[发明专利]用于波导系统的支架

说明书

本发明涉及一种用以测量磁控管特性的波导系统，该磁控管是微波振荡器。本发明具体涉及一种用于波导系统的支架，该波导系统能够测量多种不同尺寸的磁控管的特性。

用以作为一种常规的测量磁控管特性的波导系统，如图1A和1B所示，该波导系统包括：一个支架1；一个锥型波导2，其一端与支架1的一端密封连接；一个双插芯调谐器3，其一端与波导2的另一端密封连接；一个定向耦合器4，其一端与双插芯调谐器的另一端 密封连接；以及一个假负载5，耦合器4的另一端与假负载5密封连接。磁控管6与支架1耦连。波导2用来消除反射系数，该系数取决于微波传输路径的尺寸变化。此外，双插芯调谐器3用来任意选取微波的反射系数。定向耦合器4感测微波的输出特性。假负载5用来作为无反射的终端负载，使通过定向耦合器4的微波衰减，以将其消除。

使用上述结构的波导系统来测量磁控管的特性时，磁控管6的天线7耦连到支架1上。当电能施加于波导系统时支架1和负载之间阻抗取决于支架1的后部法兰8的纵向尺寸。磁控管6内产生的微波能量被传送到波导系统中。这时，为在基本无反射波存在的条件下测出磁控管的特性，支架1与天线7(亦即磁控管6的输出单元)之间耦合度应该适当限定，以保持阻抗匹配。

标准的支架和磁控管耦合的状态示于图2A。若磁控管的天线7的高度约为29-32mm，则能够将磁控管6a耦合到标准发射器1a上，如图2A所示，并能够容易地测量磁控管的特性。然而，若天线7的高度为20mm，则不能得到上述的耦合度，因而不能保持阻抗匹配条件，也不能测量磁控管的特性。为此，必须为20mm天线的磁控管6b配备一种专用波导系统，如图2B所示。这样的专用波导系统能够被有效地用于实验室级别的测量，但对于大批量的测量，用这种专用波导系统时，则测量的总费用相当地高，因为更换支架和锥型波导需要大量的时间，并且在安装附加的专用系统时有困难。

为此，本发明的一个目的是克服现有技术中存在的缺点，提出一种波导系统的支架，以能够测量不同尺寸的磁控管的特性。

按照本发明的一个方面，本发明提供一种波导系统的支架，它包括：一个支架主体；一个小孔，形成在支架体的一个端部；一个控制板，有选择性地与小孔耦连；和一个密封板。该密封板适合用来控制支架主体与可分离地与支架主体耦接的磁控管之间的耦合状态，以实现阻抗匹配，从而能够测量两种具有不同天线尺寸的磁控管中的任一种磁控管的特性，并且在密封板未与小孔耦接时，将密封板与小孔耦接，测量另一种磁控管的特性和自适应密封该小孔。

按照本发明的另一方面，本发明提供一种波导支架，它包括：一个支架主体；在支架主体的侧部上分别钻出的多个小孔；以及分别插入这些小孔中的多个控制部件。

下面结合附图说明本发明的实施例，从中将会看出本发明的其它目的和其它方面。

图1A和1B分别是传统的波导系统的前视图和俯视图，图中磁控管已耦连到波导系统；

图2A是耦连到一种公知磁控管(该磁控管的天线高度为29-32mm)的一种标准支架的前视图。

图2B是耦连到一种公知磁控管(该磁控管的天线高度为20mm)的一种专用支架的前视图。

图3A和3B示出本发明的一个实施例的支架在使用状况时的前视图。

图4A到4C示出支架与其相耦连的耦合度控制装置的各部分透视图，其中，图4A示出支架，图4B示出密封板，图4C表示密封板。

图5A到5C分别示出本发明的另一个实施例的支架、密封板和密封板的透视图。

图6示出本发明的又一个实施例的支架和耦合度控制装置之间的耦合状况的透视图。

参照图3A到图6，这些图示出了带有本发明的支架的波导系统。图3A和3B示出本发明一个实施例的支架的使用状况以及可分离地接插到支架上的构件的前视图。图4A到4C分别示出支架和与其相耦合的耦合度控制装置各部件的透视图。

如图所示，支架包括一个支架主体1和耦合度控制装置10，支架主体1适合于测量磁控管的特性，测量时，将磁控管插入支架主体1中；耦合度控制装置10适合于控制支架主体1与可分离地插入其中的磁控管之间的耦合度，从而能够测量两种不同天线尺寸的磁控管的特性。如图3A和3B所示，两种磁控管为：第一磁控管6a，其天线7a的高度为29-32mm；及第二磁控管6b，其天线7b的高度为20mm。