[发明专利]形成阈值开关器件的方法无效

专利信息
申请号: 92103131.9 申请日: 1992-04-30
公开(公告)号: CN1029652C 公开(公告)日: 1995-08-30
发明(设计)人: 凯瑟·威托恩·米歇尔;尤多·C·湃尔尼兹 申请(专利权)人: 埃克森化学专利公司
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L21/314
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 姜华
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 形成 阈值 开关 器件 方法
【权利要求书】:

1、一种形成具有负微分电阻特性的阈值开关器件的方法,其特征在于包括通过将从硅倍半噁烷树脂获得的非致密的二氧化硅膜淀积在至少两个电极之间,并且在电极之间施加一个高于阈值电压的电压从而形成器件的步骤。

2、权利要求1的方法,其特征在于淀积二氧化硅膜通过以下步骤进行:用含有溶剂和硅倍半噁烷树脂的溶液涂敷基片,蒸发溶剂形成一预涂陶瓷层,然后热分解该预涂陶瓷层。

3、权利要求1的方法,其特征在于包括通过将由二氧化硅和一种或多种改性陶瓷氧化物组成的非致密的膜淀积在至少两个电极之间,并且在电极之间施加一个高于阈值电压的电压从而形成器件的步骤,其中二氧化硅和改性陶瓷氧化物膜是从硅倍半噁烷树脂和改性陶瓷氧化物前体得到的。

4、权利要求3的方法,其特征在于淀积膜通过以下步骤进行:用含有溶剂、硅倍半噁烷树脂和改性陶瓷氧化物前体的溶液涂敷基片,蒸发溶剂形成一预涂陶瓷层,然后热分解该预涂陶瓷层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于埃克森化学专利公司,未经埃克森化学专利公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/92103131.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top