[发明专利]光记录方法及光记录装置无效

专利信息
申请号: 95191262.3 申请日: 1995-09-20
公开(公告)号: CN1083132C 公开(公告)日: 2002-04-17
发明(设计)人: 久保田重夫;冈美智雄 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/095;G11B7/125
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯,叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 记录 方法 装置
【说明书】:

技术范围

发明涉及用激光在盘形光记录媒体上记录信号的光记录方法、采用该光记录方法的光记录装置、及利用该光记录装置记录信号的光记录媒体。

在盘形光记录媒体即所谓的光盘中,以往存在有作为追加记录型光盘或可逆型光盘的相变式光盘及光磁式光盘等。作为采用这些光盘的光记录装置中的记录用光源,已知有用于在光盘上记录信号并将已记录的信号擦除的半导体激光器。从该半导体激光器发射的激光可以聚焦成直径1μm以下的微小光点投射在光盘上。

在光盘中的再生专用型光盘方面,存在有用于读出CD并作为专用存储器使用的CD-ROM。该CD-ROM可大量复制。现在,对于象CD-ROM这样的可大量复制的再生专用型光盘,除声频等信息信号外,正在研究记录用于区分例如每个这类再生专用型光盘并识别例如是否是非法复制的光盘的识别信息。

可是,从上述半导体激光器射出的激光,波长为780nm,不能形成所谓的烧蚀,所以不可能得到其强度可将信号直接记录在上述再生专用型光盘上的激光输出功率。因而,当想要在再生专用型光盘上记录各自的固有识别信息时,采用一般的半导体激光器作为记录用光源不能将上述识别信息精细地记录在再生专用型光盘上。

因此,本发明鉴于上述实际情况提供有:一种能够在光记录媒体上记录各自的固有识别信息并能用读取记录在上述光记录媒体上的信息信号的光学传感器读出上述识别信息的光记录方法、采用该光记录方法的光记录装置、及利用该光记录装置记录附加信息的光记录媒体。

发明的公开

本发明的用于在光记录媒体上记录规定信息的光记录方法,包括产生并发射光记录媒体所吸收的波长的紫外激光的步骤;以及调制紫外激光的光束强度并将与在光记录媒体的信息记录区上记录的数据不同的附加信息记录在信息记录区以外的区域的步骤。

本发明的用于在光记录媒体上记录规定信息的光记录装置,具有产生并发射光记录媒体所吸收波长的紫外激光的激光源、调制从激光源发出的紫外激光的光束强度的调制装置、将来自调制装置的紫外激光的光束聚焦在上述光记录媒体上的光学装置、在光记录媒体上移动以决定聚焦在上述光记录媒体上的紫外激光束的光点位置的光点位置控制装置、及使光点对上述光记录媒体进行扫描的扫描装置,并且在信息记录区以外的区域记录与在光记录媒体的信息记录区上记录的数据不同的附加信息。

本发明的用于记录规定信息的光记录媒体,具有记录由声频数据、视频数据、或字符数据组成的主体信息的信息记录区以及记录与主体信息不同的附加信息的附加信息记录区,附加信息通过调制光记录媒体所吸收波长的紫外激光,记录在附加信息记录区。

本发明的特征在于:上述紫外激光的波长为190~370nm。

其特征还在于:上述紫外激光是由钕·钇铝石榴石(Nd:YAG)激光器、Nd:YVO4激光器、Nd:YLF激光器或Nd:YAP激光器产生4次谐波而发出的远紫外激光。

其特征还在于:上述紫外激光是由AlGaAs激光器或InGaAs激光器发出的激光。

其特征还在于:上述紫外激光是由Ar激光器或He-Cd激光器发出的激光。

其特征在于:上述附加信息是在光记录媒体上的固有识别信息。

其特征还在于:用预先记录形成的跟踪用导向模式将附加信息记录在光记录媒体上。

其特征在于:采用导向模式进行跟踪时,用波长与激光波长不同的光检测导向模式。

并且,在本发明中,在预先记录形成了跟踪用导向模式的光记录媒体的附加信息记录区上,一面根据导向模式利用波长与紫外激光波长不同的光进行跟踪,一面用紫外激光在光记录媒体上记录形成固有识别信息作为附加信息,从而能分别识别出被大量复制的光记录媒体。

附图的简要说明

图1是表示采用了本发明的光记录装置的具体结构框图。

图2是表示构成上述光记录装置的UV激光源的具体结构的图。

图3是光记录媒体的具体记录状态的表示图。

图4是表示采用了本发明的光记录再生装置的具体结构框图。

图5是在上述光记录再生装置中使用的FZP的主要部分断面形状的示意表示图。

图6是表示上述FZP的相位深度与衍射效率的关系的曲线图。

图7是表示上述FZP的象差修正前与修正后关系的曲线图。

图8是说明在上述光记录再生装置中物镜的非球面设定的示意图。

图9A、9B、9C、9D是表示上述光记录再生装置中用FZP校正后孔径数值为0.4的物镜在波长532nm下的残余波面象差的曲线图。

实施发明用的最佳形态

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