[发明专利]磁致电阻头和磁盘设备

说明书

本发明涉及一种磁致电阻头（MR头），或者更具体地说是涉及一种能够除去由于诸如当该MR头与磁记录介质相接触时出现的摩擦生热的温度变化而引起的MR头输出涨落（热涨落thermal  asperity）的MR头。

采用一个MR元件来进行再现的MR头，已经被建议用作增大磁盘的记录密度的装置。该MR元件的电阻随着磁场而变化，且它的再现（重放）灵敏度比传统的感应头高。在再现模式下，一个恒定的电流被加到该MR元件上，以检测电压改变时的电阻变化。该MR头上不能写入，因而在实际上与一个写入感应头结合在一起而作为一个MR-感应复合头（以下称为磁头或MR/IND头）。

如图5所示，该磁头可与介质直接接触，或通过由于盘上的突起部分或灰尘引起的灰尘而与介质间接接触。在接触点，摩擦生热造成了急剧的温度上升。在接触点位于MR元件附近的情况下，已知MR元件的电阻将随温度改变，从而造成输出涨落。该输出涨落被称为热涨落（thermal  asperity）。图7中显示了这种热涨落的一个例子。以此方式，热涨落72呈现为加在数据信号71上的形式。

在JP-A-2-154310和JP-A-2-54403中公布除去热涨落的传统技术。前者是通过以不同的方式配置两个MR元件，从而借助差分检测来除去热涨落。

在后一种方法中，从叠加有热涨落的检测信号检测出图7中的正包络线73和负包络线74;热涨落就是从这些包络线检测的。如此获得的热涨落被用于将热涨落从包含热涨落的信号中分离出来。

前一方法的问题，在于要求与两个MR元件对应的磁道宽度，因而在结构上难于减小磁道宽度。

后一方法虽然减小磁道宽度不受限制，但是其信号处理需要较长的时间，因而难于在预定的时间内读取磁道的地址信号并确定如此读出的地址是否是所要访问的地址。因此，一种可能的解决方案，是在一般状态下使用于除去热涨落的电路避免接通，但在当介质转过一圈之后检测到可能引起热涨落的数据误差时再使该电路接通，从而除去噪声。然而，这种方法不能进行实时处理，从而降低数据的流量。另外，在热涨落经历急剧变化或热涨落的频率接近信号频率的情况下，就不能获得正确的包络线。结果，输入信号不能得到完全的校正，从而经常造成数据误差。

本发明的目的，是提供一种MR头和一种磁盘设备，其中在不限制道宽度的情况下实时地除去了热涨落。

根据本发明，提供了一种磁致电阻头，它包括一个用于利用磁致电阻效应来检测磁场的磁致电阻元件、一个设置在该磁致电阻元件附近并用于检测与该磁致电阻元件的温度改变有关的信息的温度检测器、和用于输出该检测温度改变信息作为输出的装置。

考虑到该温度检测器被设置在磁致电阻元件的附近这一事实，温度检测器的温度基本上等于磁致电阻元件的温度。该温度检测器的电阻根据温度变化，且这种电阻改变与由于磁致电阻元件的温度改变引起的改变成比例。结果，通过适当放大温度检测器的输出和磁致电阻元件的输出，就可以获得这两个输出之间的差。以此方式，实现了一种温度补偿，以从磁致电阻元件的输出中消除温度改变的影响。

图1是电路图，用于解释根据本发明的MR头的温度补偿方法;

图2显示了根据本发明的一个实施例的MR头的结构;

图3显示了根据本发明的另一个实施例的MR头的结构;

图4显示了根据本发明的又一个实施例的MR头的结构;

图5用于解释磁头与盘接触的方式;

图6显示了一种盘设备的结构;

图7用于说明在产生了热涨落时获得的再现信号。

下面结合图1和2来说明本发明的一个实施例。

图2显示了根据本发明的一种磁头的结构的一个例子。为简单起见，只显示了与本发明有关的磁致电阻元件部分。该图未显示记录头，也未显示用于使MR元件7避免检测来自MR元件7所要读取的位以外的位的磁场的上屏蔽器等等。