[发明专利]测定不同介质的折射系数的方法和装置无效
| 申请号: | 95194088.0 | 申请日: | 1995-07-13 |
| 公开(公告)号: | CN1049977C | 公开(公告)日: | 2000-03-01 |
| 发明(设计)人: | 马蒂亚斯·劳;乌韦·基希纳 | 申请(专利权)人: | 马蒂亚斯·劳;乌韦·基希纳 |
| 主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余朦 |
| 地址: | 联邦德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测定 不同 介质 折射 系数 方法 装置 | ||
1.把光束(5)耦合于一个对于该光束是透明的圆柱体中时,借助于表面等离子体谐振(SPR)引起的可检测到的物理、化学和生物量值的变化,确定各种不同介质的折射系数的方法,其特征在于耦合的光束(5)经过端面(2)的两个相互倾斜的部分表面(3,4),或至少是锥形的端面(2)的至少两次反射之后从圆柱体(1)的端面(2)返回到耦合和去耦合点,在至少一次反射过程中以光束(5)的波长以及α和/或β的倾斜角度激发表面等离子体谐振。
2.实施根据权利要求1的方法的装置,其特征在于:圆柱体(1)的端面(2)具有一个向圆柱体(1)的纵向轴线倾斜一个角度(α)的部分表面(3),为了利用表面等离子体谐振测量,所述部分表面(3)提供有一个其本身是已知的SPR-激发涂层或这类的涂层体系(6)。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于:还有一个倾斜一个角度(β)的部分表面(4)邻接于部分表面(3),所述部分表面(4)仅有反射作用或是同样提供有一个激发表面等离子体谐振的涂层(6)。
4.如权利要求3所述的装置,其特征在于:角度α和β之和为90。
5.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:倾斜部分表面(3,4)是结合在一起的部分锥形或部分截锥形的表面。
6.如权利要求3所述的装置,其特征在于:角度α和β等于30°。
7.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:角度α和β等于45°。
8.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:圆柱体(1)是一种在光纤或棒形透镜意义上的圆柱形光波导。
9.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:光束(5)可以经过一个外部的光学透镜(9),或一个与圆柱体(1)或一种光学体系形成整体的透镜(9)耦合和去耦合。
10.如权利要求2至4中之一所述的装置,其特征在于:提供有一个极化滤波器以便排除TE-波分量。
11.如权利要求5所述的装置,其特征在于圆柱体(1)是一种在光纤或棒形透镜意义上的圆柱形光波导。
12.如权利要求11所述的装置,其特征在于:光束(5)可以经过一个外部的光学透镜(9),或一个与圆柱体(1)或一种光学体系形成整体的透镜(9)耦合和去耦合。
13.如权利要求12所述的装置,其特征在于:提供有一个极化滤波器以便排除TE-波分量。
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