[发明专利]显象管屏盘测试装置无效

专利信息
申请号: 94104683.4 申请日: 1994-04-27
公开(公告)号: CN1085885C 公开(公告)日: 2002-05-29
发明(设计)人: 咸充植;李浩成;金钟德 申请(专利权)人: 三星康宁株式会社
主分类号: H01J9/42 分类号: H01J9/42;G01B21/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 杨梧
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显象管 测试 装置
【说明书】:

发明是关于一种显象管屏盘测试装置,特别是关于一种能连续检验出有关屏盘的中心与边缘的各厚度、内表面曲率以及柱销在彩色显象管(CPT)中的位置与高度数据的屏盘测试装置。

彩色显象管包括屏盘、漏斗状玻壳和一个管颈部分,在屏盘内表面上涂敷着红、绿、蓝三色荧光点而形成荧光面,荫罩装置则安装在与荧光点相应的预定空间,柱销埋置并安装在屏盘内表面的预定位置以安装荫罩装置。

在彩色显象管中,各电子枪发射电子束,它们通过荫罩装置上的孔撞击在相应荧光面上的荧光点上,荧光面由于电子束而发光从而形成图象的象素。

因为彩色显象管的图象是通过屏盘的外表面而被看到的,所以屏盘的厚度和内表面的曲率会对图象的质量产生巨大的影响。此外,由于柱销决定着荫罩装置相对于电子束的位置关系,若荫罩不在其预定位置则不能产生高品质的图象。鉴于这些原因,需要在检验工序中对彩色显象管屏盘的规格进行严格的检验。

在检验工序中,通常通过测量屏盘边缘部分厚度、屏盘中心部分的厚度来对屏盘的规格进行检验与测量。线性可变差接变压器(LVDT)通常被用于测量彩色显象管屏盘的规格。LVDT是一种公知的装置,当它被设置在与被测物相接触的位置时能显示出感应电子信号,LVDT所显示的电子信号依LVDT与被测物间的距离而变化。相应地,操作人员可在不同部位安置许多LVDT来测量屏盘厚度以及屏盘内表面的曲率。

然而,要想用LVDT精确测量彩色显象管屏盘的规格至少需对屏盘测试三次,每次都需要操作人员参与以保证屏盘与LVDT的确定关系。从而,用LVDT测量屏盘规格是一种很费人力的操作,对每个屏盘都需要非常多的检验时间。

因此,需要设计一种彩色显象管的屏盘测试装置,它能连续自动地测量屏盘边缘与中心部分的厚度数据、屏盘内表面曲率和柱销位置数据,并可简化测试程序,缩短每个屏盘的测试时间,提高操作人员的工作效率并减少人工消耗。

因而本发明提供一种彩色显象管屏盘测试装置,它用于测量以通常方法制造的屏盘的内外表面曲率、柱销的埋置位置和屏盘中心表面的厚度。该屏盘测试装置包括:提升装置,用以在供给位置接收屏盘并将屏盘传送至测试位置;屏盘内曲率测量装置,它与许多曲率探测线性可变差接变压器相接触,在屏盘进入测试位置之后变压器则测量屏盘的内曲率;边缘测量装置,它借助于内外可变差接变压器分别与屏盘的内外表面接触而测出屏盘边缘部分的厚度;柱销调平装置,它用深度探测线性可变差接变压器测量屏盘中每个柱销的埋置深度,同时把埋置在屏盘上的多个柱销置于同一高度上;柱销位置测量装置,它用水平与垂直线性可变差接变压器测量柱销的水平和/或垂直位置;中心表面测量装置,包括一中心垂直线性可变差接变压器,该中心垂直线性可变差接变压器与屏盘的外部中心表面接触,屏盘中心表面的厚度由该中心垂直线性可变差接变压器的测量结果与垂直设置在屏盘中心的屏盘内表面曲率测试装置的线性可变差接变压器的测量数据而得出;以及多个导向器,用于引导屏盘升降使其分别置于该装置上和离开该装置。

以下,将结合附图对本发明作详细说明,附图中:

图1是根据本发明设计的屏盘测试装置结构的前视图;

图2是表示图1中的屏盘接收器与夹持器连接的局部放大视图;

图3是表示图1的屏盘内曲率测量装置结构的局部放大视图;

图4是图1的俯视图,用以表示与屏盘边缘测量相关的几个装置的安排的一个实施例;

图5是表示图4中边缘测量装置结构的局部放大剖视图;

图6是描绘柱销调平装置的局部放大视图;

图7A是表示图4中柱销位置测量装置的局部放大视图;

图7B是图7A的俯视图;

图7C是图7A的柱销位置测量装置的左视图;

图8是表示图7A中缓冲装置的放大剖视图;

图9是表示图4中所示的中心部分测量装置结构的侧视图;

图10是表示图4中的导向器的放大侧视图;

图11是表示适用于本发明的屏盘支承装置一个实施例的剖视图;

图12是本发明操作关系流程图;

图13是图9中边缘测量装置的另一实施例的侧视图;

图14表示与屏盘规格测试有关的通常测量部位;

图15是测量屏盘内表面曲率装置的传统实施例的前视图。

通常,在检测工序中彩色显象管屏盘的规格被严格地检验,检验方法是在屏盘每侧两点测量边缘部分厚度Et,在屏盘的屏面中心测量中心部分厚度C,如图14中所示。屏盘内表面曲率则通过测量距预定平面的中心部分高度Cr与绕中心的四点的高度Ar来进行检验。

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