[发明专利]等效电路的测量方法

权利要求书

1.一种等效电路的测量方法，其特征在于该等方法包括以下步骤：

步骤一：将输入电压输进待测系统，且测出反射信号，并将该反射信号分段为相隔的至少一均匀传输线区段与至少一集总元件区段；

步骤二：将第一段的反射信号及输入电压转换为入射波、反射波；

步骤三：均匀传输线区段的特征阻抗值可由传输线逐层萃取法得到，且得到其后相接的集总元件区段的入射波与反射波；

步骤四：将集总元件区段由入射波与反射波得到反射系数步阶响应；

步骤五：将该集总元件区段取得的步阶响应转换成电子电路；

步骤六：利用该集总元件区段的电子电路，求得进入下一区段的均匀传输线的入射波与反射波；

步骤七：重复步骤三至步骤六直到所有反射信号的区段拮取出特征阻抗值或电子电路。

2.如权利要求1所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步骤一所测出的反射信号需要经过校准的步骤。

3.如权利要求2所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述反射信号变化较小的区域可分割成均匀传输线的区域。

4.如权利要求3所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步骤五是先将取得的步阶响应，利用矩阵束法求出模态数，及对应余数及极点，再转换成电子电路。

5.如权利要求4所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步骤五是利用集总元件区段的转移矩阵，求得下一区段均匀传输线的入射波与反射波。

6.如权利要求5所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步阶响应是运用等效电路合成方法转换成电子电路。

7.如权利要求6所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步骤一的反射信号是由时域反射测量测出。

8.如权利要求7所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述模态数M及其余数的绝对值|b_i|，具有一适当的系数a，使得有下列的关系 | b M + 1 | < α · i = 1 M Max [ | b i | ] . ]]>

9.如权利要求8项所述的等效电路的测量方法，其中该系数a为0.1。

10.一种等效电路的测量方法，包括以下的步骤：

步骤一：将输入电压输进待测系统，且测出反射信号；

步骤二：将反射信号及输入电压转换为入射波、反射波；

步骤三：由入射波与反射波得到反射系数步阶响应，且利用矩阵束法求出模态数，及对应余数及极点；

步骤四：将求出的模态数，及对应余数及极点转换成电子电路。

11.如权利要求10所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步骤一所测出的反射信号需要经过校准的步骤。

12.如权利要求11所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步骤四是利用将模态数，及对应余数及极点转换成电子电路。

13.如权利要求12所述的等效电路的测量方法，其特征在于：所述步骤一的反射信号是由时域反射测量测出。