号，分别产生推力和拉力实现对定镜的驱动控制，使之旋转来校正动镜在运动过程中产生的倾斜误差角，使定镜和动镜位置保持相互垂直。本发明提供一个快速、结构简单的定镜动态自校正倾斜装置，消除了对高精度机械轴承的依赖和光谱仪定期重复校正的需要。
一种干涉仪动态校正装置