[发明专利]真空微电子器件制造中的无版光刻工艺无效
| 申请号: | 94118033.6 | 申请日: | 1994-11-29 | 
| 公开(公告)号: | CN1044839C | 公开(公告)日: | 1999-08-25 | 
| 发明(设计)人: | 朱长纯;关辉;李天英;刘君华;陈海浪 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 | 
| 主分类号: | H01J9/02 | 分类号: | H01J9/02;H01J1/30 | 
| 代理公司: | 西安交通大学专利事务所 | 代理人: | 贾玉健 | 
| 地址: | 710049*** | 国省代码: | 陕西;61 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 真空 微电子 器件 制造 中的 光刻 工艺 | ||
1.真空微电子器件制造中的无版光刻工艺,在已有阴极尖锥阵列的芯片表面淀积一层绝缘层,并在绝缘层上再蒸发一层栅金属层,使栅金属层按阴极尖锥形貌呈现凹凸不平的状态,其特征是,然后在金属层上涂一层光刻胶,彻底将栅金属凸起的部分埋入,使胶层表面光滑平整,接着整片无版曝光,并均匀地一层层剥离光刻胶使栅金属层中凸起的部分首先暴露出来,然后对露出的金属进行腐蚀,待露出阴极尖锥后,去胶即可。
2.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,用旋转蒸发气相淀积或溅射淀积一层金属薄膜,使该金属薄膜保持芯片表面原有的凹凸特点,此金属薄膜也可以是多层金属膜。
3.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,所涂的胶层至少要高于栅金属层凸起部分的最高点。
4.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,在阴极尖锥阵列表面制做栅极,该阴极尖锥阵列可以是硅锥阵列,也可以是其他半导体材料和金属材料制做的阴极尖锥阵列。
5.根据权利要求1所述的无版光刻工艺,其特征是,在已有的阴极尖锥阵列表面制造一层绝缘层,该绝缘层可以是二氧化硅层,氮化硅层,磷硅玻璃层或多层绝缘膜。
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