[发明专利]测定不同介质的折射系数的方法和装置无效

专利信息
申请号: 95194088.0 申请日: 1995-07-13
公开(公告)号: CN1049977C 公开(公告)日: 2000-03-01
发明(设计)人: 马蒂亚斯·劳;乌韦·基希纳 申请(专利权)人: 马蒂亚斯·劳;乌韦·基希纳
主分类号: G01N21/55 分类号: G01N21/55
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 余朦
地址: 联邦德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 测定 不同 介质 折射 系数 方法 装置
【权利要求书】:

1.把光束(5)耦合于一个对于该光束是透明的圆柱体中时,借助于表面等离子体谐振(SPR)引起的可检测到的物理、化学和生物量值的变化,确定各种不同介质的折射系数的方法,其特征在于耦合的光束(5)经过端面(2)的两个相互倾斜的部分表面(3,4),或至少是锥形的端面(2)的至少两次反射之后从圆柱体(1)的端面(2)返回到耦合和去耦合点,在至少一次反射过程中以光束(5)的波长以及α和/或β的倾斜角度激发表面等离子体谐振。

2.实施根据权利要求1的方法的装置,其特征在于:圆柱体(1)的端面(2)具有一个向圆柱体(1)的纵向轴线倾斜一个角度(α)的部分表面(3),为了利用表面等离子体谐振测量,所述部分表面(3)提供有一个其本身是已知的SPR-激发涂层或这类的涂层体系(6)。

3.如权利要求2所述的装置,其特征在于:还有一个倾斜一个角度(β)的部分表面(4)邻接于部分表面(3),所述部分表面(4)仅有反射作用或是同样提供有一个激发表面等离子体谐振的涂层(6)。

4.如权利要求3所述的装置,其特征在于:角度α和β之和为90。

5.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:倾斜部分表面(3,4)是结合在一起的部分锥形或部分截锥形的表面。

6.如权利要求3所述的装置,其特征在于:角度α和β等于30°。

7.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:角度α和β等于45°。

8.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:圆柱体(1)是一种在光纤或棒形透镜意义上的圆柱形光波导。

9.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:光束(5)可以经过一个外部的光学透镜(9),或一个与圆柱体(1)或一种光学体系形成整体的透镜(9)耦合和去耦合。

10.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:提供有一个极化滤波器以便排除TE-波分量。

11.如权利要求5所述的装置,其特征在于圆柱体(1)是一种在光纤或棒形透镜意义上的圆柱形光波导。

12.如权利要求11所述的装置,其特征在于:光束(5)可以经过一个外部的光学透镜(9),或一个与圆柱体(1)或一种光学体系形成整体的透镜(9)耦合和去耦合。

13.如权利要求12所述的装置,其特征在于:提供有一个极化滤波器以便排除TE-波分量。

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