[发明专利]磁共振成像装置无效
申请号: | 94108519.8 | 申请日: | 1994-07-22 |
公开(公告)号: | CN1115628A | 公开(公告)日: | 1996-01-31 |
发明(设计)人: | 安藤彰英 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | A61B5/055 | 分类号: | A61B5/055;G01R33/56 |
代理公司: | 上海专利商标事务所 | 代理人: | 竹民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 磁共振 成像 装置 | ||
1.一种磁共振成像装置,它根据由被检查者释放出、并由表面线圈接收到的核磁共振信号(NMR信号)得到局部图像,其特征在于,所述装置包括:
灵敏度分布鉴别装置,它通过从所得到局部图像的空间频率中析取出低频成分从而得到所述表面线圈的灵敏度分布数据;
校正系数计算装置,它由所述灵敏度分布数据中得到校正系数数据,当所述灵敏度分布数据接近于所述最小值时,所述校正系数数据取小于所述灵敏度分布数据之最小值的倒数的值,当所述灵敏度分布数据接近于所述最大值时,它取大致相应于所述灵敏度分布数据最大值之倒数的值;和
输出图像计算装置,它通过将所述校正系数数据加至所得到的局部图像,从而计算具有改善亮度的局部图像。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,通过在所得到的所述局部图像上进行平滑处理,并从所得到的所述局部图像之空间频率中析取出低频成分,可用所述灵敏度分布鉴别装置来得到所述表面线圈的所述灵敏度分布数据。
3.如权利要求1所述的装置,其特征在于,可通过在所得到的所述局部图像上进行快速付里时变换(FFT),使所述局部图像经过低通滤波器,并随后进行逆FFT从而由所得到的所述局部图像的空间频率中析取出低频成分,可用所述灵敏度分布鉴别装置得到所述表面线圈的所述灵敏度分布数据。
4.如权利要求2所述的装置,其特征在于,可用所述灵敏度分布鉴别装置在所得到的所述局部图像上进行最大滤波处理,其中相继地将所得到的所述局部图像中的所有像素视作从属像素,并用围绕所述每一所述像素的局部区域中像素的最大亮度来代替每一所述从属像素,并且将所述平滑过程作用于所述最大滤波过程的结果。
5.如权利要求3所述的装置,其特征在于,可用所述灵敏度分布鉴别装置在所得到的所述局部图像上进行最大滤波处理,其中,相继地将所得到的所述局部图像中所有的像素视作从属象素,且用围绕所述每一所述像素之局部区域中像素的最大亮度来代替每一所述从属像素,从而把快速付里叶变换作用于所述最大滤波过程的结果上,将所述局部图像加至所述低通滤波器,并随后进行所述逆快速付里叶变换。
6.如权利要求1所述的装置,其特征在于,根据加至所述校正系数计算装置的灵敏度分布数据、使用校正系数计算装置由下述等式得到校正系数数据β(x,y)(x,y)为所得到所述局部图像中每一像素在xy平面上的坐标,且α(x,y)被归一化至0至1的范围内):
β(x,y)=f(α(x,y))
f(α)=α2-3α+3
7.如权利要求1所述的装置,其特征在于,可用所述输出图像计算装置、通过计算亮度i(x,y)(x,y为所得到的所述局部图像中每一像素在xy平面上的坐标)和所述校正系数数据β(x,y)(x,y为得到的所述局部图像中每一像素在xy平面上的坐标)的乘积来确定输出图像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社岛津制作所,未经株式会社岛津制作所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/94108519.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。