[发明专利]真空微电子器件制造中的无版光刻工艺无效

专利信息
申请号: 94118033.6 申请日: 1994-11-29
公开(公告)号: CN1044839C 公开(公告)日: 1999-08-25
发明(设计)人: 朱长纯;关辉;李天英;刘君华;陈海浪 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: H01J9/02 分类号: H01J9/02;H01J1/30
代理公司: 西安交通大学专利事务所 代理人: 贾玉健
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 真空 微电子 器件 制造 中的 光刻 工艺
【权利要求书】:

1.真空微电子器件制造中的无版光刻工艺,在已有阴极尖锥阵列的芯片表面淀积一层绝缘层,并在绝缘层上再蒸发一层栅金属层,使栅金属层按阴极尖锥形貌呈现凹凸不平的状态,其特征是,然后在金属层上涂一层光刻胶,彻底将栅金属凸起的部分埋入,使胶层表面光滑平整,接着整片无版曝光,并均匀地一层层剥离光刻胶使栅金属层中凸起的部分首先暴露出来,然后对露出的金属进行腐蚀,待露出阴极尖锥后,去胶即可。

2.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,用旋转蒸发气相淀积或溅射淀积一层金属薄膜,使该金属薄膜保持芯片表面原有的凹凸特点,此金属薄膜也可以是多层金属膜。

3.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,所涂的胶层至少要高于栅金属层凸起部分的最高点。

4.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,在阴极尖锥阵列表面制做栅极,该阴极尖锥阵列可以是硅锥阵列,也可以是其他半导体材料和金属材料制做的阴极尖锥阵列。

5.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,在已有的阴极尖锥阵列表面制造一层绝缘层,该绝缘层可以是二氧化硅层,氮化硅层,磷硅玻璃层或多层绝缘膜。

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