[发明专利]充电装置的磁性粒子,光电成象装置,处理盒及成象方法无效

专利信息
申请号: 95107687.6 申请日: 1995-06-22
公开(公告)号: CN1089171C 公开(公告)日: 2002-08-14
发明(设计)人: 久木元力;冈户谦次;会田修一;泷口刚 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G03G15/05 分类号: G03G15/05;G03G9/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王以平
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 充电 装置 磁性 粒子 光电 成象 处理 方法
【说明书】:

本发明涉及充电部件的磁性粒子,用于对光电成象光敏部件进行充电,并涉及使用该充电部件的光电成象装置、处理盒及图像形成方法。

迄今为止,已经公知了许多光电成象方法。在这些方法中,通过充电部件和图像曝光部件,在包括光导电材料的光敏部件上形成静电潜像,然后显影该潜像并用调色剂变为可见。并且所得到的调色图像被转印到转印接收物质上(如所希望的纸张)后,通过加热、加压等被固定,以得到一个复制品或或打印件。在清洁步骤,去除留在光敏部件上没有被转印的剩余调色剂。再重复上述步骤。

近来,开发出各种有机光电导物质,作为光电成象光敏部件的光电导物质,相应地,商业上实现了包括电荷产生层和电荷传输层的叠层的功能分离型的光敏部件,并用于复印机、打印机和传真设备等上。在这种光电成象装置中,常使用电晕放电设备作为充电装置,但存在着困难,如出现大量臭氧和去除这些臭氧需要过滤器,结果装置体积增大,运行成本升高。

作为解决这些困难的技术方案,开发出了一种使臭氧产生最少的充电方法,其中充电装置如刮板上的辊子贴近光敏部件表面,以在接触部分的接近处形成一窄缝,在此处出现符合Paschen定律的放电。在这期间,考虑到充电稳定性,最好使用采用充电辊的一个辊式充电系统作为充电装置。

通过充电部件向电荷接收部件放电,从而一旦电压超过一定阀值就开始充电实现了充电过程。例如,在充电辊临近光敏部件的情况下(其中光敏部件具有包括有机光电导体的0.25μm厚度的光敏层),在电压大于或等于640伏的情况下,光敏部件的表面电压开始增加,之后,按照倾斜度为1随施加电场成线性比例增长。下文,阀值电压定义为充电起始电压Vth。换句话,为了在光敏部件上得到一表面电压Vd,必须向充电辊施加一个较大的DC电压Vd+Vth。还有,充电辊的阻抗可能随相应的环境条件而变化,因此很难控制光敏部件的电压为一希望值。

因此,为了实现均匀地充电,建设使用这样一种DC+AC充电系统,如在日本公开专利申请(JP-A)63-149669中公开的那样,通过在希望的Vd直流电压上叠加一个至少具有2XVth峰—峰值电压的AC电压,得到一个向充电辊施加的电压。该目的是为了使用AC电压电势平稳的优点。并且电荷接收部件的电压被集中在AC电压的中间值Vd处,其中Vd很少受外界条件的改变的影响。

基于采用从充电部件向光敏部件或电荷接收部件放电的充电机制的充电方法中,仍然需要提供一个高于光敏部件表面电压的充电电压。还有,作为AC电场应用的结果,出现诸如充电部件和光敏部件振动、以及伴随该振动(下文称“AC充电噪音”)的噪音等新问题,并且由于放电,加速光敏部件表面的变形。

另一方面,公知一种图像形成方法,通过使用如在JP-A 61-57958中公开的导电的微粒,向具有导电保护膜的光敏部件充电。该日本文献说明了具有半导体保护膜(阻抗为107-1013Ω.cm)的光敏部件可以被均匀地充电,使用最大电阻率为1010Ω.cm的导电微粒,不会出现无规律及引起电荷注入到光敏层,从而实现了高质量图像的重现。按照这种方法,可能阻止在AC充电中存在的振动和噪音的问题,但是充电效率低。还有,由于光敏部件上的转印余留调色剂是被作为充电部件的导电颗粒所刮去的,调色剂附到充电部件上,从而充电特性可能改变。

还有,希望通过直接注入电荷,向光敏部件充电。

通过施加一电压至诸如充电辊、充电纤维刷或充电磁刷等的一个接触型充电部件,注入电荷至光敏部件的表面的所谓注入充电法,在Japan Hardcopy 92 Annual Paper Collection P.287,“Contact chargingPerformance by Using Electro conduction Roller”(在日本)中已有所报告。按照该方法,在黑暗中是介电的光敏部件,通过带有电压的低电阻率放电部件,要经历注入充电,从而这种方法实质上要求充电部件具有很低的电阻率,并且光电导—传递物质(如导电填充剂)要尽量地暴露于该表面。相应地,上述文章中描述了充电部件最好包括一个铝薄片或在高潮湿环境中具有非常低电阻率的一个离子—导电充电部件。根据我们的研究,能够实现电荷注入—光敏部件的充电部件的电阻率可能最大为1×103Ω.cm,在这之上,施加电压和充电电压间开始出现差别,从而充电电压的稳定性可能被削弱。

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