[发明专利]干涉法折射率测定仪

权利要求书

1、一种用光学干涉方法测定透明材料折射率绝对值的光学测量方法，其特征在于运用一个用同光路干涉模式工作的干涉仪，将具有一对平行通光平面的待测样品置于干涉仪光路的一臂中，将样品从与光线垂直位置算起转动一个精密测定的转角θ，并精密测定在样品转过θ角过程中干涉条纹的移动数K，从而通过已知的样品厚度t及干涉仪工作所用的单色相干光的波长λ，利用下式

N= ［2t2(1-COS θ )-Kλt(1-COSθ)+1/4K2λ2 ］［2t2(1-COS θ )-Kλt ］ ]]>

算出待测的材料折射率n。

2、根据权利要求1的方法进行透明材料折射率测定的装置，其特征在于所述装置主要是由一个运用同光路干涉模式设计制成的干涉仪以及能够精密测量在其光路的一臂中放置在样品转台上的具有一对平行通光平面的待测样品转动角度的测角部件和精密测量由于样品转动而造成的干涉条纹移动的移动数的部件所构成。

3、如权利要求2所述的装置，其特征在于同光路干涉模式干涉仪是一台改进了的迈克尔逊干涉仪，其改进之处就是将原来互相垂直的二干涉光路通过一个与分束器做在一起的一块45°全反射棱镜而变成相互平行，这二路平行光又通过一块可以微调的反射镜-而不是像经典的迈克尔逊干涉仪通过二块互相垂直的反光镜-反射回来进行干涉，从而形成十分稳定的干涉条纹。

4、如权利要求2所述的装置，其特征在于在干涉仪的一臂中置有一个光程补偿器，其目的是让干涉仪的二臂光程相差尽可能地减小。

5、如权利要求2年述的装置，其特征在于当发明用于测定各向异性的晶体折射率时所用的光为可以改变偏振方向的线偏振相干光。

6、根据权利要求2所述的装置的另一种用途：测量连续激光如染料激光器的激光或半导体激光器的激光的波长，其特征在于在样品转台上放置一块已知厚度t及已知折射率n的具有一对平行通光平面的透明材料，转动样品一个θ角，测定干涉条纹移动数K，将t，n，k，θ代入权利要求1中的同一公式中，就能方便的求出激光波长λ。